Va de Retro DRAM tester v1.06x [Guía de montaje, de desempaque, manual,...]

Proyectos de hardware con sus esquemáticos y si llevan software en fuente

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Reglas del Foro
Aquí solo tienen cabida proyectos de hardware que incluyan siempre al menos sus esquemáticos para poder reproducirlos si llevan componentes electrónicos, y si es posible los ficheros del programa en que se hacen, los diseños de las placas, los gerber, etc. Si llevan algún tipo de software asociado debe estar diponible el código fuente

Para los que no cumplen estas condiciones se debe postear en el foro de proyectos generales.
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Va de Retro DRAM tester v1.06x [Guía de montaje, de desempaque, manual,...]

Mensaje por cacharreo »

Aviso importante
Sentimos informaros que lamentablemente hemos encontrado falsos transistores MOSFET entre los distribuidos en los kits. Por favor, leed este texto cuanto antes para confirmar si disponéis de los BS250 genuinos o no antes de soldarlos. Gracias.
Los testers que se solicitaron montados no están afectados porque salen completamente probados.

Saltar directamente a...Guía de montaje para el juego de cables J3'Guía rápida de ajuste del testerEjemplos de usoGuía rápida de resolución de problemasTabla de búsqueda de testsGuía de referencia rápida (manual)
• Desempaque y puesta en marcha de los testers montadosReacciones a estas guías
Este es un tutorial para el montaje de la v1.06x del VdR DRAM tester siguiendo la lista de componentes (BOM) recomendada.

1) Una vez limpiada la placa con alcohol isopropílico, comenzamos soldando las resistencias R0, R4, R6, R8, R01, R08, R1, R2, R3, R5 y R7.

Imagen

2) Continuamos soldando los diodos zener (Z0 y Z01-Z19) teniendo especial atención a su orientación/polaridad.

Imagen

3) Soldamos el fusible F0 de 6V 250mA pero no sin antes comprobar su serigrafía (025) para evitar confusiones (con los fusibles de 30mA o con el condensador cerámico de 100nF).

Imagen
Imagen

4) Comprobamos la serigrafía (003) de los fusibles de 30mA (F01-F19) para evitar confundirlos con el condensador cerámico de 100nF, y los soldamos.

Imagen
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5) La serigrafía del condensador cerámico de 100nF (C3) muestra la inscripción 104, una vez comprobada lo soldamos.

Imagen
Imagen

6) Soldamos el transistor MOSFET (Q0) IRFU5410.

Imagen

7) Antes de continuar vamos a comprobar si el transistor MOSFET Q01 con referencia BS250 es genuino o remarcado para así evitar tener que desoldarlo y sustituirlo.

Un BS250 genuino presenta esta serigrafía,

Imagen Imagen

o esta otra:

Imagen Imagen

y utilizando un comprobador de transistores (TC1, LC1, T4, T7, MTT-V1,...) ofrecerá esta información:

Imagen

Por contra un BS250 remarcado (que posiblemente sea en realidad un transistor PNP BJT S9015) tiene esta serigrafía,

Imagen Imagen

y puesto en el comprobador de transistores mostrará esta información:

Imagen

Importante: Si en alguno de los kits encontráis uno de estos BS250 remarcados, por favor enviadnos un mensaje privado a @Rebobinando o a @cacharreo a la mayor brevedad. Para cualquier duda también podéis contestar en este tema o contactarme por mensaje privado, como prefiráis.

Una vez comprobado que el BS250 (Q01) es genuino lo soldamos en la parte superior de la placa (a la izquierda de R01) y después el 2N7000 (Q08) situado en la parte central de la placa (a la izquierda de R08). Es recomendable comprobar dos veces la serigrafía de ambos transistores antes de soldarlos porque más de una vez ha ocurrido que se han cambiado uno por otro.

Imagen

según el número de revisión de la placa estos transistores pueden tener una de estas dos formas:

Imagen

para el formato de la izquierda en la imagen (inline), se recomienda utilizar un soldador de punta fina, estaño de 0.3mm a 0.5mm y/o flux. Si no es posible, con flux es suficiente para lidiar con estas distancias entre los pads.

8) Continuamos soldando el zócalo DIP-8 (para U3).

Imagen

9) Soldamos los tres condensadores electrolíticos, C4, C2 y C1, respetando la polaridad indicada tanto en el cuerpo de cada condensador como en la placa.

Imagen

10) Seguimos con la soldadura de los pulsadores SW1-SW4. Antes de soldar hay que asegurarse que las patas de plástico que están bajo cada pulsador están en perfecto contacto con la placa, para evitar que queden soldados inclinados.

Imagen

11) Preparamos la tira de pines 1x04 para J3 extrayendo (p.e. con unos alicates) el tercero de los pines y soldamos las tiras de pines para J1, J1', J2, J3, JP6 y J4.

