Va de Retro DRAM tester [v2.00]
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Aquí solo tienen cabida proyectos de hardware que incluyan siempre al menos sus esquemáticos para poder reproducirlos si llevan componentes electrónicos, y si es posible los ficheros del programa en que se hacen, los diseños de las placas, los gerber, etc. Si llevan algún tipo de software asociado debe estar diponible el código fuente
Para los que no cumplen estas condiciones se debe postear en el foro de proyectos generales.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Autor: cacharreo
Fecha de publicación original: 21 Sep 2022, 19:51
Completados los 400 tests pasados con la TMS4116-15NL (@Gomas48K#7) y otros 100 tests pasados con la KM4164B-15 (@issalig#A).
Fecha de publicación original: 21 Sep 2022, 19:51
Completados los 400 tests pasados con la TMS4116-15NL (@Gomas48K#7) y otros 100 tests pasados con la KM4164B-15 (@issalig#A).
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Autor: Gomas48K
Fecha de publicación original: 21 Sep 2022, 22:21
Fecha de publicación original: 21 Sep 2022, 22:21
Gomas48K escribió:Como puede ser que haya tanta diferencia entre prototipos? Porque a @geloalex y a ti te van bien, el mio no... Tan críticos van los tiempos, que a una pequeña variación de un aparato a otro haga que falle? Tanta tolerancia hay entre componentes?cacharreo escribió:Como partimos de que los ciclos en fw0.19 funcionaban bien, teniendo en cuenta que en versiones posteriores son muy poco más lentos, quizás por tiempos pudiera provocar un fallo de corrupción por un lento refresco de los bits en una memoria de 65536 bits pero con solo 16384 bits como las 4116 o hay un error gordo en el código (como una metedura de pata que no estaba en la versión fw0.19), o no sería achacable a la insignificante pérdida de velocidad en el refresco de la DRAM.
Eso puede ser un problema cuando se compren componentes en diferentes fuentes, para hacer los montajes de los aparatos finales.
La única diferencia significativa que tengo, es el diodo D1 (cara soldaduras) puenteado, porque me bajaba demasiado la alimentación.
Voltajes medidos en el zocalo ZIF con memoria 4116 puesta:
+5V - +4.69V.
+12V - +12.04V.
-5V - -4.69V.
Consumo general:
En reposo - 56mA.
Testeando - 66mA.
Pero no creo que una pequeña variación de voltajes entre equipos, pueda afectar tanto... no se.
Editado
Correción en la medida del zif +5V. bailé los numeros
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Autor: cacharreo
Fecha de publicación original: 22 Sep 2022, 04:24
Fecha de publicación original: 22 Sep 2022, 04:24
En efecto y por eso no descartamos nada. Hay que ver de dónde proceden las diferencias porque el resultado debe ser estable pero, antes de nada, creo que lo prudente es esperar a otras pruebas si es posible.Gomas48K escribió:¿Como puede ser que haya tanta diferencia entre prototipos? Porque a @geloalex y a ti te van bien, el mio no... Tan críticos van los tiempos, que a una pequeña variación de un aparato a otro haga que falle? Tanta tolerancia hay entre componentes?
Eso puede ser un problema cuando se compren componentes en diferentes fuentes, para hacer los montajes de los aparatos finales.
Es una diferencia importante porque los Nanos tienen una lógica TTL peculiar y si la bajada de tensión es suficiente para que confunda 0s con 1s ya estaría liada.Gomas48K escribió:La única diferencia significativa que tengo, es el diodo D1 (cara soldaduras) puenteado, porque me bajaba demasiado la alimentación.
Veo diferencias llamativas sobre todo en la corriente. En mi caso midiendo con el AT34, conectado entre el concentrador USB y el tester, con la memoria 4116 instalada en el ZIF, la tensión es de +4.9V-+5.0V y la corriente en reposo queda en el rango 33mA-35mA que se va a 36mA-38mA durante el test. Cambiando el AT34 con el tester a varios cargadores USB (15W, 18W, 100W) la tensión sube a +5.0 y +5.1V mientras que la corriente en reposo es de 47mA y de 51mA durante el test.Gomas48K escribió:Voltajes medidos en el zocalo ZIF con memoria 4116 puesta:
+5V - 4.96V.
+12V - 12.04V.
-5V - -4.69V.
Consumo general:
En reposo - 56mA.
