Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Proyectos de hardware con sus esquemáticos y si llevan software en fuente

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Aquí solo tienen cabida proyectos de hardware que incluyan siempre al menos sus esquemáticos para poder reproducirlos si llevan componentes electrónicos, y si es posible los ficheros del programa en que se hacen, los diseños de las placas, los gerber, etc. Si llevan algún tipo de software asociado debe estar diponible el código fuente

Para los que no cumplen estas condiciones se debe postear en el foro de proyectos generales.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por cacharreo »

Segunda parte de las pruebas con la 4164 @issalig#B (viene de aquí).

Anteriormente planteamos la hipótesis de que se escribe un bit en una dirección de memoria y si se comprueba inmediatamente sigue al mismo valor pero muy poco después el valor se altera (según los resultados, posiblemente tienda a cambiar a nivel alto).

En las pruebas vimos que los tests sobre esta memoria fallaban siempre o casi siempre cuando ensayábamos con el test para memorias 4164; que la tasa de tests erróneos era del 50% con el test para memorias 4116; y que no había una diferencia significativa probando con los tests de 4532-L y 4532-H. Podemos intentar una aproximación diferente para confirmar nuestra hipótesis.

En el firmware hay un fichero de cabeceras llamado tester.h que entre otras muchas constantes alberga una lista de descriptores, cada uno de ellos describe cada tipo de memoria, entre los valores de cada descriptor está el número de bits del bus de direcciones que para las memorias 4164 toma el valor 8. Con 8 bits en el bus de direcciones multiplicando filas por columnas vemos que se comprueban 2⁸ x 2⁸ = 2¹⁶ = 64kbits y sabemos que así los tests fallaban casi siempre. Si editamos el descriptor de las 4164 y cambiamos el número de bits del bus de direcciones de 8 a 7 se comprobarían 2⁷ x 2⁷ = 2¹⁴ = 16kb, lo que equivaldría a hacer el test de las memorias 4116 y los resultados cambian, la tasa de tests fallidos respecto a los totales se va al 50%. En la misma línea, volvemos a editar el número de bits del bus de direcciones del descriptor de 7 a 6 que se comprobarían 2⁶ x 2⁶ = 2¹² = 4kb y, como cabía esperar, ahora la tasa de tests fallidos es del 3%. Repetimos editando el número de bits del bus de direcciones del descriptor cambiándolo de 6 a 5 que se comprobarían 2⁵ x 2⁵ = 2¹⁰ = 1kb y sorprendentemente desaparecen todos los fallos.

En el descriptor de cada chip también existe un parámetro que determina el desplazamiento (offset) de la primera columna de la memoria a comprobar. Una 4164 tiene 256 columnas por lo que si, por ejemplo, modificamos el número de bits del bus de direcciones a 7 y este offset a 192 estaríamos comprobando los últimos 16kb de la memoria. Con esto claro, dejando el número de bits del bus de direcciones en 5, modificando el offset de 4 en 4 iríamos subiendo de 1kb en 1kb por las direcciones de memoria de la 4164 pero en vez de probar los 64 posibles valores, probamos solo 4 bien separados para verificar que el comportamiento no cambia y comprobamos que no aparecen fallos lo que, en la práctica, descarta que el origen del problema esté en una zona específica de la memoria por lo que, ahora sí, podemos concluir que por el motivo que sea esta memoria no conserva el valor de los bits más allá de los ~300ms (a pesar de que el test haga un refresco cada dos por tres), qed.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por cacharreo »

Gracias a la retroalimentación de @issalig y las continuas pruebas que hemos hecho, principalmente por @Gomas48K que ha puesto su tiempo y alma en ello, comprobamos que los diodos zeners ideales para el tester deben tener una capacitancia máxima alrededor de los 80-90pF, una medición que se puede realizar muy fácilmente con testers LCR ultraeconómicos como el LCR-TC1, T4, T7, HW-308,.... Dentro de estos márgenes el tester pasará series de 3000 tests sobre una 4116/4164 sin ni un solo falso negativo pero por encima de ellos, por ejemplo, 100-115pF algunos tests fallarán pero en un rango del 1 al 2 por mil que, para el coste del tester, considero del todo aceptable.

También hemos obtenido de forma experimental que los zeners más delicados del tester son, en orden, Z13 y Z19.

En mi caso no tuve problema porque todos mis zeners estaban dentro de estos márgenes.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por geloalex »

Gracias por la explicacion.... ;)
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por geloalex »

Bueno me llegaron los NANOS que comentábamos.. las 3 placas que pedí son Atmel 168 no 328.... así que acabo de poner la reclamación :x
espero que Duca750 revisalos cuando te lleguen antes de programarlos , yo ya tenia dos con los pines soldados.... a ver que dice el chino.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por Gomas48K »

cacharreo escribió: 19 Nov 2022, 08:41 Segunda parte de las pruebas con la 4164 @issalig#B (viene de aquí).

Anteriormente planteamos la hipótesis de que se escribe un bit en una dirección de memoria y si se comprueba inmediatamente sigue al mismo valor pero muy poco después el valor se altera (según los resultados, posiblemente tienda a cambiar a nivel alto).