Independientemente de la versión de la placa, después se suelda la tira de pines 1x02 macho JP5 de forma que su pin más a la derecha coincida con el agujero para el pin más a la derecha en la placa. Dicho de otro modo, en caso de que nos sobre un agujero en la placa, éste quedará a la izquierda, es decir, en la placa solo consideramos los dos agujeros de JP5 más a la derecha.

Imagen Imagen

Pasamos a soldar J1 teniendo en cuenta que debe quedar alineado lo más arriba posible porque el último pin, serigrafiado con DTR, no lo utilizaremos.

Imagen

12) Se sueldan las dos tiras de agujeros redondos 1x15 (J5) que servirán de zócalo para el Nano.

Preparamos las tiras de pines 1x05 que servirán de soporte al módulo HW-668, extrayendo uno a uno todos los pines excepto el primero y el último. Una vez listas, las soldamos como se ve en la siguiente foto.

Imagen

13) Soldamos el conmutador SW0, el único componente cuyas soldaduras quedan en la parte superior de la placa.

Imagen
Imagen

14) Se suelda el zócalo ZIF de 20 pines (U2).

Imagen

15) Instalamos el conversor DC-DC (HW-668) en la placa, soldándolo a los 4 pines preparados al efecto y cortando el exceso. La orientación es la que se muestra en la fotografía, con el potenciómetro azul hacia la zona interior de la placa.

Imagen

16) Vista de la cara inferior de la placa después de ser limpiada con alcohol isopropílico y un cepillo (p.e. uno de dientes) para eliminar los restos de flux.

Imagen

17) Instalamos el LMC7660 (U3) en su zócalo y procedemos a ubicar en sus respectivos agujeros los tornillos (S1) y espaciadores M3 (S2). Bajo el área de la pantalla OLED, en las cercanías de J1', el espaciador M3 de 10mm. (S2) queda, como todos los demás, en la cara inferior de la placa. A él atornillamos el espaciador M3 de 8mm. con rosca (S3) y sobre este último va el último tornillo (S1) que ajustaremos para que sirva de soporte a la pantalla OLED.

Colocamos los puentes para J2 (pines 1-2), para JP6 (EXT, pines 1-2) y para JP5 (los dos pines más a la derecha).

Imagen

18) Añadimos las tapas rojas a cada uno de los pulsadores, instalamos la pantalla OLED y el Nano en sus respectivos zócalos y, una vez conectado el juego de cables J3' en J3, el aspecto final debe ser muy parecido a éste.

Imagen

Nota: Un orden de montaje alternativo sería:
- Resistencias de 330Ω
- Resistencias de 10kΩ
- Resistencias de 20kΩ
- Diodos zener
- MOSFET IRFU5410
- Fusible PPTC 6V 250mA
- Fusibles PPTC 6V 30mA
- Condensadores de 100nF
- Zócalo DIP-8
- MOSFET BS250 y 2N7000
- Pulsadores de la botonera
- Condensadores electrolíticos por orden de altura
- Tiras de pines
- Zócalo ZIF
- Módulo HW-668
- Limpieza del flux de la cara inferior
- Conmutador SERIAL (SW0)
- Limpieza del flux de la cara superior (SW0 e IRFU5410)
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Re: Va de Retro DRAM tester v1.06x [Guía de montaje para el juego de cables J3']

Mensaje por cacharreo »

Vamos a montar de una forma rápida y sencilla el juego de cables J3', es decir, el grupo de cables que conexionarán los pines de alimentación entre los conectores J3 y J4.

1) Separamos los cables DuPont hembra-hembra de 10cm. que se han recibido y seleccionamos el blanco, el rojo y el amarillo.

Imagen

2) Les quitamos las carcasas (housing) 1x01 de uno de sus extremos, para lo que empujamos el cable al fondo e introducimos la punta de un destornillador plano de pequeñas dimensiones en el hueco que queda entre el conector metálico y la carcasa de plástico para hacer palanca en la lengüeta, levantarla y extraer el conector tirando del cable.

Imagen

3) Introducimos a fondo los cables con sus conectores en la carcasa 1x04 en el orden que se muestra en la fotografía teniendo precaución de que el hueco en los conectores metálicos donde encaja la lengüeta quede hacia arriba,

Imagen

y comprobamos que los cables quedan bloqueados con sus respectivas lengüetas.

4) Tomamos el cable extra (el que no es blanco, ni rojo, ni amarillo) que hemos recibido, y

Imagen

5) le quitamos su carcasa.

Imagen

6) Agarramos fuertemente el cable por un lado y el conector por otro, tiramos del cable de forma brusca y nos quedamos con el conector suelto sin cable.

Imagen

7) Soldamos la punta para que entre estaño bloqueando el agujero unos 2mm.

Imagen

8) Introducimos a fondo este conector bloqueado en el hueco libre de la carcasa 1x04.