Testeando - 66mA.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Autor: geloalex
Fecha de publicación original: 22 Sep 2022, 05:53
Fecha de publicación original: 22 Sep 2022, 05:53
geloalex escribió:En cuanto llegue a casa mido y posteo mis consumos y voltajes.
Lo que si esta claro es que los que se hagan para la tirada, se pidan los Nanos al mismo proveedor. También creo que una vez este la placa nueva se van a evitar estas placas con modificaciones , cortes y puentes y se minimizaran al máximo los errores propios de los prototipos que es lo que son , tenemos que pensar en que cuando estén funcionando tal como lo están haciendo , es de suponer que las nuevas generaciones o revisiones de placa , eliminaran de la ecuación los problemas derivados como interferencias , falsos contactos (propios de las tiras de pines hembra que algunos tenemos) así como errores propios de las modificaciones. Estamos en el buen camino , es cuestión de ir limando.
Por otro lado , algunas de las memorias a testear , no las tengo en stock , seria bueno de cara a las pruebas mas extensas el que disponga de unidades ceder temporalmente alguna unidad VALIDA (siendo responsabilidad por supuesto del Betatester el no joderla) y alguna unidad MALA y al final de las pruebas devolverlas .... es una sugerencia.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Autor: cacharreo
Fecha de publicación original: 22 Sep 2022, 08:33
Sería terrorífico comparar las imágenes de rayos X de tantos y tantos clones con diferencias que pueden ser abismales. Visto lo visto ni siquiera me extrañaría que hubiera variaciones relevantes en la velocidad del reloj del microprocesador.
Fecha de publicación original: 22 Sep 2022, 08:33
Genial, va a ser curioso compararlos. Medir la tensión en el mismo ZIF (p.e. pines 13 y 20 con una 4116 situada en el zócalo) como ha hecho @Gomas48K quizás sea significativo, en mi tester cae casi 1V (+3.99V) respecto a la medida con el AT34.geloalex escribió:En cuanto llegue a casa mido y posteo mis consumos y voltajes.
Una solución ideal porque evitamos clones de Nano con diseños extraordinariamente creativos.geloalex escribió:Lo que si esta claro es que los que se hagan para la tirada, se pidan los Nanos al mismo proveedor.
Sería terrorífico comparar las imágenes de rayos X de tantos y tantos clones con diferencias que pueden ser abismales. Visto lo visto ni siquiera me extrañaría que hubiera variaciones relevantes en la velocidad del reloj del microprocesador.
Debería llevar hasta cápsula hermética para el agua bendita.geloalex escribió:es de suponer que las nuevas generaciones o revisiones de placa, eliminaran de la ecuación los problemas derivados
Buena sugerencia. Añadiría que es muy fácil fastidiar una memoria por colocarla en el ZIF con los cables en J4 colocados para otro tipo, mucha atención a esto con los cambios, en especial de las 4116 a otras.geloalex escribió:Por otro lado , algunas de las memorias a testear , no las tengo en stock , seria bueno de cara a las pruebas mas extensas el que disponga de unidades ceder temporalmente alguna unidad VALIDA (siendo responsabilidad por supuesto del Betatester el no joderla) y alguna unidad MALA y al final de las pruebas devolverlas .... es una sugerencia.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Autor: Gomas48K
Fecha de publicación original: 23 Sep 2022, 10:24
Fecha de publicación original: 23 Sep 2022, 10:24
Gomas48K escribió:Mil disculpas... bailé los números de la medición del ZIF +5V.cacharreo escribió:Veo diferencias llamativas sobre todo en la corriente. En mi caso midiendo con el AT34, conectado entre el concentrador USB y el tester, con la memoria 4116 instalada en el ZIF, la tensión es de +4.9V-+5.0V y la corriente en reposo queda en el rango 33mA-35mA que se va a 36mA-38mA durante el test. Cambiando el AT34 con el tester a varios cargadores USB (15W, 18W, 100W) la tensión sube a +5.0 y +5.1V mientras que la corriente en reposo es de 47mA y de 51mA durante el test.Gomas48K escribió: Voltajes medidos en el zocalo ZIF con memoria 4116 puesta:
+5V - 4.96V.
+12V - 12.04V.
-5V - -4.69V.
Consumo general:
En reposo - 56mA.
Testeando - 66mA.
Ya está corregido.
El voltaje correcto es +4.69V.
