Con eso contaba porque dijiste que este fin de semana le ibas a dedicar un rato a ver si encontrabas el problema. Por si te sirve de algo las tablas publicadas con los resultados del test de pines (o el esquema de la placa 1.05c) sirven indirectamente como mapa de conexiones entre los pines del zócalo ZIF o J4 y los pines del Nano así que con el multímetro en modo continuidad, el tester y un diagrama (pinout) de los pines del Nano (o el esquema de la placa 1.05c) puedes verificar a qué pin del zócalo ZIF está conectado cada pin digital del Nano y además que no esté conectado a ningún otro.
Va de Retro DRAM tester [v2.00]
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Pues por lo que he visto de manera ordinaria... no me vale, porque no contiene la parte referida a las protecciones, las cuales han sido parte de las modificaciones. Bueno... al menos yo no me he aclarado. Bien es cierto, que necesito mucho tiempo para poder aclararme será cuestión de buscar más ratos para revisar.cacharreo escribió: ↑30 Sep 2022, 10:37 Por si te sirve de algo las tablas publicadas con los resultados del test de pines (o el esquema de la placa 1.05c) sirven indirectamente como mapa de conexiones entre los pines del zócalo ZIF o J4 y los pines del Nano así que con el multímetro en modo continuidad, el tester y un diagrama (pinout) de los pines del Nano (o el esquema de la placa 1.05c) puedes verificar a qué pin del zócalo ZIF está conectado cada pin digital del Nano y además que no esté conectado a ningún otro.
Gracias cacharreo
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Por si te es útil, el esquema titulado "RAM tester" incluye la protección general contra cortos para el tester (fusible PPTC F1 y diodo schottky D1 sobre el Nano), la protección de cada pin del zócalo ZIF (excepto ZIF#1 y ZIF#8) está detallada en el esquema titulado "Módulo de protección de pines" y, por último, los detalles sobre las protecciones para los pines ZIF#1 y ZIF#8 están en "Módulo de protección para el pin 1" y "Módulo de protección para el pin 8" respectivamente. Con el primero de los esquemas ("RAM tester") tienes el diagrama de conexiones eléctricas (pinout) entre los pines del ZIF y los pines digitales del Nano. Por cierto, a efectos prácticos puedes ignorar el conmutador SW0 y asumir que está siempre cerrado.
Como nota al margen, en el primer esquema de la placa 1.05c figuran F1 y D1 precisamente para proporcionar información relativa a la placa 1.02f. Lo digo porque, como hablamos, en la versión final esa protección se implementará con un MOSFET pero aún no está reflejado en las versiones 1.05 de la placa por claridad y no confundir cuando se revise la placa 1.02f.
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- Información sobre el cableado de tensiones ("wiring") entre J3 y J4 (se debe fijar como se indica y, una vez hecho y verificado, colocar el chip en el zócalo ZIF)
- Hay dos modos dependiendo de si se pulsa el botón OK(✓) con:
Cambios respecto a la versión anterior
- Corrección de la asignación del puerto TX al zócalo ZIF (placa v1.02f) aunque no afectaba al funcionamiento en anteriores versiones pues solo tiene efecto en los tests de las 44256.
- Detección de los +5V antes de comenzar el test (implementada pero desactivada para comodidad de los betatesters).
- Se añade al gestor de errores el que muestre errores en el cableado.
Notas
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- Hay dos modos dependiendo de si se pulsa el botón OK(✓) con:
- pulsación corta, test simple que al concluir muestra el resultado (una vez acaban las pruebas sobre la memoria se puede abandonar con el botón BACK(↲) o repetir el test pulsando el botón AGAIN (↺)),
- pulsación larga, test automático que repite una y otra vez las pruebas sobre la memoria y a través del puerto serie facilita la información sobre el número de tests pasados, fallidos y totales (cada vez que acaban las pruebas se puede abandonar dejando pulsado el botón BACK(↲)).
Cambios respecto a la versión anterior
- Corrección de la asignación del puerto TX al zócalo ZIF (placa v1.02f) aunque no afectaba al funcionamiento en anteriores versiones pues solo tiene efecto en los tests de las 44256.
