Binarios
- Firmware (78.8KiB)
- Logo
Fase 1
- Selección de chip
- Cancelación en la pantalla de "wiring"
- Selección de chip
- Test de memoria fallido
- Selección de chip
- Test de memoria correcto
- Repetición del test
- Muestra todas las memorias
Fase 2
- Test de pines (el usuario puede utilizar J3 y un cable conectado a J2/GND (o al pin 20 del zócalo ZIF) para hacer conexiones a los pines 1-19 de J4 y ver su lectura en la pantalla, se acaba al pulsar simultáneamente UP(◀) y OK(✓))
Fase 3
- Test de botonera (el usuario puede moverse por el menú pulsando UP(◀),DOWN(▶),BACK(⌂),OK(✓) y finalizar este test pulsando simultáneamente UP(◀) y OK(✓))
Fase 4
- Cada fase puede cancelarse y saltar directamente a la siguiente.
- Test de memorias 4164 rellenando con 1s y con 0s.
- Antes de empezar los tests de memorias deben conectarse J3/+5V con J4/8.
- Tiene dos modos dependiendo de si se inicia con:
- pulsación corta, test individual de memorias 4164 que al concluir muestra el resultado y al pulsar cualquier botón repite el test,
- pulsación larga, test automático que repite una y otra vez el test y en la última fila de la pantalla facilita la información sobre el número de tests pasados, fallidos y totales.
Para actualizar el firmware siempre hay que tener precaución de no tener cables en J4 y el zócalo ZIF sin chip (vacío) pues en caso contrario puede producirse un error de comunicación con el Nano.