Reglas del Foro
Aquí solo tienen cabida proyectos de hardware que incluyan siempre al menos sus esquemáticos para poder reproducirlos si llevan componentes electrónicos, y si es posible los ficheros del programa en que se hacen, los diseños de las placas, los gerber, etc. Si llevan algún tipo de software asociado debe estar diponible el código fuente
Para los que no cumplen estas condiciones se debe postear en el foro de proyectos generales.
geloalex escribió: ↑07 Oct 2022, 14:09A ver ahora a modo de test lo veo correcto 4100 test no se van a hacer nunca o creo yo , luego para una version mas RC se puede alargar la muestra de resultados de cara a un uso ya real.
No habría problema pero la verdad es que la parte que envía esa información por el puerto serie (por cierto, incompatible con las 44256), que la muestra por la pantalla e incluso el modo continuo para tests son prestaciones para las pruebas y, en principio, no había pretensión de que llegaran a la versión final.
geloalex escribió: ↑07 Oct 2022, 14:09Por otro lado …esta memoria que siempre me dio OK en todos los test incluso ciclos ( eso si sin monitorizar en pc) me esta dando algun fallo.
Con la conflictiva 4164 @Gomas48K#12 -que en general pasa el test- tengo por aquí el tester de @Gomas48K y en más de 4100 pruebas ha dado 32 fallos. No son ni un 8 por mil de falsos negativos pero 26 en casi 400 sí lo veo importante. Habrá que averiguar qué lo está produciendo.
Perdonad el retraso!
No sé si podré reastrear el problema de mi tester hoy (lo trataré) pero luego os pongo una lista de los integrados defectuosos que tengo, mejor que foto como bien apunto @cacharreo.
geloalex escribió: ↑07 Oct 2022, 10:56dejaría la info de los test por lo menos un segundo mas o dos.En modo cíclico tampoco es tanto tiempo consumido y facilita el que de un vistazo ver el resultado sin parar el proceso.
Dos soluciones para conseguir una espera de 3s después de mostrar los resultados.
1) Hacer una copia del fichero del firmware fw0.21b y con un editor de texto que permita buscar y reemplazar, buscar la cadena
Hola,
He hecho una lista, algunas me ha costado bastante y eso que he usado microscopio. Una en concreto... es una completa desconocida.
Se que tengo alguna más por ahí sueltas que están mal, pero no las he podido buscar. Esto es lo que tengo localizado:
geloalex escribió: ↑07 Oct 2022, 20:29Descargada y en pruebas....
De momento vamos asi
La verdad que son muchos fallos.
Puede ser que con la versión fw0.19 (o fw0.18) te funcionara correctamente y a partir de esa versión te de mas fallos?
Porque eso me pasaba a mi en mi prototipo, por eso se lo envíe a @cacharreo para que lo torturara un poco, yo no fui capaz de averiguar el porqué.
Lo puedes comprobar, volviendo a la fw0.18 (que tiene test en pantalla) y hacer la prueba de nuevo.
Sabes el ATmega328 que tiene tu Nano, por la firma interna?
Porque como hay muchos tipos de Atmega328XX... Originales AU, Originales PB, Falsos de Aries, Falsos de a saber qué... Falso con los pines desplazados...
Yo dependiendo del 328 que usara, variaba el numero de falsos negativos en los test.
A mi los que mas me han fallado siempre, son los ATmega328-TH (con un 328PB dentro).... Esos son raritos de narices!
Popopo escribió: ↑07 Oct 2022, 21:37¿Alguna es de utilidad para vosotros?
Gomas48K escribió: ↑08 Oct 2022, 01:24Puede ser que con la versión fw0.19 (o fw0.18) te funcionara correctamente y a partir de esa versión te de mas fallos?
Puede ser pero, ateniéndonos a los mensajes anteriores y por el seguimiento que llevo de este prototipo, los errores aparecieron con el fw0.21b pero no estaban en el fw0.21a.
Funcionamiento
- Logo
- Selección de chip (asegurarse de que el zócalo ZIF está vacío y no hay cables en J4)
- Información sobre el cableado de tensiones ("wiring") entre J3 y J4 (se debe fijar como se indica y, una vez hecho y verificado, colocar el chip en el zócalo ZIF)
- Hay dos modos dependiendo de si se pulsa el botón OK(✓) con:
pulsación corta, test simple que al concluir muestra el resultado (una vez acaban las pruebas sobre la memoria se puede abandonar con el botón BACK(↲) o repetir el test pulsando el botón AGAIN (↺)),
pulsación larga, test automático que repite una y otra vez las pruebas sobre la memoria y a través del puerto serie facilita la información sobre el número de tests pasados, fallidos y totales (cada vez que acaban las pruebas se puede abandonar dejando pulsado el botón BACK(↲)).
- Tests para memorias 4116, 4164, 4532-L, 4532-H y 4864 rellenando con 1s y con 0s.
Cambios respecto a la versión anterior
- Durante la espera en el test en modo continuo tras mostrar los resultados en pantalla facilita si el test falló (1) o no (0) mediante un pulso de 250ms a través del pin 12 del zócalo ZIF.
Notas
Esta versión no muestra la demo y no tiene ni test de pines, ni de botonera,...
Para actualizar el firmware siempre hay que tener la precaución de no tener cables en J4 y el zócalo ZIF sin chip (vacío) pues en caso contrario puede producirse un error de comunicación con el Nano.
No existe aún una verificación de las tensiones en J4 por lo que es importante asegurarse de que el cableado de J3 a J4 es correcto antes de colocar el chip en el zócalo ZIF pues, de otro modo, podría dañarse la memoria.
Para comprobar el tester y/o sus modificaciones se recomienda utilizar la versión del firmware fw0.19.
