Va de Retro DRAM tester [v2.00]

[cacharreo]

Autor: cacharreo
Fecha de publicación original: 21 Sep 2022, 19:51

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Completados los 400 tests pasados con la TMS4116-15NL (@Gomas48K#7) y otros 100 tests pasados con la KM4164B-15 (@issalig#A).

[cacharreo]

Autor: Gomas48K
Fecha de publicación original: 21 Sep 2022, 22:21

Como partimos de que los ciclos en fw0.19 funcionaban bien, teniendo en cuenta que en versiones posteriores son muy poco más lentos, quizás por tiempos pudiera provocar un fallo de corrupción por un lento refresco de los bits en una memoria de 65536 bits pero con solo 16384 bits como las 4116 o hay un error gordo en el código (como una metedura de pata que no estaba en la versión fw0.19), o no sería achacable a la insignificante pérdida de velocidad en el refresco de la DRAM.

Como puede ser que haya tanta diferencia entre prototipos? Porque a @geloalex y a ti te van bien, el mio no... Tan críticos van los tiempos, que a una pequeña variación de un aparato a otro haga que falle? Tanta tolerancia hay entre componentes?
Eso puede ser un problema cuando se compren componentes en diferentes fuentes, para hacer los montajes de los aparatos finales.

La única diferencia significativa que tengo, es el diodo D1 (cara soldaduras) puenteado, porque me bajaba demasiado la alimentación.

Voltajes medidos en el zocalo ZIF con memoria 4116 puesta:
+5V - +4.69V.
+12V - +12.04V.
-5V - -4.69V.

Consumo general:
En reposo - 56mA.
Testeando - 66mA.

Pero no creo que una pequeña variación de voltajes entre equipos, pueda afectar tanto... no se.

Editado

Correción en la medida del zif +5V. bailé los numeros

[cacharreo]

Autor: cacharreo
Fecha de publicación original: 22 Sep 2022, 04:24

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¿Como puede ser que haya tanta diferencia entre prototipos? Porque a @geloalex y a ti te van bien, el mio no... Tan críticos van los tiempos, que a una pequeña variación de un aparato a otro haga que falle? Tanta tolerancia hay entre componentes?
Eso puede ser un problema cuando se compren componentes en diferentes fuentes, para hacer los montajes de los aparatos finales.

En efecto y por eso no descartamos nada. Hay que ver de dónde proceden las diferencias porque el resultado debe ser estable pero, antes de nada, creo que lo prudente es esperar a otras pruebas si es posible.

La única diferencia significativa que tengo, es el diodo D1 (cara soldaduras) puenteado, porque me bajaba demasiado la alimentación.

Es una diferencia importante porque los Nanos tienen una lógica TTL peculiar y si la bajada de tensión es suficiente para que confunda 0s con 1s ya estaría liada.

Voltajes medidos en el zocalo ZIF con memoria 4116 puesta:
+5V - 4.96V.
+12V - 12.04V.
-5V - -4.69V.

Consumo general:
En reposo - 56mA.
Testeando - 66mA.

Veo diferencias llamativas sobre todo en la corriente. En mi caso midiendo con el AT34, conectado entre el concentrador USB y el tester, con la memoria 4116 instalada en el ZIF, la tensión es de +4.9V-+5.0V y la corriente en reposo queda en el rango 33mA-35mA que se va a 36mA-38mA durante el test. Cambiando el AT34 con el tester a varios cargadores USB (15W, 18W, 100W) la tensión sube a +5.0 y +5.1V mientras que la corriente en reposo es de 47mA y de 51mA durante el test.

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Autor: geloalex
Fecha de publicación original: 22 Sep 2022, 05:53

En cuanto llegue a casa mido y posteo mis consumos y voltajes.
Lo que si esta claro es que los que se hagan para la tirada, se pidan los Nanos al mismo proveedor. También creo que una vez este la placa nueva se van a evitar estas placas con modificaciones , cortes y puentes y se minimizaran al máximo los errores propios de los prototipos que es lo que son , tenemos que pensar en que cuando estén funcionando tal como lo están haciendo , es de suponer que las nuevas generaciones o revisiones de placa , eliminaran de la ecuación los problemas derivados como interferencias , falsos contactos (propios de las tiras de pines hembra que algunos tenemos) así como errores propios de las modificaciones. Estamos en el buen camino , es cuestión de ir limando.
Por otro lado , algunas de las memorias a testear , no las tengo en stock , seria bueno de cara a las pruebas mas extensas el que disponga de unidades ceder temporalmente alguna unidad VALIDA (siendo responsabilidad por supuesto del Betatester el no joderla) y alguna unidad MALA y al final de las pruebas devolverlas .... es una sugerencia.