A mi también me vendría bien, Porque solo tengo Spectrum y el resto de memorias no las voy a usar en la vida.geloalex escribió:Por otro lado , algunas de las memorias a testear , no las tengo en stock , seria bueno de cara a las pruebas mas extensas el que disponga de unidades ceder temporalmente alguna unidad VALIDA (siendo responsabilidad por supuesto del Betatester el no joderla) y alguna unidad MALA y al final de las pruebas devolverlas .... es una sugerencia.
Comprar un lote (suelen vender mínimo 10) es un gasto extra, que ya se me sale un poco de presupuesto.
También se puede hacer una compra conjunta entre los betatester y repartirnos un par de memorias de cada tipo... Siempre sería mas barato que comprar todos por separado.
cacharreo escribió:Debería llevar hasta cápsula hermética para el agua bendita.
Yo solo tengo encima del banco de trabajo, las memorias del mismo tipo que voy a testear.cacharreo escribió:Añadiría que es muy fácil fastidiar una memoria por colocarla en el ZIF con los cables en J4 colocados para otro tipo, mucha atención a esto con los cambios, en especial de las 4116 a otras.
Cuando quiero cambiar de tipo, desconecto todos los cables de J4, guardo unas memorias y saco el siguiente tipo.
Es un método algo "infantil" pero bastante efectivo.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Autor: cacharreo
Fecha de publicación original: 23 Sep 2022, 12:15
Fecha de publicación original: 23 Sep 2022, 12:15
Son mejores números pero aún así la diferencia de consumo en mW es significativa (+20-70%).Gomas48K escribió:El voltaje correcto es +4.69V.
Una interesantísima propuesta que suscribo.Gomas48K escribió:También se puede hacer una compra conjunta entre los betatester y repartirnos un par de memorias de cada tipo... Siempre sería mas barato que comprar todos por separado.
El problema aparece cuando se coge confianza, hacer pruebas o cambios rápidos de unas a otras e ignorar que los cables están en J4. El método que propones aplicado sistemáticamente es muy efectivo.Gomas48K escribió:Yo solo tengo encima del banco de trabajo, las memorias del mismo tipo que voy a testear.
Cuando quiero cambiar de tipo, desconecto todos los cables de J4, guardo unas memorias y saco el siguiente tipo.
Es un método algo "infantil" pero bastante efectivo.
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Versión 1.05c, esquemas, materiales y placa
Autor: cacharreo
Fecha de publicación original: 23 Sep 2022, 12:24
Versión 1.05c
RAM tester
Módulo de protección de pines
Módulo de protección para el pin 1
Módulo de protección para el pin 8
Módulo convertidor DC-DC +5V-5V
Módulo convertidor DC-DC HW-668
Módulo de entrada (botonera)
Módulo de salida (pantalla OLED 0.91"/0.96"/1.3") ⁽¹⁾
Notas para el ensamblaje
- Se aconseja decidir de entrada si se va a utilizar o no un módulo HW-668.
- En caso negativo es muy recomendable montar (e incluso probar) el step-up DC-DC antes que el resto de componentes.
- Confirmar el sentido del diodo D31 antes de montar.
- Intentar soldar U31 a un máximo de 300ºC/10s.
Lista de componentes (109)
Lista de componentes del módulo HW-668 (ya incluida en la anterior)
Lista de componentes interactiva
Gerbers
Descargar
PCB
⁽¹⁾ Especial atención a las pantallas, deben ser II2 o I²C (algunas vienen sin interfaz, otras con 7 pines para SPI) y, por la buena salud de la pantalla y del tester, los 4 pines deben seguir el orden de J1 o J1'.
⁽²⁾ La altura del vástago en los botones debe ser diferente si se pretende montar el tester en una carcasa y estos quedan en la placa. Si se van a usar botones de panel, en la placa se sueldan los 2 pines inferiores en el lugar de cada botón.
⁽³⁾ Se pueden usar en su lugar pines DuPont hembra y macho convencionales pero el Arduino Nano quedará bastante más alto.
⁽⁴⁾ Arduino NANO R3 con ATMega328P a 16MHz, FTDI FT232RL, gestor de arranque "nuevo" (optiboot) y pines redondos.
⁽⁵⁾ Blanco, rojo y amarillo respectivamente.
⁽⁶⁾ DuPont Blocking Pin / AMP-LATCH Keying Plug TE 499712-1 / Harwin M20-003 Polarising Pin.