Imagen

9) Y ya tenemos listo el cable J3' para el conector J3 del tester.

Imagen
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Re: Va de Retro DRAM tester v1.06x [Guía de montaje] [Ajuste]

Mensaje por cacharreo »

Importante: Esta guía de ajuste se facilita para los kits. Los que recibisteis tester montados os llegaron perfectamente ajustados.

Antes de poder comprobar memorias DRAM debemos realizar unas comprobaciones y unos ajustes sobre el tester.

Partimos del tester con todos sus componentes instalados excepto la pantalla OLED,

1) Comprobación de los +5V

Con el multímetro en la posición para medir tensión contínua (DCV), conectamos la punta de prueba positiva (roja) al pin 2 de J3 (+5V) y la punta negativa (negra) al pin 3 de J2 (GND). Encendemos el tester conectando el ordenador, cargador, etc. al puerto USB del Nano y debemos leer en la pantalla del multímetro un valor aproximado de +5V (entre +4.4VDC y +4.9VDC).

Imagen

2) Comprobación de los -5V

Desconectamos el cable USB del Nano del tester para apagarlo.

Con el multímetro en la posición para medir tensión contínua (DCV), conectamos la punta de prueba positiva (roja) al pin 1 de J3 (-5V) y la punta negativa (negra) al pin 3 de J2 (GND). Encendemos el tester conectando el ordenador, cargador, etc. al puerto USB del Nano y debemos leer en la pantalla del multímetro un valor aproximado de -5V (entre +-4.4VDC y -4.9VDC).

Imagen

3) Ajuste y comprobación de los +12V

Desconectamos el cable USB del Nano del tester, con el multímetro en la posición para medir tensión contínua (DCV), conectamos la punta de prueba positiva (roja) al pin 4 de J3 (+12V) y la punta negativa (negra) al pin 3 de J2 (GND). Encendemos el tester conectando el ordenador, cargador, etc. al puerto USB del Nano y giramos (normalmente en sentido antihorario) el tornillo del potenciómetro R2 del conversor DC-DC (HW-668) hasta que leamos en la pantalla del multímetro un valor aproximado de +12.00VDC.

Imagen
(click para ampliar)

Como se ve en el vídeo, una vez se superan los +12V se gira en el sentido contrario hasta realizar el ajuste fino a +12.00V.

Nota: Estos potenciómetros (trimmers) tienen entre 25 y 50 vueltas por lo que si lo hemos recibido ajustado completamente a la derecha, es posible que haya que dar muchas y muchas vueltas en sentido contrario hasta alcanzar los +12V. Avisamos para que no os coja de sorpresa porque es posible que sean necesarias unas 12 vueltas completas en sentido antihorario antes de que la tensión en el multímetro acuse algún cambio. ;)

Información adicional: El consumo en vacío del tester nada más arrancar debe rondar los 20-30mA y durante el uso puede subir a los 40-50mA. Cualquier consumo por encima de estos valores puede suponer un problema en el tester o en la memoria que se está comprobando.
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Va de Retro DRAM tester v1.06x [Guía de montaje][Ejemplos de uso]

Mensaje por cacharreo »

Test de una memoria DRAM TMS4116-20NL

1) Encendemos el tester con el zócalo ZIF abierto (palanca a 90º respecto a la placa), JP5 y J4 en vacío.
2) Seleccionamos con los botones de las flechas(◀ ▶), el test 4116 y pulsamos el botón OK(✓).
3) Al entrar en el test se nos sugiere el cableado entre J3 y J4, es decir,
cable blanco en el pin 1 de J4,
cable rojo en el pin 13 de J4, y
cable amarillo en el pin 8 de J4.
4) Situamos la memoria en el zócalo ZIF (en la posición más alta posible) (pin 1 del chip en el pin 1 del ZIF).
5) Cerramos la palanca del zócalo ZIF.
6) Colocamos el puente en los pines más a la derecha de JP5.
7) Confirmamos con el botón OK(✓).
8) La memoria pasa el test con éxito.

Imagen
(click para ampliar)

Test de una memoria DRAM MCM4517P-15

1) Encendemos el tester con el zócalo ZIF abierto (palanca a 90º respecto a la placa), JP5 y J4 en vacío.
2) Seleccionamos con los botones de las flechas(◀ ▶), el test 4516 y pulsamos el botón OK(✓).
3) Al entrar en el test se nos sugiere el cableado entre J3 y J4, es decir,
cable blanco desconectado,
cable rojo en el pin 8 de J4, y
cable amarillo desconectado.
4) Situamos la memoria en el zócalo ZIF (en la posición más alta posible) (pin 1 del chip en el pin 1 del ZIF).
5) Cerramos la palanca del zócalo ZIF.
6) Colocamos el puente en los pines más a la derecha de JP5.
7) Confirmamos con el botón OK(✓).
8) La memoria pasa el test con éxito.

