Interesante, lo miro ya
Va de Retro DRAM tester [v2.00]
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Aquí solo tienen cabida proyectos de hardware que incluyan siempre al menos sus esquemáticos para poder reproducirlos si llevan componentes electrónicos, y si es posible los ficheros del programa en que se hacen, los diseños de las placas, los gerber, etc. Si llevan algún tipo de software asociado debe estar diponible el código fuente
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Si cuando lo veas te parece interesante puedes añadirlo a la colección de vídeos de testers que está enlazada en el primer mensaje. Te dejo el enlace directo.
© cacharreo
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Gracias! Por si no nos hemos entendido bien, el mensaje principal es el que tiene el subtitulo "NANOS CON MEGA328PU-TH"
He hecho algunas correcciones (como el subtitulo, mas apropiado) y según vaya descubriendo cosas, lo voy actualizando.
Mi primera chincheta!!!!
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- cacharreo
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Recibidas unas nuevas víctimas (memorias) y la placa de @Gomas48K. Estos han sido los resultados de las pruebas:
en su placa v1.02 el test de pines mostraba los resultados esperados excepto que al conectar J4/1 a tierra no cambia a 0 y, como se ve en la tabla anterior, fallaba con los tests de memorias.
Este primer resultado es útil para todos porque después de investigar se observa que los clones de Nano con CH340x o con un FT232RL chusco tienen el pin D0 (RX, pin #1 del Nano y del zócalo ZIF) conectado directa o casi directamente a (una fuente) +5V por lo que está virtualmente inutilizado (concretamente a un pin del USART). En el estado actual del tester no se notaría ningún efecto pero tal cual están implicaría que en el futuro no sería posible llevar a cabo un test sobre una memoria como la 44256 cuyo bit 0 (DQ0) de lectura/escritura está conectado a dicho pin.
La solución obvia es utilizar Arduinos Nano originales o al menos con FT232RL como indicaban las especificaciones originales pero, para facilitar las compras después de algunas pruebas este obstáculo es salvable añadiendo una resistencia pull-down de 220Ω al nodo F01-Z01 con cierto coste como que debilita la protección contra sobretensión en ese pin y que posiblemente obligue a extraer el Nano para actualizar el firmware. Esta resistencia (opcional) se podría incorporar a la última versión de la placa aunque en la lista de componentes (BOM) se subrayaría que solo es necesaria en este caso. ¿Y cómo se puede saber? Con el test de pines cuando D0 no reaccione al conectar alternativamente a GND o +5V a J4/1. Aún así esta modificación puede ser todo temporal porque cuando se realice la optimización en la asignación de pines para la versión final quizás no sea necesaria.
En cuanto a la placa v1.02 de @Gomas48K, de momento tiene F13 y Z13 chungos, el uno y el otro (variando según les daba el valor de A7). Extraídos del circuito y sustituyendo F13 por un puente el test de las 4164 funciona perfecto.
Como colofón añadiría que, en mi opinión, no me parece muy buena idea instalar pines macho/hembra normales como interfaz con el Nano. Después de conectarlo y desconectarlo unos cientos de veces a la placa, las conexiones se vuelven inestables llegando a producir curiosos efectos como, entre otros, reinicios espontáneos con que sople una brizna de viento que mueva el cable USB.
id | v1.02 | DIAGROM 1.56 | RCT Pro | v1.02 test |
---|---|---|---|---|
#12 | ✓ | ✓ | ✓ | ✖ |
#13 | ✓ | ✓ | ✓ | ✖ |
#14 | ✓ | ✓ | ✓ | ✓ |
#15 | ✓ | ✓ | ✓ | ✖ |
Este primer resultado es útil para todos porque después de investigar se observa que los clones de Nano con CH340x o con un FT232RL chusco tienen el pin D0 (RX, pin #1 del Nano y del zócalo ZIF) conectado directa o casi directamente a (una fuente) +5V por lo que está virtualmente inutilizado (concretamente a un pin del USART). En el estado actual del tester no se notaría ningún efecto pero tal cual están implicaría que en el futuro no sería posible llevar a cabo un test sobre una memoria como la 44256 cuyo bit 0 (DQ0) de lectura/escritura está conectado a dicho pin.
La solución obvia es utilizar Arduinos Nano originales o al menos con FT232RL como indicaban las especificaciones originales pero, para facilitar las compras después de algunas pruebas este obstáculo es salvable añadiendo una resistencia pull-down de 220Ω al nodo F01-Z01 con cierto coste como que debilita la protección contra sobretensión en ese pin y que posiblemente obligue a extraer el Nano para actualizar el firmware. Esta resistencia (opcional) se podría incorporar a la última versión de la placa aunque en la lista de componentes (BOM) se subrayaría que solo es necesaria en este caso. ¿Y cómo se puede saber? Con el test de pines cuando D0 no reaccione al conectar alternativamente a GND o +5V a J4/1. Aún así esta modificación puede ser todo temporal porque cuando se realice la optimización en la asignación de pines para la versión final quizás no sea necesaria.
En cuanto a la placa v1.02 de @Gomas48K, de momento tiene F13 y Z13 chungos, el uno y el otro (variando según les daba el valor de A7). Extraídos del circuito y sustituyendo F13 por un puente el test de las 4164 funciona perfecto.
