Particularmente me gusta como lo muestras en las fotos... pines macho en placa y hembra en conectores.
Va de Retro DRAM tester [v2.00]
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Aquí solo tienen cabida proyectos de hardware que incluyan siempre al menos sus esquemáticos para poder reproducirlos si llevan componentes electrónicos, y si es posible los ficheros del programa en que se hacen, los diseños de las placas, los gerber, etc. Si llevan algún tipo de software asociado debe estar diponible el código fuente
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Me alegro un montón. Gracias por avisar.
Entiendo la preocupación, J2 está diseñado de ese modo porque es el formato convencional para añadirle al tester un teclado externo que necesitará al menos lo que le proporcionan los pines 2, 3 y 4. Lo que no llego a entender es qué pasó en el caso de Francisco, aprovechando que tenía Nanos en "garantía" hice eso mismo que dices solo por comprobarlo y como he repetido varias veces también hice la gatada equivalente al botón SPST a mala leche y como ahora estás confirmando (como antes hicieron otros), no conseguí más efecto que se desconectara el Nano por sí mismo y la pantalla se quedara negra pero aguantó sin quemarse. Se me ocurre una explicación, aunque tal vez sea mucho especular, y es que algunos clones con CH340x no sean idénticos que el original y el figura que los fabrique o venda ahorró algún componente cuya ausencia justifique este fallo.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
J2 como decimos debería quedarse como está. Por otra parte y de acuerdo a las últimas sugerencias, los conectores J3 y J4 machos y el cable de J3 hembra/hembra.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Se anunció aquí, en el mensaje con el firmware fw0.07 y en el vídeo se muestra un test real. Desde el fw0.07 están disponibles los tests de 0s y los tests de 1s para las memorias del modelo/grupo 0 (4116, 4164,...) aunque el firmware sólo hace el test de las 4164.
Si se trata de las memorias que muestra la demo automática es normal, para darle algo de chispa tiene alguna variación aleatoria pero los resultados siempre son los mismos, pero pasada dicha demo, el test de botonera y el test de pines, el tester muestra el test real para las memorias 4164 que debería funcionar y que se puede repetir a voluntad con solo pulsar cualquier botón una vez ha terminado.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Firmware fw0.07 para placa v1.02d con diodo de protección
Enlace a firmware 0.07 para las placas v1.02 y v1.02d
Enlace a firmware 0.07 para las placas v1.02 y v1.02d
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Yo estoy probando el fw0.07 con una 4164 pero nunca acaba, se queda la cuarta línea en A6: y salen números random a continuación.
https://ibb.co/kgzQ66n
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Interpretación del test de pines
Nota importante respecto a la fotografía: El add-on 1.05 está invertido. H01 debe ir alineado con Z01-F01 y H08 con Z08-F08.
Una vez colocado correctamente, además hay que conectar el pin que queda hacia arriba a sus respectivas alimentaciones, H01 a J2/3 (GND) y H08 a J2/4 (VCC).
Lo que muestra la fotografía no el test de memorias, es el test de pines.
Aunque usa una representación bastante convencional en electrónica aprovecho para explicar cómo interpretarlo. La primera línea muestra las decenas del número de pin, la segunda las unidades del número de pin, la tercera el estado del pin (0 ó 1) y la cuarta la lectura del valor del pin analógico A6 (conectado a ZIF/10). Por ejemplo, en la última columna vemos 1 7 0 que se leerá como "el valor leído en el pin digital 17 es 0"; en la segunda columna vemos 0 1 1 que se leerá como "el valor leído en el pin digital 01 es 1".
La lectura de los valores se hace siguiendo un sistema habitual en estos cacharretes:
Primera línea: Decenas
Segunda línea: Unidades
Tercera línea: Valor
Por ejemplo, si ves:
tienes que leer en vertical por columnas, por ejemplo,
- la primera columna es "001" lo que implica que D00 tiene el valor 1,
- la octava columna dice "071" eso quiere decir D07 tiene el valor 1.
Las 2 primeras líneas indican el número de pin, la tercera muestra el valor leído y es la única que cambia.
En una placa v1.02c o v1.02d (es decir, con las modificaciones propuestas) con J4/10 en vacío el valor analógico de A6 debe ser nulo (0). ¿Sabéis de algún Nano que varíe arbitrariamente los valores de un pin analógico cuando queda flotante? si no, estaría inclinado a pensar que los valores aleatorios en A6 deben ser causados por estática, por ejemplo, por tener el tester en la mano. Cualquier tensión entre 0 y +5V que se conecte a J4/10 debe mostrar un valor entre 0 y 1023 en A6, por ejemplo, si se conecta J3/2 (+5V) a J4/10 el valor de A6 será ~1023 en una placa v1.02c y ~968 en una v1.02d.
Desde el test de pines para llegar al test de memorias 4164 es tan fácil como pulsar cualquier botón para salir del primero. Recordad además que, como se indicaba en el mensaje del firmware, para poder hacer el test de las 4164 debéis tener conectado J3/2 (+5V) a J4/8 para alimentar el chip.