Imagen
(click para ampliar)

Test de una memoria DRAM MN41256A-08

1) Encendemos el tester con el zócalo ZIF abierto (palanca a 90º respecto a la placa), JP5 y J4 en vacío.
2) Seleccionamos con los botones de las flechas(◀ ▶), el test 41256 y pulsamos el botón OK(✓).
3) Al entrar en el test se nos sugiere el cableado entre J3 y J4, es decir,
cable blanco desconectado,
cable rojo en el pin 8 de J4, y
cable amarillo desconectado.
4) Situamos la memoria en el zócalo ZIF (en la posición más alta posible) (pin 1 del chip en el pin 1 del ZIF).
5) Cerramos la palanca del zócalo ZIF.
6) Colocamos el puente en los pines más a la derecha de JP5.
7) Confirmamos con el botón OK(✓).
8) La memoria pasa el test con éxito.

Imagen
(click para ampliar)

Os recuerdo además que si el botón OK(✓) se pulsa 1.5 segundos (en lugar de una pulsación corta), los tests se realizan en bucle también conocido como modo continuo, soak,...
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Va de Retro DRAM tester v1.06x [Guía de resolución de problemas]

Mensaje por cacharreo »

Este es un guión para la resolución de problemas comunes con el ensamblaje y prueba del tester.

Problemas eléctricos

Los botones no hacen nada

- Falta el puente entre los pines 1 y 2 de J2.
- El pulsador está desconectado de la línea VCC o en corto.
- El pin 18 del Nano está en corto o desconectado de VCC.
- Las tensiones en el convertidor digital-analógico (DAC) no son correctas. Revisar las resistencias de cada botón confirmando sus valores.

Se escucha un zumbido agudo

- El pin 3 de J3 está en corto con tierra, un pin digital,...
- El módulo HW-668 tiene un corto o un contacto que debe ser revisado y eliminado.

Problemas NO eléctricos

Resulta muy difícil conseguir una pulsación larga

- El tester no tiene buen apoyo.
- El pulsador montado es inestable y rebota.
- Si se dispone de ella, comprobar con una botonera externa.
- Cambiar el pulsador.

Todos los tests fallan con memorias en buen estado

- Falta el puente en JP5 y/o JP6.
- Cables de J3 a J4 desconectados o con holgura.
- Alimentación insuficiente (p.e. +5V por debajo de los +4.38V).
- Fallo en las tensiones suministradas en J3.
- Corto.
- Defectos en el zócalo ZIF.
- Problemas de contacto en el zócalo del LMC7660 (especialmente con 4108, 4116 y compatibles).
- Fallos en las pistas que interconectan los pines digitales del Nano y el zócalo ZIF que deberán ser revisados.
- Pines del Nano partidos.

Con sus correspondientes DRAM los tests 4108, 4116, 4164, 4532,... funcionan pero fallan 41256, 41464,...

- Q01 y Q08 están intercambiados.
- Q01 y/o Q08 son defectuosos.

Aparecen falsos negativos en tests con memorias en buen estado

- Confirmar los contactos del zócalo ZIF con los pines de las memorias, la memoria puede no estar bien asentada.
- Comprobar que los cables DuPont entre J3 y J4 hacen buen contacto.
- Comprobar sin los conectores DuPont hembra en J4 tienen demasiada holgura. Se puede probar a desconectarlos, girarlos 90º y volver a conectar.
- Del repetido uso, la palanca del zócalo ZIF ha vencido su límite y baja por debajo de la línea paralela a la superficie del zócalo (o a la placa). Puede solucionarse ajustando la palanca manualmente a la posición correcta (paralela a la placa) o, en un extremo, sustituyendo el zócalo ZIF.
- Repetir las pruebas sobre memorias 4164 sin el LMC7660 instalado y si desaparecen los falsos negativos (test fallidos), sustituirlo.
- Repetir las pruebas sobre memorias 4164 sin el módulo HW-668 instalado y si desaparecen los falsos negativos (test fallidos), sustituirlo.
- Interferencia electromagnética.
- Iluminación de alta potencia sobre el tester que afecta a los zeners.
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Va de Retro DRAM tester v1.06x [Tabla de búsqueda de tests]

Mensaje por cacharreo »

A continuación está disponible la tabla de búsqueda de tests. En la columna izquierda, que está ordenada alfabéticamente, se busca la referencia de la DRAM a comprobar y la columna derecha indica qué test se debe usar con el tester para dicha DRAM. Nótese que la correspondencia no es uno-a-uno por lo que puede haber varios tests válidos para una misma referencia de la primera columna.

Las "x" en las referencias de las DRAM indican un carácter alfanumérico cualquiera. Por ejemplo, x584xY4 puede leerse como K584PY4 o K584RY4; TMS4532-xxNL4 es una referencia genérica para cualquier memoria con el tiempo de acceso "xx", por ejemplo, TMS4532-15NL4.