[cacharreo]

Autor: cacharreo
Fecha de publicación original: 22 Sep 2022, 08:33

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En cuanto llegue a casa mido y posteo mis consumos y voltajes.

Genial, va a ser curioso compararlos. Medir la tensión en el mismo ZIF (p.e. pines 13 y 20 con una 4116 situada en el zócalo) como ha hecho @Gomas48K quizás sea significativo, en mi tester cae casi 1V (+3.99V) respecto a la medida con el AT34.

Lo que si esta claro es que los que se hagan para la tirada, se pidan los Nanos al mismo proveedor.

Una solución ideal porque evitamos clones de Nano con diseños extraordinariamente creativos.

Sería terrorífico comparar las imágenes de rayos X de tantos y tantos clones con diferencias que pueden ser abismales. Visto lo visto ni siquiera me extrañaría que hubiera variaciones relevantes en la velocidad del reloj del microprocesador.

es de suponer que las nuevas generaciones o revisiones de placa, eliminaran de la ecuación los problemas derivados

Debería llevar hasta cápsula hermética para el agua bendita.

Por otro lado , algunas de las memorias a testear , no las tengo en stock , seria bueno de cara a las pruebas mas extensas el que disponga de unidades ceder temporalmente alguna unidad VALIDA (siendo responsabilidad por supuesto del Betatester el no joderla) y alguna unidad MALA y al final de las pruebas devolverlas .... es una sugerencia.

Buena sugerencia. Añadiría que es muy fácil fastidiar una memoria por colocarla en el ZIF con los cables en J4 colocados para otro tipo, mucha atención a esto con los cambios, en especial de las 4116 a otras.

[cacharreo]

Autor: Gomas48K
Fecha de publicación original: 23 Sep 2022, 10:24

Voltajes medidos en el zocalo ZIF con memoria 4116 puesta:
+5V - 4.96V.
+12V - 12.04V.
-5V - -4.69V.

Consumo general:
En reposo - 56mA.
Testeando - 66mA.

Veo diferencias llamativas sobre todo en la corriente. En mi caso midiendo con el AT34, conectado entre el concentrador USB y el tester, con la memoria 4116 instalada en el ZIF, la tensión es de +4.9V-+5.0V y la corriente en reposo queda en el rango 33mA-35mA que se va a 36mA-38mA durante el test. Cambiando el AT34 con el tester a varios cargadores USB (15W, 18W, 100W) la tensión sube a +5.0 y +5.1V mientras que la corriente en reposo es de 47mA y de 51mA durante el test.

Mil disculpas... bailé los números de la medición del ZIF +5V.
Ya está corregido.
El voltaje correcto es +4.69V.

Por otro lado , algunas de las memorias a testear , no las tengo en stock , seria bueno de cara a las pruebas mas extensas el que disponga de unidades ceder temporalmente alguna unidad VALIDA (siendo responsabilidad por supuesto del Betatester el no joderla) y alguna unidad MALA y al final de las pruebas devolverlas .... es una sugerencia.

A mi también me vendría bien, Porque solo tengo Spectrum y el resto de memorias no las voy a usar en la vida.
Comprar un lote (suelen vender mínimo 10) es un gasto extra, que ya se me sale un poco de presupuesto.

También se puede hacer una compra conjunta entre los betatester y repartirnos un par de memorias de cada tipo... Siempre sería mas barato que comprar todos por separado.

Debería llevar hasta cápsula hermética para el agua bendita.

Añadiría que es muy fácil fastidiar una memoria por colocarla en el ZIF con los cables en J4 colocados para otro tipo, mucha atención a esto con los cambios, en especial de las 4116 a otras.

Yo solo tengo encima del banco de trabajo, las memorias del mismo tipo que voy a testear.
Cuando quiero cambiar de tipo, desconecto todos los cables de J4, guardo unas memorias y saco el siguiente tipo.
Es un método algo "infantil" pero bastante efectivo.