En las pruebas vimos que los tests sobre esta memoria fallaban siempre o casi siempre ....
Gracias por la explicación.
Entender cómo se realizan los test, siempre es una gran ayuda para identificar posibles fallos o anomalías, en la verificación de los prototipos.

geloalex escribió: 22 Nov 2022, 12:32 Bueno me llegaron los NANOS que comentábamos.. las 3 placas que pedí son Atmel 168 no 328.... así que acabo de poner la reclamación :x
espero que Duca750 revisalos cuando te lleguen antes de programarlos , yo ya tenia dos con los pines soldados.... a ver que dice el chino.
La manía que tienen algunos vendedores, de intentar timar!!!
Al final reclamas y pierden ellos.
Con mi Gomas 48K, hasta el mismo infierno!!! :twisted:
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por cacharreo »

geloalex escribió: 22 Nov 2022, 12:32Bueno me llegaron los NANOS que comentábamos.. las 3 placas que pedí son Atmel 168 no 328.... así que acabo de poner la reclamación :x
espero que Duca750 revisalos cuando te lleguen antes de programarlos , yo ya tenia dos con los pines soldados.... a ver que dice el chino.
Si pediste los ATmega328 y te enviaron ATmega168, ganarás la disputa de calle, solo espero que no te mareen mucho.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por cacharreo »

Gomas48K escribió: 22 Nov 2022, 17:57Gracias por la explicación.
Entender cómo se realizan los test, siempre es una gran ayuda para identificar posibles fallos o anomalías, en la verificación de los prototipos.
Es una explicación muy por encima sin entrar en cómo se hacen los tests sino en cómo están parametrizados según cada memoria.

En realidad hay tres ciclos anidados, el más interno recorre las filas, el siguiente las columnas y el más externo los bloques. Dentro del más interno está el test en sí que comprueba cada bit según las especificaciones de la hoja de datos con un cierto margen (más lento pero más seguro) para que no dé errores. Por ejemplo, en una 4164 el ciclo externo es como si no existiera (un único bloque), el siguiente comprueba 256 columnas y el más interno 256 filas.

A propósito, el fw0.20 y los sucesivos realizan el mismo test, es decir no hay ningún cambio en el test en sí, solo en el interfaz, nuevas opciones, etc.
Gomas48K escribió: 22 Nov 2022, 17:57La manía que tienen algunos vendedores, de intentar timar!!!
Al final reclamas y pierden ellos.
Esta visto que deben tener pocas disputas porque insisten una y otra vez. Creo que el sistema de AliExpress no es efectivo porque muchos vendedores tienen varias tiendas con los mismos productos (y ¡diferentes precios!) y cuando la reputación de una de ellas baja mucho la cierran para poco después abrir más nuevas.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por duca750 »

cacharreo escribió: 19 Nov 2022, 11:42 Gracias a la retroalimentación de @issalig y las continuas pruebas que hemos hecho, principalmente por @Gomas48K que ha puesto su tiempo y alma en ello, comprobamos que los diodos zeners ideales para el tester deben tener una capacitancia máxima alrededor de los 80-90pF, una medición que se puede realizar muy fácilmente con testers LCR ultraeconómicos como el LCR-TC1, T4, T7, HW-308,.... Dentro de estos márgenes el tester pasará series de 3000 tests sobre una 4116/4164 sin ni un solo falso negativo pero por encima de ellos, por ejemplo, 100-115pF algunos tests fallarán pero en un rango del 1 al 2 por mil que, para el coste del tester, considero del todo aceptable.

También hemos obtenido de forma experimental que los zeners más delicados del tester son, en orden, Z13 y Z19.

En mi caso no tuve problema porque todos mis zeners estaban dentro de estos márgenes.
Perfectamente explicado, para yo enterarme... Gracias!
Mi coleccion: CPC464,CPC6128/GX4000/COMMODORE 64,AMIGA 500/ATARI STFM1024/ORIC1,ATMOS/DRAGON32/SPECTRUM+, +2,+3,48K,16K/MSX HB501P,101P,201P,MSX HB20P,HB75P,CANON V20,PHILIPS MSX2 NMS8250,8020/TOSHIBA MSX/ACORN ELECTRON/THOMSON MO08,MO05,ENTERPRISE 64.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por duca750 »

geloalex escribió: 22 Nov 2022, 12:32 Bueno me llegaron los NANOS que comentábamos.. las 3 placas que pedí son Atmel 168 no 328.... así que acabo de poner la reclamación :x
espero que Duca750 revisalos cuando te lleguen antes de programarlos , yo ya tenia dos con los pines soldados.... a ver que dice el chino.
Ya sabía yo... Últimamente lo que estoy haciendo es abrir los paquetes grabando todo el proceso en video, desde la apertura para que no haya problema de este tipo y poder reclamar, cosa que haré nada más lleguen ya que estoy seguro que seré igualmente tangado :~( y son ni más ni menos que 11... Gracias por el aviso ☺️
Mi coleccion: CPC464,CPC6128/GX4000/COMMODORE 64,AMIGA 500/ATARI STFM1024/ORIC1,ATMOS/DRAGON32/SPECTRUM+, +2,+3,48K,16K/MSX HB501P,101P,201P,MSX HB20P,HB75P,CANON V20,PHILIPS MSX2 NMS8250,8020/TOSHIBA MSX/ACORN ELECTRON/THOMSON MO08,MO05,ENTERPRISE 64.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

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cacharreo escribió: 22 Nov 2022, 23:16
geloalex escribió: 22 Nov 2022, 12:32Bueno me llegaron los NANOS que comentábamos.. las 3 placas que pedí son Atmel 168 no 328.... así que acabo de poner la reclamación :x
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Ya veremos, y si hay que devolver con lo que cuesta el envío de vuelta va a ser un problema. No sé si es por timar o por desconocimiento de lo que realmente venden, probablemente lo primero o incluso ambos :?
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