 DRAM  Test 
21164116
21174116
21184516
2164A4164
2164A4864
2164B4164
2164B4864
26904116
4108-04108-0
4108-14108-1
41164116
4125641256
4146441464
41644164
44164416
4425644256
44644464
45164516
4532-H4532-H
4532-L4532-L
48644864
51C259H41464
51C259H4464
51C644164
51C644864
51C654164
51C654864
8041016A4116
A62530841256
A6C625641256
AM90164116
AM90644164
AM90644864
AS4C425644256
AS7C25641256
CDM6225641256
CXK5825741256
CXK5825841256
CY6225641256
CY7B19941256
CY7C19841256
CY7C19941256
DS123041256
DS123541256
F41164116
F41644164
F41644864
F16K4116
FM180841256
GM7625641256
GM71C4256A44256
HM47164116
HM48164516
HM48644164
HM48644864
HM484164416
HM504644464
HM5046441464
HM6225641256
HM6525641256
HM3-2025641256
HY51644164
HY51644864
HY6225641256
HY51C644164
HY51C644864
HY51C4256S44256
HY53C4644464
HY53C46441464
HYB41164116
HYB41644164
HYB41644864
HYB4125641256
HYB514256B44256
HYB534256B44256
IDT7125641256
IM41164116
IMS26004164
IMS26004864
IMS26204416
IS61C25641256
IS62C25641256
ITT41164116
K565PY34116
K565PY54164
K565PY54864
K565PY64516
K565RU34116
K565RU54164
K565RU54864
K565RU64516
K581PY44116
K581RU44116
KM41644164
KM41644864
KM4125641256
KM414664464
KM4146641464
KM6225641256
KM41464A4464
KM41464A41464
KM44C256A44256
LH2125641256
LH24644164
LH24644464
LH24644864
LH246441464
LH5125641256
LH5225641256
LH5225741256
LH5225841256
LH6425644256
LH6425844256
LH5P83241256
LM33644164
LM33644864
LST6283241256
M37164116
M48Z3541256
M5K41164116
M5K41644164
M5K41644864
M5M44425844256
M5M44644464
M5M446441464
M5M525641256
M5M527841256
M5M52B7841256
MB81164116
MB81184516
MB81264116
MB82164116
MB82644164
MB82644864
MB82654164
MB82654864
MB82814164
MB82814864
MB814164416
MB814644464
MB8146441464
MB814664464
MB8146641464
MB8425641256
MB81C4256A44256
MB8264A4164
MB8264A4864
MCM41164116
MCM41644164
MCM41644864
MCM45164516
MCM45174516
MCM620641256
MCM66164116
MCM66644164
MCM66644864
MCM66654164
MCM66654864
MCM6025641256
MCM514256A44256
MK41164116
MK41644164
MK41644864
MK42154116
MK45164516
MK45644164
MK45644864
MK4108-x04108-0
MK4108-x14108-1
MK4115-x04108-0
MK4115-x14108-1
MKB45634164
MKB45634864
MM52904116
MN41164116
MN41644164
MN41644864
MN42644416
MN4125641256
MS6225641256
MSM37164116
MSM37644164
MSM37644864
MSM4125641256
MSM5125741256
MSM3732H4532-H
MSM3732L4532-L
MSM514256A44256
MT125941256
MT1259P-
MT40674464
MT406741464
MT4067P-
MT42644164
MT42644864
MT4C425644256
MT4C425844256
N34125641256
NMC37644164
NMC37644864
NMC41644164
NMC41644864
NTE21174116
P2101444256
P4C125641256
PDM4125641256
SRM2025641256
TC5183241256
TC5525741256
TC5532841256
TC514256AP44256
TMM4164116
TMM41644164
TMM41644864
TMM4125641256
TMS41164116
TMS41644164
TMS41644864
TMS44164416
TMS44644464
TMS6225641256
TMS4108-xxNL04108-0
TMS4108-xxNL04108-1
TMS41324116(*)
TMS41334116(*)
TMS44C25644256
TMS4532-xxNL34532-L
TMS4532-xxNL44532-H
U2564116
U21644164
U21644864
UD614644464
UD614664464
UM6125641256
UM6225641256
uPD4164116
uPD21164116
uPD41644164
uPD41644864
uPD42654164
uPD42654864
uPD4125641256
UPD414164416
uPD4325641256
uPD4325841256
uPD42425844256
uPD42426844256
uPD41464C4464
uPD41464C41464
V51C644164
V51C644864
V53C10444256
V53C464A4464
W2425741256
W24M25741256
x584RU44116
x584xY44116
(*) Con el correspondiente adaptador.
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Mensaje por cacharreo »