[cacharreo]

Autor: cacharreo
Fecha de publicación original: 23 Sep 2022, 12:15

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El voltaje correcto es +4.69V.

Son mejores números pero aún así la diferencia de consumo en mW es significativa (+20-70%).

También se puede hacer una compra conjunta entre los betatester y repartirnos un par de memorias de cada tipo... Siempre sería mas barato que comprar todos por separado.

Una interesantísima propuesta que suscribo.

Yo solo tengo encima del banco de trabajo, las memorias del mismo tipo que voy a testear.
Cuando quiero cambiar de tipo, desconecto todos los cables de J4, guardo unas memorias y saco el siguiente tipo.
Es un método algo "infantil" pero bastante efectivo.

El problema aparece cuando se coge confianza, hacer pruebas o cambios rápidos de unas a otras e ignorar que los cables están en J4. El método que propones aplicado sistemáticamente es muy efectivo.

[cacharreo]

Autor: cacharreo
Fecha de publicación original: 23 Sep 2022, 12:24

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Versión 1.05c

RAM tester


Módulo de protección de pines


Módulo de protección para el pin 1


Módulo de protección para el pin 8


Módulo convertidor DC-DC +5V-5V


Módulo convertidor DC-DC HW-668


Módulo de entrada (botonera)


Módulo de salida (pantalla OLED 0.91"/0.96"/1.3") ⁽¹⁾


Notas para el ensamblaje
- Se aconseja decidir de entrada si se va a utilizar o no un módulo HW-668.
- En caso negativo es muy recomendable montar (e incluso probar) el step-up DC-DC antes que el resto de componentes.
- Confirmar el sentido del diodo D31 antes de montar.
- Intentar soldar U31 a un máximo de 300ºC/10s.

Lista de componentes (109)

Cantidad	Referencia	Valor
1	U31	SX1308 SMD SOT-23-6 (opcional HW-668)
1	R31	200Ω 1/8W 1% SMD 0805 (opcional HW-668)
2	C31,C32	18µF 50V SMD 0805 (opcional HW-668)
1	D31	SS34 Rectificador Schottky 40V 3A SMD SMA (opcional HW-668)
5	R4,R6,R8,R01,R08	10kΩ 1/4W 1%
5	R1,R2,R3,R5,R7	20kΩ 1/4W 1%
1	D1	SB140-T 40V 1A
19	Z01,Z02,Z03,Z04,Z05,Z06,Z07,Z08,Z09,Z10,	1N4733A 5.1V 1W
	Z11,Z12,Z13,Z14,Z15,Z16,Z17,Z18,Z19
1	F1	Fusible rearmable PPTC 6V 250mA
19	F01,F02,F03,F04,F05,F06,F07,F08,F09,F10,	Fusible rearmable PPTC 6V 30mA
	F11,F12,F13,F14,F15,F16,F17,F18,F19
1	C3	100nF 25V MLCC
1	U3	Zócalo de agujero redondo DIP-8
1	C4	10µF 25V 4x7mm electrolítico
1	C2	47µF 25V 5x11mm electrolítico
1	C1	220µF 25V 6.3x11.5mm electrolítico
1	L31	4.7µH SMD LQ55DN (opcional HW-668)
1	Q01	BS250 TO-92-3
1	Q08	2N7000 TO-92-3
4	SW1,SW2,SW3,SW4	◀,▶,↲,✓ (push tactile switches SPST 6x6x4.3mm) ⁽²⁾
1	J1	I2C/OUTPUT Pines hembra 1x05 2.54mm
1	J1'	I2C Pines hembra 1x04 2.54mm
1	J2	INPUT Pines macho 1x04 2.54mm
1	J0	ICSP Pines macho 2x03 2.54mm (opcional)
1	J3	POWER_RAIL Pines macho 1x04 2.54mm
1	J3'	POWER_RAIL Housing DuPont hembra 1x04 𝄩2.54mm (con el penúltimo pin bloqueado)
1	J4	POWER Pines macho 2x10 2.54mm
2	J5	Pines hembra de agujero redondo 1x15 2.54mm (para zócalo del Nano)
2	J5'	Pines macho de agujero redondo 1x15 2.54mm (para el Nano) ⁽³⁾
4	J6,J7,J8,J9	VIN+,VIN-,VOUT+,VOUT- Pin de latón 1.00mm (para fijar el módulo HW-668)
1	JP5	DCTRL Pines macho 1x02 2.54mm
1	SW0	Conmutador DPDT SK-22D07 (opcional)
1	U2	ZIF socket 20pos
1	U3	LMC7660 (montado sobre zócalo U3)
1	HW-668	Módulo compacto HW-668 (opcional)
1	RV31	Trimmer 10kΩ Bourns/Baoter 3/8" 3296W-1 (opcional HW-668)
1	U1	Arduino Nano (montado sobre zócalo J5) ⁽⁴⁾
1	J1	Pantalla OLED 0.91" I2C 128x32 píxeles amarilla, azul o blanca (sobre J1) (opción)
1	J1'	Pantalla OLED 0.96"/1.3" I2C 128x64 píxeles amarilla, azul o blanca (sobre J1') (opción)
1	JP1	Puente cerrado de 2 pines 2.54mm para habilitar los botones en INPUT
1	JP2	Puente cerrado de 2 pines 2.54mm para habilitar en JP5 los +5V en J3, J4, el zócalo ZIF y los conversores DC-DC
3	W1,W2,W3	Cables DuPont F-F 10cm para puentes entre POWER y -5V,+5V y +12V ⁽⁵⁾
1	PCB	Placa VaDeRetro RAM Tester
5	S1	Tornillo de nylon M3 6mm negro
5	S2	Espaciador de nylon M3 10mm negro
1	S3	Espaciador de nylon M3 8mm con rosca de 6mm negro
1	J3/3	Pin de bloqueo ⁽⁶⁾