Como colofón añadiría que, en mi opinión, no me parece muy buena idea instalar pines macho/hembra normales como interfaz con el Nano. Después de conectarlo y desconectarlo unos cientos de veces a la placa, las conexiones se vuelven inestables llegando a producir curiosos efectos como, entre otros, reinicios espontáneos con que sople una brizna de viento que mueva el cable USB.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
De momento tengo los resultados de las pruebas con la placa de @Gomas48K, los de todos los pines en la de @geloalex que amablemente me ha enviado el cumpleañero y los míos. ¿Podéis confirmarme qué resultado obtenéis en D0 con el test de pines al conectar J4/1 a GND y después a +5V? Gracias.
Antes se había intentado una solución por software. Si con estos Nanos el problema proviene de la línea RX que está siempre en estado alto, ¿sería posible deshabilitarla? Toda la documentación online especula con que si el programa no utiliza el puerto serie (falso), si no invoca a Serial.begin (falso), si se llama a Serial.end (falso), bla, bla, bla,... D0 (RX) y D1 (TX) deberían poder utilizarse como cualesquiera otros pines digitales pero no he dado con la tecla. Se ha probado a buscar y eliminar cualquier referencia a Serial, deshabilitar la USART por mil y un sistemas (librerías, manipulación directa de registros,...), deshabilitar las ISRs del puerto serie,... todo esto a la vez y no me ha sido posible, por lo que no quedando otra he optado por la resistencia adicional.
A propósito de la placa reparada, va a ser que @Gomas48K tenía razón al 100%. Estaba dando los últimos retoques a su placa mientras repetía una y otra vez los tests sobre el chip @Gomas48K#13 con su "zener" Z13 por ahí al lado y fijaos lo que ha ocurrido. ¡Inaudito!
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Buen trabajo @cacharreo.
Está visto, que cada vez que hacen una copia de otra copia, lo hacen peor.
Que manía de intentar abaratar costes!!! Y encima para unos miseros céntimos.
Lo mosqueante, que los dos en el mismo canal estén mal... no se, no es demasiada casualidad? (hablando de casualidades imposibles)
No creo que haya sido forzado, porque las pruebas que se han realizado, no pueden dañar esos componentes... Lo único cuando le zurré 24 voltios en vena al prototipo, que ya dejé de hacer pruebas, porque me quedé sin Nano bueno... pero es muy improbable que pudiera dañarlos y menos los dos componentes en solo un canal.... no tenía ninguna memoria en el zif, ni alimentación en J4.
Me pasan cosas muuuu raras.
Mil gracias @cacharreo.
El Nano con el que empecé a montar el prototipo, era de prestado de un M.G. v4... no tenía elección.cacharreo escribió: ↑19 May 2022, 13:35 Como colofón añadiría que, en mi opinión, no me parece muy buena idea instalar pines macho/hembra normales como interfaz con el Nano. Después de conectarlo y desconectarlo unos cientos de veces a la placa, las conexiones se vuelven inestables llegando a producir curiosos efectos como, entre otros, reinicios espontáneos con que sople una brizna de viento que mueva el cable USB.
Falla también en mi prototipo?
Porque no se me había reiniciado ni una sola vez anteriormente... y he hecho pruebas de vibración y maltrato del prototipo, para comprobar fiabilidad.
De todas formas, viendo la calidad de las ballestillas de esos conectores, Tampoco se puede esperar mucho trote.
cacharreo escribió: ↑19 May 2022, 17:18 A propósito de la placa reparada, va a ser que @Gomas48K tenía razón al 100%. Estaba dando los últimos retoques a su placa mientras repetía una y otra vez los tests sobre el chip @Gomas48K#13 con su "zener" Z13 por ahí al lado y fijaos lo que ha ocurrido. ¡Inaudito!
Tu echa leña al fuego!!!!
Que bueno!!!!
Ya verás como el resonador empiece a vibrar con la melodia de "El Exorcista"...
Edito:
Por cierto... es el Cumpleaños de @geloalex?????
FELICIDADES!!!!!
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
De nada.
Y en la serigrafía al lado del LED de encendido en vez de "POW" dice "POM".
Esta es la conversación del día por aquí. Es muy muy difícil pero indudable porque se ha probado el prototipo con solo el zener Z13 y con solo el fusible F13 y fallaba con ambos. Con un fusible nuevo iba bien, con un zener nuevo y un puente donde el fusible, también.
Es extremadamente raro.
Te simplifico la respuesta, solo falla en tu prototipo. Muevo el cable miniUSB, el cable que no el conector, por lejos que sea se reinicia; y, obviamente, muevo el Nano en su zócalo y se reinicia. Al principio no sabía que era, pensé que era mi cable, probé con otro y seguía igual; pensé que el conector habría cogido holgura, lo comprobé pero no; y ya vi que era el "zócalo" improvisado con dos tiras de pines hembra.
Al cabo del tiempo se quedarán muy abiertas.
Cumpleañero y betatester de esta placa loca, ¡casi ná! Hay un tema en el foro para sus felicitaciones.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Tela....
Gracias!!! ni sabía que en "Off Topic" se felicitaba.
Felicitado también por ahí.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Por si os lo habéis preguntado, el conjunto de LED y su resistencia (a +5V) no es el responsable del casi permanente estado lógico alto de dichos pines, el origen está en el propio chip de comunicaciones USB-serie.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Buena observación!!! Yo hubiese sospechado mas del conjunto de Led y resistencia, que del CH340x
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