ÍndiceInicioMenú principalTesteando memorias DRAMErrores en el cableadoErrores en el decodificador de direccionesEl test en profundidadErrores en las celdas de memoriaGestión del tester mediante el puerto serie

Inicio

Nada más arrancar el tester veremos en pantalla,

Imagen

la única línea relevante es la última que indica:
  • 1.05c, la versión instalada del firmware requiere como mínimo la versión 1.05c de la placa base.
  • fw0.29, la versión instalada del firmware es la 0.29
La versión del firmware puede venir seguida de un sufijo. Si son letras minúsculas, por ejemplo, fw0.27c refieren una versión ligeramente diferente a la 0.27; pero si son letras mayúsculas, por ejemplo, fw0.28D refieren una versión en pruebas (beta). En fw0.28A la letra A indica que se trata de la versión 0.28β1; en fw0.28B la letra B indica que se trata de la versión 0.28β2; y así sucesivamente.

Menú principal

Una vez en el menú principal se nos pide escoger una de las opciones. Si la opción seleccionada es una memoria DRAM, en la segunda línea se menciona su referencia así como su tamaño en bits (p.e. 16k) y su tamaño de palabra (p.e. 1bit).

Imagen

En la última línea vemos los cuatro botones para navegar por el menú que, de izquierda a derecha, son:
  • Opción anterior
  • Opción siguiente
  • Ir a la primera opción de la lista
  • Seleccionar la opción mostrada en pantalla
Los iconos de los botones en pantalla siempre se corresponderán con la posición física de los botones del tester.

Testeando memorias DRAM

Seleccionada una memoria DRAM en el menú principal, el tester nos pide que establezcamos las conexiones entre los conectores J3 y J4 mediante el juego de cables J3'.

Imagen

En este ejemplo, que pertenece a una memoria 4116, el tester nos pide que:
  • Conectemos el cable blanco (pin 1 de J3, -5V) con el pin 1 de J4,
  • el cable rojo (pin 2 de J3, +5V) con el pin 13 de J4,
  • el cable amarillo (pin 4 de J3, +12V) con el pin 8 de J4
el usuario tiene la opción de cancelar y volver al menú principal pulsando el botón BACK() o, una vez dispuesto el cableado de la forma indicada, comenzar con el test de la memoria de RAM escogida pulsando el botón OK().

Hay dos modalidades para iniciar un test, el modo normal que realiza un único test y el modo continuo, al que se accede realizando una pulsación larga sobre el botón OK(), que realiza un test tras otro en bucle mientras el usuario no interrumpa la operación con el botón BACK() al final de cada test.

Errores en el cableado

En la medida de sus posibilidades, el tester intenta comprobar que el cableado entre J3 y J4 está correctamente establecido. Si esta detección encontrara un problema, mostrará la siguiente pantalla:

Imagen

que indica al usuario que el cableado no es correcto y le ofrece volver al menú principal con el botón BACK() o reintentar el test pulsando el botón OK().

Errores en el decodificador de direcciones

Si en cualquier momento el tester halla un defecto en el decodificador de direcciones de la memoria DRAM veremos en pantalla algo similar a la siguiente imagen.

Imagen

En este ejemplo el "Error A36" refiere que se han encontrado defectos en las señales A3 y A6 de la memoria DRAM. Normalmente este error implica una memoria defectuosa y repetir el test suele solo llevar a una secuencia interminable de errores del mismo tipo.

Es habitual que un decodificador de direcciones defectuoso provoque errores transitorios en diferentes señales por lo que no debe extrañar que, si se insiste en repetir el test, se obtengan secuencias de errores del tipo "Error A6", "Error A36", "Error A1346", "Error A0123456",...

El test en profundidad

Si no se han producido los anteriores errores comenzará inmediatamente el test de las celdas de la memoria DRAM que muestra el siguiente aspecto (en el modo normal).

Imagen

La primera línea aclara que se comprueban las celdas de una memoria 4116, y el tipo de test que se está llevando a cabo, que puede ser:
  • [111] test de celdas rellenando su valor con unos (1),
  • [000] test de celdas rellenando su valor con ceros (0),
  • [101] test de celdas rellenando su valor alternativamente con unos (1) y ceros (0),
  • [010] test de celdas rellenando su valor alternativamente con ceros (0) y unos (1),
  • [rnd] ó [rnd4] test de celdas modificando su contenido con valores aleatorios de 1bit ([rnd]) o de 4bits ([rnd4]) según el tamaño de palabra de la memoria DRAM en test.
La segunda línea muestra 16 bloques en los que el tester divide la capacidad total de la RAM. Cada bloque puede tener 3 estados,
  • pendiente de comprobar,
  • pasó el test,
  • X no pasó el test.
Cuando el test se completa con éxito, la pantalla muestra PASSED parpadeando y ofrece volver al menú principal pulsando el botón BACK() o repetir el test pulsando el botón RETRY().