Fecha de publicación original: 23 Sep 2022, 12:24
Versión 1.05c
RAM tester
Módulo de protección de pines
Módulo de protección para el pin 1
Módulo de protección para el pin 8
Módulo convertidor DC-DC +5V-5V
Módulo convertidor DC-DC HW-668
Módulo de entrada (botonera)
Módulo de salida (pantalla OLED 0.91"/0.96"/1.3") ⁽¹⁾
Notas para el ensamblaje
- Se aconseja decidir de entrada si se va a utilizar o no un módulo HW-668.
- En caso negativo es muy recomendable montar (e incluso probar) el step-up DC-DC antes que el resto de componentes.
- Confirmar el sentido del diodo D31 antes de montar.
- Intentar soldar U31 a un máximo de 300ºC/10s.
Lista de componentes (109)
Cantidad | Referencia | Valor |
---|---|---|
1 | U31 | SX1308 SMD SOT-23-6 (opcional HW-668) |
1 | R31 | 200Ω 1/8W 1% SMD 0805 (opcional HW-668) |
2 | C31,C32 | 18µF 50V SMD 0805 (opcional HW-668) |
1 | D31 | SS34 Rectificador Schottky 40V 3A SMD SMA (opcional HW-668) |
5 | R4,R6,R8,R01,R08 | 10kΩ 1/4W 1% |
5 | R1,R2,R3,R5,R7 | 20kΩ 1/4W 1% |
1 | D1 | SB140-T 40V 1A |
19 | Z01,Z02,Z03,Z04,Z05,Z06,Z07,Z08,Z09,Z10, | 1N4733A 5.1V 1W |
Z11,Z12,Z13,Z14,Z15,Z16,Z17,Z18,Z19 | ||
1 | F1 | Fusible rearmable PPTC 6V 250mA |
19 | F01,F02,F03,F04,F05,F06,F07,F08,F09,F10, | Fusible rearmable PPTC 6V 30mA |
F11,F12,F13,F14,F15,F16,F17,F18,F19 | ||
1 | C3 | 100nF 25V MLCC |
1 | U3 | Zócalo de agujero redondo DIP-8 |
1 | C4 | 10µF 25V 4x7mm electrolítico |
1 | C2 | 47µF 25V 5x11mm electrolítico |
1 | C1 | 220µF 25V 6.3x11.5mm electrolítico |
1 | L31 | 4.7µH SMD LQ55DN (opcional HW-668) |
1 | Q01 | BS250 TO-92-3 |
1 | Q08 | 2N7000 TO-92-3 |
4 | SW1,SW2,SW3,SW4 | ◀,▶,↲,✓ (push tactile switches SPST 6x6x4.3mm) ⁽²⁾ |
1 | J1 | I2C/OUTPUT Pines hembra 1x05 2.54mm |
1 | J1' | I2C Pines hembra 1x04 2.54mm |
1 | J2 | INPUT Pines macho 1x04 2.54mm |
1 | J0 | ICSP Pines macho 2x03 2.54mm (opcional) |
1 | J3 | POWER_RAIL Pines macho 1x04 2.54mm |
1 | J3' | POWER_RAIL Housing DuPont hembra 1x04 𝄩2.54mm (con el penúltimo pin bloqueado) |
1 | J4 | POWER Pines macho 2x10 2.54mm |
2 | J5 | Pines hembra de agujero redondo 1x15 2.54mm (para zócalo del Nano) |
2 | J5' | Pines macho de agujero redondo 1x15 2.54mm (para el Nano) ⁽³⁾ |
4 | J6,J7,J8,J9 | VIN+,VIN-,VOUT+,VOUT- Pin de latón 1.00mm (para fijar el módulo HW-668) |
1 | JP5 | DCTRL Pines macho 1x02 2.54mm |
1 | SW0 | Conmutador DPDT SK-22D07 (opcional) |
1 | U2 | ZIF socket 20pos |
1 | U3 | LMC7660 (montado sobre zócalo U3) |
1 | HW-668 | Módulo compacto HW-668 (opcional) |
1 | RV31 | Trimmer 10kΩ Bourns/Baoter 3/8" 3296W-1 (opcional HW-668) |
1 | U1 | Arduino Nano (montado sobre zócalo J5) ⁽⁴⁾ |
1 | J1 | Pantalla OLED 0.91" I2C 128x32 píxeles amarilla, azul o blanca (sobre J1) (opción) |
1 | J1' | Pantalla OLED 0.96"/1.3" I2C 128x64 píxeles amarilla, azul o blanca (sobre J1') (opción) |
1 | JP1 | Puente cerrado de 2 pines 2.54mm para habilitar los botones en INPUT |
1 | JP2 | Puente cerrado de 2 pines 2.54mm para habilitar en JP5 los +5V en J3, J4, el zócalo ZIF y los conversores DC-DC |
3 | W1,W2,W3 | Cables DuPont F-F 10cm para puentes entre POWER y -5V,+5V y +12V ⁽⁵⁾ |
1 | PCB | Placa VaDeRetro RAM Tester |
5 | S1 | Tornillo de nylon M3 6mm negro |
5 | S2 | Espaciador de nylon M3 10mm negro |
1 | S3 | Espaciador de nylon M3 8mm con rosca de 6mm negro |
1 | J3/3 | Pin de bloqueo ⁽⁶⁾ |
