Va de Retro (Satanás) -- Versión 3.3 SSL
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Me resulta bastante interesante , pena no haya un pin aprobechable para eso para dejarlo como nueva feature de cara a la versión final.cacharreo escribió: ↑08 Oct 2022, 13:20 Esta última versión del firmware fw0.21c permite utilizar ZIF#12, sin uso en las memorias que estamos probando ahora mismo y solo durante el test en modo continuo, para monitorizar el resultado del último test. Si el test falló el estado de ZIF#12 será alto (~+5V), si no el estado será bajo (~+0V).
Cuando se está realizando un test tras otro se podría utilizar con un buzzer activo DC5V para escuchar un pitido cuando se produzca un fallo. Haría falta conectar el positivo del buzzer al pin 12 del zócalo ZIF y el negativo a J2#3 (GND). Para este propósito estoy usando algo así:
el cable rojo va a ZIF#12 y el negro a J2#3.
También servirían este tipo de módulos:
conectando el pin "S" a ZIF#12 y el pin "-" a J2#3 (GND).
Para tus pruebas ¿siempre has usado esta memoria 4164 de OKI u otra? Me interesaría saber si los falsos negativos aparecen dependiendo del fabricante.
Considerando que el pin ZIF#12 solo tendrá un uso real para un puñado de memorias (41464, 4416, 44256 y 4464) se podría dejar así para la versión final y que solo use ZIF#12 cuando se estén comprobando cualquier otro tipo de memorias. Según sus necesidades, el testeador podría conectar un buzzer, un LED o un microcontrolador maestro que controle y automatice pruebas más complejas.
Por mi perfecto...cacharreo escribió: ↑08 Oct 2022, 13:32 Considerando que el pin ZIF#12 solo tendrá un uso real para un puñado de memorias (41464, 4416, 44256 y 4464) se podría dejar así para la versión final y que solo use ZIF#12 cuando se estén comprobando cualquier otro tipo de memorias. Según sus necesidades, el testeador podría conectar un buzzer, un LED o un microcontrolador maestro que controle y automatice pruebas más complejas.
Ese buzzer es para las pruebas actuales y como el test en modo continuo, mostrar los resultados parciales en pantalla, etc. puede quedar en la versión final o no según decidamos y/o el espacio de programa.
Exacto, es opcional e insisto en que la modificación no es sólo para generar un pitido, cuando termina el test el estado de ZIF#12 indica si hubo o no fallo y eso puede utilizarse para muy diferentes objetivos (p.e. para hacer pruebas automatizadas desde otro Nano). En una versión final ese pin de depuración, ZIF#12, que en estas pruebas estamos usando para el buzzer, podría seguir activo para todas las memorias que dejen ese pin libre.
Estamos en pruebas con memorias para determinar si hay errores de diseño, en los tests, etc. pero sobre todo afinando la configuración de los diferentes prototipos (de los betatesters).
La placa 1.05c recoge todos los cambios por lo que sería compatible pin a pin con la 1.02f, incorpora nuevas prestaciones (el conector ICSP, el conmutador en la cara inferior para desconectar el puerto serie, el puente que conecta y desconecta las tensiones, las protecciones propuestas, etc.) y no requiere el módulo de los MOSFETs porque lo tiene integrado pero, dicho esto, al ser provisional su diseño no está completo al 100% y las pistas están por ser trazadas (de hecho actualmente conserva las de la versión anterior y por tanto no es funcional).Popopo escribió: ↑08 Oct 2022, 14:41Esta semana trataré de ponerme al día, en caso de no lograrlo, prefiero (si es posible) mandar a hacer placas nuevas con las modificaciones hasta la versión donde no se haya desviado el proyecto de los objetivos iniciales (por lo del pin #12), no soy capaz de entender demasiado ni de seguir la traza del problema que atañe a mi placa.