En el modo continuo (o en bucle) la información en pantalla es muy parecida,

Imagen

pero añade una última línea que tiene este formato:

Código: Seleccionar todo

Test:R PPPP/FFFF/TTTT
  • R es el resultado del último test (1=Se pasó el test; 0=Falló el test),
  • PPPP es el total de tests que ha pasado (en decimal),
  • FFFF es el total de tests que NO ha pasado (en decimal),
  • TTTT es el número total de tests realizados (en decimal).
En el ejemplo de la imagen leeríamos la última línea como que el último test lo pasó, que la memoria pasó con éxito 5 tests, que falló en 4 de ellos y que se realizaron un total de 9 tests.

Errores en las celdas de memoria

Cuando el tester encuentra un problema en una de las celdas de la memoria DRAM en pruebas visualiza en pantalla el siguiente error:

Imagen

En este ejemplo la primera línea indica que se está comprobando una DRAM tipo 4116 y que se estaba llevando a cabo el test ([rnd]) en el que el contenido de las celdas se rellena aleatoriamente.

La segunda línea indica que se comprobaron con éxito dos bloques del total de la memoria pero que se encontró un error en el tercero y, en consecuencia, se interrumpió el test.

La tercera línea especifica la dirección de la celda en la que se encontró el error en hexadecimal y, a continuación, la causa del test (w:0->r:1). En este ejemplo el tester informa de que había escrito (w) un 0 en esa celda, pero que al leerla (r) encontró un 0. El formato de este error es el siguiente:

Código: Seleccionar todo

Address:AAAA w:W->r:R
donde
  • AAAA es la dirección de la celda en hexadecimal,
  • W es el valor hexadecimal que se escribió en dicha celda, y
  • R es el valor hexadecimal que se leyó de dicha celda,
La última línea muestra FAILED parpadeando porque la memoria DRAM no pasó el test y ofrece la opción de cancelar y volver al menú principal pulsando el botón BACK() o repetir el test pulsando el botón RETRY().

Gestión del tester mediante el puerto serie

Si tenemos conectado el tester mediante el puerto Mini USB del Nano al ordenador, u otro dispositivo capaz de comunicarse con el tester, podemos visualizar la información en pantalla y controlar el teclado por el puerto serie utilizando una aplicación de terminal serie estándar (por ejemplo, PuTTY, X-CTU, TeraTerm, CoolTerm, el monitor serie de Arduino IDE, etc.).

Las teclas para controlar los botones del tester mediante el puerto serie

Código: Seleccionar todo

L=izquierda/opción anterior
R=derecha/opción siguiente
X=atrás/cancelar
V=aceptar/reintentar/OK/RETRY
W=aceptar/reintentar/OK/RETRY con pulsación larga
A=abortar
B=reiniciar el tester
En la ventana de la aplicación de terminal veremos exactamente el mismo contenido que el mostrado en la pantalla OLED del tester (si está conectada) excepto los iconos de los botones exceptuando la ejecución de los tests sobre la memoria RAM, en este caso sólo veríamos el resultado.

En el siguiente vídeo puede observarse cómo se lleva a cabo el test 4116 sobre una memoria MCM4517P-15 utilizando el puerto serie.

Imagen
(click para ampliar)

Nota 1: Para que la comunicación serie sea posible se requiere que el conmutador SERIAL (SW0) esté en la posición ON (hacia la pantalla OLED).
Nota 2: El mensaje inicial "U4 not found!" que se observa en el vídeo solo informa de que no está instalado el add-on para la conmutación automática de JP5.
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Va de Retro DRAM tester v1.06x [Guía de montaje] [Desempaque y puesta en marcha]

Mensaje por cacharreo »

Aquellos que habéis solicitado un tester montado(*) recibiréis una elegante caja azul que, una vez abierta, mostrará este contenido:

Imagen

A la izquierda, en el rollo protegido con espuma blanca están el Nano y la pantalla OLED. A la derecha, en la parte protegida con plástico de burbujas, está la placa base y, justo a su izquierda, hay pegada una bolsa con algunos pequeños elementos para que no se pierdan.

Al abrir cada uno de los pequeños paquetes y quitarles el envoltorio, encontraremos la placa base, la pantalla OLED, el Nano y la bolsa con las tapas de los botones, el juego de cables, los tornillos y todo lo demás.

Imagen

Debemos comprobar con atención que el tope de plástico de la palanca del zócalo ZIF está ahí, tal como se ve en la foto, y no se ha desprendido y permanece dentro del trozo de espuma protectora. Si la palanca del zócalo ZIF acaba en una parte metálica, se debe buscar el tope (que no va pegado sino insertado), está cerca, posiblemente dentro de la espuma, no tiene pérdida.

Imagen

A continuación comprobamos que el conmutador SERIAL, a la izquierda de la placa base, esté en la posición ON.