Si utilizáis memorias para las pruebas que no tengan muesca (notch) si no un simple círculo grabado (bajorrelieve) para señalar el pin 1, recomiendo encarecidamente rellenar el círculo grabado con un rotulador acrílico blanco para evitar colocar el chip al revés en el zócalo ZIF porque, en ciertas condiciones de iluminación, ese circulo no es claro y puede confundirse con otro en el extremo contrario de la memoria.
Con el firmware fw0.07 para llegar al test de memorias real con el Nano recién arrancado, esperáis a que desaparezca la presentación con el logo, comienza la demo, pulsáis cualquier botón, aparece el test de pines, pulsáis cualquier botón y comienza el test de memorias (se debe tener la memoria en el zócalo ZIF y la alimentación en J4 lista antes).
Una vez colocado correctamente, además hay que conectar el pin que queda hacia arriba a sus respectivas alimentaciones, H01 a J2/3 (GND) y H08 a J2/4 (VCC).
Lo que muestra la fotografía no el test de memorias, es el test de pines.
Aunque usa una representación bastante convencional en electrónica aprovecho para explicar cómo interpretarlo. La primera línea muestra las decenas del número de pin, la segunda las unidades del número de pin, la tercera el estado del pin (0 ó 1) y la cuarta la lectura del valor del pin analógico A6 (conectado a ZIF/10). Por ejemplo, en la última columna vemos 1 7 0 que se leerá como "el valor leído en el pin digital 17 es 0"; en la segunda columna vemos 0 1 1 que se leerá como "el valor leído en el pin digital 01 es 1".
La lectura de los valores se hace siguiendo un sistema habitual en estos cacharretes:
Primera línea: Decenas
Segunda línea: Unidades
Tercera línea: Valor
Por ejemplo, si ves:
tienes que leer en vertical por columnas, por ejemplo,
- la primera columna es "001" lo que implica que D00 tiene el valor 1,
- la octava columna dice "071" eso quiere decir D07 tiene el valor 1.
Las 2 primeras líneas indican el número de pin, la tercera muestra el valor leído y es la única que cambia.
En una placa v1.02c o v1.02d (es decir, con las modificaciones propuestas) con J4/10 en vacío el valor analógico de A6 debe ser nulo (0). ¿Sabéis de algún Nano que varíe arbitrariamente los valores de un pin analógico cuando queda flotante? si no, estaría inclinado a pensar que los valores aleatorios en A6 deben ser causados por estática, por ejemplo, por tener el tester en la mano. Cualquier tensión entre 0 y +5V que se conecte a J4/10 debe mostrar un valor entre 0 y 1023 en A6, por ejemplo, si se conecta J3/2 (+5V) a J4/10 el valor de A6 será ~1023 en una placa v1.02c y ~968 en una v1.02d.
Desde el test de pines para llegar al test de memorias 4164 es tan fácil como pulsar cualquier botón para salir del primero. Recordad además que, como se indicaba en el mensaje del firmware, para poder hacer el test de las 4164 debéis tener conectado J3/2 (+5V) a J4/8 para alimentar el chip.
Si utilizáis memorias para las pruebas que no tengan muesca (notch) si no un simple círculo grabado (bajorrelieve) para señalar el pin 1, recomiendo encarecidamente rellenar el círculo grabado con un rotulador acrílico blanco para evitar colocar el chip al revés en el zócalo ZIF porque, en ciertas condiciones de iluminación, ese circulo no es claro y puede confundirse con otro en el extremo contrario de la memoria.
Con el firmware fw0.07 para llegar al test de memorias real con el Nano recién arrancado, esperáis a que desaparezca la presentación con el logo, comienza la demo, pulsáis cualquier botón, aparece el test de pines, pulsáis cualquier botón y comienza el test de memorias (se debe tener la memoria en el zócalo ZIF y la alimentación en J4 lista antes).
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Actualizada la placa con la ultima modificación (diodo 1N5817) y actualizado al ultimo FIRM.
TESTEANDO satisfactoriamente
TESTEANDO satisfactoriamente
Última edición por geloalex el 29 Abr 2022, 17:52, editado 2 veces en total.
SpectrumZX81,ZX48,ZX48+,ZX128+2+3CommodoreA1200,A500,C64,C64C,C16AmstradCPC464,CPC6128MSXHB20P,HB75P,HBF1,HBF1XD,SVI728,8020Atari2600Sixer,2600Jr,7800PhillipsVideopacG7000NintendoGB,GBC,GBA,NES,FAMICOM,SNES,N64PCEnginePCEngine,PCEngineDUOSegaGG,SMS,SMS2,MD1,MD2,MEGACD2,SATURN,DC,NAOMIMicrosoftXBOX360Sony PS1,PS2,PS3,PS4,PSP,PSVitaMINISNES,SNES,MD,PSX INSTAGRAM: geloalex
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Por curiosidad, ¿el 1N5817?
A todos los que tenéis el tester montado con el fw0.07 o una versión anterior, si no habéis actualizado el firmware desde antes de la publicación del fw0.07d (28 de Abril) os recomiendo que lo actualicéis al firmware que os corresponda (fw0.07 para la placa v1.02, fw0.07d para la placa v1.02d con diodo de protección 1N5817). No hay grandes cambios pero os permitirá abortar la demo en cualquier momento y saltar al test de pines sin tener que esperar casi 2 minutos.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
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