Lista de componentes del módulo HW-668 (ya incluida en la anterior)

Cantidad	Referencia	Valor	Formato
1	R31	200Ω 1/8W 1%	0805
2	C31,C32	18µF 50V	0805
1	U31	SX1308	SOT-23-6
1	D31	SS34 Rectificador Schottky 40V 3A	SMA
1	L31	4.7µH	LQ55DN
1	RV31	Trimmer 10kΩ Bourns/Baoter 3/8" 3296W-1	0.375" Trimpot 3 pins

Lista de componentes interactiva

Gerbers
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PCB




⁽¹⁾ Especial atención a las pantallas, deben ser II2 o I²C (algunas vienen sin interfaz, otras con 7 pines para SPI) y, por la buena salud de la pantalla y del tester, los 4 pines deben seguir el orden de J1 o J1'.
⁽²⁾ La altura del vástago en los botones debe ser diferente si se pretende montar el tester en una carcasa y estos quedan en la placa. Si se van a usar botones de panel, en la placa se sueldan los 2 pines inferiores en el lugar de cada botón.
⁽³⁾ Se pueden usar en su lugar pines DuPont hembra y macho convencionales pero el Arduino Nano quedará bastante más alto.
⁽⁴⁾ Arduino NANO R3 con ATMega328P a 16MHz, FTDI FT232RL, gestor de arranque "nuevo" (optiboot) y pines redondos.
⁽⁵⁾ Blanco, rojo y amarillo respectivamente.
⁽⁶⁾ DuPont Blocking Pin / AMP-LATCH Keying Plug TE 499712-1 / Harwin M20-003 Polarising Pin.

[cacharreo]

Autor: cacharreo
Fecha de publicación original: 23 Sep 2022, 12:35

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Este último diseño de placa incorpora como novedades los cambios en los pines del Nano y del ZIF/J4 correspondientes a las últimas modificaciones (1.02e, 1.02f,...) además de proporcionar más control sobre la alimentación en J3, J4 y el ZIF a través de la nueva tira 1x02 JP5 a la izquierda de J3, cuyos pines se pueden unir a gusto del consumidor mediante una soldadura o un jumper. Con JP5 abierto, no hay tensiones en J3, ni J4 ni en el ZIF.

El objetivo final no es poder habilitar/deshabilitar las tensiones en J3, J4 y el ZIF poniendo o quitando un jumper si no más bien dejar ese aspecto centralizado en un punto (JP5) quedando el diseño preparado para que si en el futuro hallamos la forma de añadir cierta lógica de control, el tester automáticamente pueda realizar la conmutación (con solo añadir un MOSFET y sus resistencias).

[cacharreo]

Autor: Gomas48K
Fecha de publicación original: 23 Sep 2022, 13:40

Perfecto , tiene buena pinta.