Imagen

Eliminadas las bolsas antiestáticas nos quedan los siguientes elementos listos para la puesta en marcha. La placa base, la pantalla OLED, el juego de cables J3' (blanco, rojo y amarillo), los 3 puentes rojos, las 4 tapas rojas para los pulsadores, 5 tornillos de nylon, 5 espaciadores de nylon de 10mm. y un espaciador de 8mm. con rosca de 6mm.

Imagen

El espaciador de nylon de 8mm. con rosca de 6mm. nos servirá de soporte para la pantalla. Le atornillamos uno de los tornillos en su orificio superior dejando libres unas 2 vueltas, más adelante podremos ajustarlo para dejar la pantalla OLED a la altura que nos sea más cómoda.

Imagen

Tomamos este conjunto, lo colocamos en el agujero de montaje cercano a J1' (en la zona de la pantalla) y lo fijamos a la placa atornillando por debajo uno de los espaciadores de 10mm. El resultado quedaría así:

Imagen

Después, colocamos los 4 tornillos en los 4 agujeros que quedan y les atornillamos por debajo de la placa cada uno de los 4 espaciadores de 10mm.

Imagen

Con especial atención cerramos con los 3 puentes rojos las tiras de pines etiquetadas como:
- JP5 a la derecha del zócalo ZIF (puente rojo todo a la derecha)
- JP6 a la derecha de JP5 (puente rojo todo a la izquierda)
- J2, abajo a la derecha, junto al tornillo (puente rojo todo arriba)

Imagen

En la siguiente imagen sintética se observa quizás con mayor claridad la posición de los puentes (en la imagen, en color amarillo).

Imagen

Conectamos el juego de cables en el conector J3 como se muestra en la fotografía. El cable está construido para que solo pueda entrar en la posición correcta, es decir, con el cable blanco hacia la izquierda y el amarillo en el extremo derecho.

Después montamos la pantalla OLED insertando sus 4 pines dentro de los 4 pines del conector J1 (arriba a la izquierda en la placa). Mucha atención de conectarla sin desplazar y exactamente en ese conector pues podría ser fatal para la salud de la pantalla.

Verificamos que los pines del Nano estén todos alineados y paralelos. Estos pines redondos son duros pero a la vez frágiles y si se doblan más allá de un pequeño ángulo, pueden partirse con una facilidad pasmosa.

Hecho esto insertamos el Nano en su zócalo orientando el conector Mini USB del Nano hacia el borde inferior de la placa, alineando la posición mientras lo revisamos desde el lateral izquierdo para que los separadores de plástico negro del Nano y del zócalo coincidan perfectamente, sin inclinar ni a uno ni a otro ni en el plano horizontal ni en el vertical. Con mucha atención al insertarlo en el zócalo evitamos que se desplace un pin hacia arriba o hacia abajo.

Imagen

Por último, volvemos a comprobar que todo está en su sitio y después solo resta conectar el tester mediante un cable MiniUSB a un puerto USB del PC o de un cargador.

Como detalle especial de esta edición limitada ;) el tester cuenta con un número de serie holográfico único adherido a la parte inferior de la placa.

Imagen

Información de interés

Todos los testers montados han sido soldados con estaño libre de plomo y fueron completamente probados pasando, entre otras, por las siguientes fases:
- Comprobaciones eléctricas varias (cortocircuitos, comprobación del consumo y del nivel de las tensiones, etc.),
- Inspección óptica al microscopio realizada por un tercero para garantizar la consistencia de las soldaduras,
- Ajuste de la tensión del conversor DC-DC HW-668 a +12V,
- Comprobación con un Nano externo con firmware de diagnóstico para verificar el funcionamiento de todas las señales de comunicación con las memorias RAM,
- Comprobación rápida del funcionamiento de la botonera y del juego de cables J3',
- Comprobación rápida del funcionamiento de los tests probando una memoria DRAM MCM4517P-15,
- Test de estrés de 50 a 200 pruebas seguidas con cada una de las memorias DRAM 4116, 41256, 4464 y 44256 con el tester alimentado con una fuente de alimentación de laboratorio estableciendo una protección contra sobrecorriente de forma que si el tester consumiera más de lo previsto durante la prueba, se apagaría automáticamente evidenciando así su falla.

(*) Excepto los de @brunosilva y @TorpedoJavi aunque su puesta en marcha será muy similar.
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Va de Retro DRAM tester v1.06x [Guía de montaje]

Mensaje por Mikes »

Vaya currada! ;)
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jjsaenz1969
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Re: Va de Retro DRAM tester v1.06x [Guía de montaje]

Mensaje por jjsaenz1969 »

Gracias por lo currao que está todo.
Tengo que revisar los fusibles, no tuve en cuenta que uno era diferente. pero no hay problema, lo cambio y listo.
En un rato haré los Tests propuestos.
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