Cantidad | Referencia | Valor | Formato |
---|---|---|---|
1 | R31 | 200Ω 1/8W 1% | 0805 |
2 | C31,C32 | 18µF 50V | 0805 |
1 | U31 | SX1308 | SOT-23-6 |
1 | D31 | SS34 Rectificador Schottky 40V 3A | SMA |
1 | L31 | 4.7µH | LQ55DN |
1 | RV31 | Trimmer 10kΩ Bourns/Baoter 3/8" 3296W-1 | 0.375" Trimpot 3 pins |
Gerbers
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PCB
⁽¹⁾ Especial atención a las pantallas, deben ser II2 o I²C (algunas vienen sin interfaz, otras con 7 pines para SPI) y, por la buena salud de la pantalla y del tester, los 4 pines deben seguir el orden de J1 o J1'.
⁽²⁾ La altura del vástago en los botones debe ser diferente si se pretende montar el tester en una carcasa y estos quedan en la placa. Si se van a usar botones de panel, en la placa se sueldan los 2 pines inferiores en el lugar de cada botón.
⁽³⁾ Se pueden usar en su lugar pines DuPont hembra y macho convencionales pero el Arduino Nano quedará bastante más alto.
⁽⁴⁾ Arduino NANO R3 con ATMega328P a 16MHz, FTDI FT232RL, gestor de arranque "nuevo" (optiboot) y pines redondos.
⁽⁵⁾ Blanco, rojo y amarillo respectivamente.
⁽⁶⁾ DuPont Blocking Pin / AMP-LATCH Keying Plug TE 499712-1 / Harwin M20-003 Polarising Pin.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Autor: cacharreo
Fecha de publicación original: 23 Sep 2022, 12:35
Este último diseño de placa incorpora como novedades los cambios en los pines del Nano y del ZIF/J4 correspondientes a las últimas modificaciones (1.02e, 1.02f,...) además de proporcionar más control sobre la alimentación en J3, J4 y el ZIF a través de la nueva tira 1x02 JP5 a la izquierda de J3, cuyos pines se pueden unir a gusto del consumidor mediante una soldadura o un jumper. Con JP5 abierto, no hay tensiones en J3, ni J4 ni en el ZIF.
El objetivo final no es poder habilitar/deshabilitar las tensiones en J3, J4 y el ZIF poniendo o quitando un jumper si no más bien dejar ese aspecto centralizado en un punto (JP5) quedando el diseño preparado para que si en el futuro hallamos la forma de añadir cierta lógica de control, el tester automáticamente pueda realizar la conmutación (con solo añadir un MOSFET y sus resistencias).
Fecha de publicación original: 23 Sep 2022, 12:35
Este último diseño de placa incorpora como novedades los cambios en los pines del Nano y del ZIF/J4 correspondientes a las últimas modificaciones (1.02e, 1.02f,...) además de proporcionar más control sobre la alimentación en J3, J4 y el ZIF a través de la nueva tira 1x02 JP5 a la izquierda de J3, cuyos pines se pueden unir a gusto del consumidor mediante una soldadura o un jumper. Con JP5 abierto, no hay tensiones en J3, ni J4 ni en el ZIF.
El objetivo final no es poder habilitar/deshabilitar las tensiones en J3, J4 y el ZIF poniendo o quitando un jumper si no más bien dejar ese aspecto centralizado en un punto (JP5) quedando el diseño preparado para que si en el futuro hallamos la forma de añadir cierta lógica de control, el tester automáticamente pueda realizar la conmutación (con solo añadir un MOSFET y sus resistencias).
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Autor: Gomas48K
Fecha de publicación original: 23 Sep 2022, 13:40
Fecha de publicación original: 23 Sep 2022, 13:40
Gomas48K escribió:Perfecto , tiene buena pinta.
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