- Detección de los +5V antes de comenzar el test (implementada pero desactivada para comodidad de los betatesters).
- Se añade al gestor de errores el que muestre errores en el cableado.
Notas
- Esta versión no muestra la demo y no tiene ni test de pines, ni de botonera,...
- Para actualizar el firmware siempre hay que tener la precaución de no tener cables en J4 y el zócalo ZIF sin chip (vacío) pues en caso contrario puede producirse un error de comunicación con el Nano.
- No existe aún una verificación de las tensiones en J4 por lo que es importante asegurarse de que el cableado de J3 a J4 es correcto antes de colocar el chip en el zócalo ZIF pues, de otro modo, podría dañarse la memoria.
- Para comprobar el tester y/o sus modificaciones se recomienda utilizar la versión del firmware fw0.19.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Actualizado y testando sin problemas 4164 y 4116.
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- Hay dos modos dependiendo de si se pulsa el botón OK(✓) con:
Cambios respecto a la versión anterior
- Durante los tests continuos muestra en la pantalla, durante 1s o hasta que se pulse una tecla, los resultados parciales.
Notas
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- Información sobre el cableado de tensiones ("wiring") entre J3 y J4 (se debe fijar como se indica y, una vez hecho y verificado, colocar el chip en el zócalo ZIF)
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Cambios respecto a la versión anterior
- Durante los tests continuos muestra en la pantalla, durante 1s o hasta que se pulse una tecla, los resultados parciales.
Notas
- Esta versión no muestra la demo y no tiene ni test de pines, ni de botonera,...
- Para actualizar el firmware siempre hay que tener la precaución de no tener cables en J4 y el zócalo ZIF sin chip (vacío) pues en caso contrario puede producirse un error de comunicación con el Nano.
- No existe aún una verificación de las tensiones en J4 por lo que es importante asegurarse de que el cableado de J3 a J4 es correcto antes de colocar el chip en el zócalo ZIF pues, de otro modo, podría dañarse la memoria.
- Para comprobar el tester y/o sus modificaciones se recomienda utilizar la versión del firmware fw0.19.
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Re: Firmware fw0.21b
Eso está muy bien, para no tener el ordenador secuestrado mientras testea.
Gracias!
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Actualizado y funcionando .... testando en modo ciclico.
Yo dejaría la info de los test por lo menos un segundo mas o dos.En modo cíclico tampoco es tanto tiempo consumido y facilita el que de un vistazo ver el resultado sin parar el proceso.
Yo dejaría la info de los test por lo menos un segundo mas o dos.En modo cíclico tampoco es tanto tiempo consumido y facilita el que de un vistazo ver el resultado sin parar el proceso.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Este último fw0.21b es en realidad el mismo fw0.21a pero que muestra la información en pantalla. Necesitábamos esta prestación, que ya tenía la fw0.18 aunque ésta no tenía salida serie, para probar el tester sin ordenador (por las noches) para baterías de más de 4100 tests por lo que, sin existir problemas para hacer la espera tan larga como se deseara, mantener los resultados 2 segundos más en pantalla (como en el fw0.18) alargaba las pruebas alrededor de 2h 20m. De hecho el actual segundo de espera alarga ya las pruebas casi 1h 10m.
Para vuestra información con mi tester he realizado más de 4100 tests sin que dé ni un fallo. También he encontrado que a algunos clones de Nano, según les da cuando se inician, tienen un ruido en la tensión de ±200mV. Como digo lo raro es que no lo hagan siempre, ¡vivir para ver!
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Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
A ver ahora a modo de test lo veo correcto 4100 test no se van a hacer nunca o creo yo , luego para una version mas RC se puede alargar la muestra de resultados de cara a un uso ya real. yo en breve empezare a hacer test con una batería 14500 que en medidas AA es mas fácil de ubicar en una posible carcasa aun que será por baterías , el factor de forma no es relevante.
Por otro lado …esta memoria que siempre me dio OK en todos los test incluso ciclos ( eso si sin monitorizar en pc) me esta dando algun fallo.
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Por otro lado …esta memoria que siempre me dio OK en todos los test incluso ciclos ( eso si sin monitorizar en pc) me esta dando algun fallo.
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