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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]
BufaR? No sé si es a lo que te refieres, pero justo cuando empiezo a alimentar el Nano... el HW668 empieza a hacer un pitido agudo raro (perceptible sino hay mucho ruido ambiente), que acaba desapareciendo en torno a los 4 segundos aprox.
Miraré si tengo piezas de repuesto para probar a intercambiar. Del Q01, me parece que no, pero puedo comprar algunos (si buscando no encuentro) y probar de nuevo cuando lleguen.Gomas48K escribió: ↑31 Dic 2022, 22:17 Lo único que está interviniendo en esta situación para poder tirar abajo los +5V y los -5V, es el MOSFET Q01 (BS250), que cuando inyectas los -5V está derivando incorrectamente o bien porque no sea un BS250, esté en corto algún pin, o esté averiado.
Al derivar los -5V, como se convierten a traves del LMC-7660 de los +5V, hace un exceso de consumo que produce una caída en los +5V también.
Revisaré los pines por descontado por si están en corto. Si me ha sorprendido que justo el pin del ZIF encima de los 12v me da los ¿-5v o +5v? ahora no recuerdo bien. En principio cortos no veo (repito que a simple vista) y si hubiera un corto, creo que también afectaría a los tests de la 4164.
Probaré si tengo, claro. Sino, pues cuando lleguen los que compre.
Realmente lo de las huellas de estos componentes en algunos casos me han sido un dolor de cabeza. Muy complicados de soldar, con uno de los estaños que tengo y tenía que subir mucho la temperatura. Parecía que el pad los repelía.
En general me pasaba con los que llevan a plano de masa/tierra.
Gracias por las orientaciones.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]
Diría que se refiere exactamente a eso. Cuando hay algo mal el HW-668 pita/zumba/bufa que da gusto, cuanto peor está, más se oye.
El BS250 es uno de los más populares MOSFET de canal P. Ambos MOSFET se escogieron por ese motivo aunque el 2N7000 sea aún más popular y económico.
Si tienes -5V ó +5V en el pin 7 del zócalo ZIF o de J4 hay algo mal sin duda.
Si solo afecta a los circuitos de -5V y +12V no tendría por qué.
Ese problema es conocido y tiene que ver con el soldador. Como la placa tiene el plano de tierra lo más grande posible, a pesar de que los pines tienen las zonas de alivio térmico, la placa disipa muy bien el calor y eso es óptimo cuando el dispositivo está en funcionamiento pero algunos soldadores no reaccionan bien y la temperatura baja tanto que el estaño queda frío o ni siquiera se funde. En mi experiencia y en este sentido el primer acierto es escoger una punta adecuada con superficie suficiente para permitir un cómodo intercambio térmico pero, claro está, si se usa un soldador antiguo con resistencias de brasero de mesa camilla que no regula la temperatura al alza cuando baja en la punta, todo se va a complicar.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]
Ya estoy operativo!!!
Ese pequeño zumbido al que te refieres, puede ser el tirón de consumo, hasta que se estabiliza el HW-668 en el arranque.
El detalle mas interesante, que tienes +4.40V, cuando en los +5V de J3 tienes +3.77V... por consiguiente, no pueden estar relacionados con la parte del circuito del prototipo de las alimentaciones.
Ese voltaje lo está enviando el Nano directamente, posiblemente por el problema de Q01 y la derivación que tiene, que interfiere en el Nano.
Seguramente si haces el test de pines con J4 sin conectar nada, te dará todas las lecturas correctas, pero si inyectas -5V en el pin 1 de J4, te cambiará el canal 06 (en la pantalla) a estado alto (1).
* Esto es teórico, porque como no se exactamente que le pasa a Q01, no puedo reproducirlo en mi prototipo.
Solución: Revisa Q01 (BS250)
Los test con 4164, funcionan correctamente y la diferencia con los test con 4116, son los voltajes extra que necesita (-5V y +12V).
El resto entre las dos memorias es igual (a nivel de conexión).
Seguramente si pusieras la memoria 4116 en el ZIF, levantaras al aire los pines 1 y 8 (que no tocaran con el ZIF) y alimentaras externamente la memoria con -5V y +12V, funcionarian los test correctamente.... Y es mas! Estoy seguro que en este caso, si solo levantaras el pin 1 (-5V) y solo alimentaras externamente ese voltaje.... Funcionaría!!! Porque estoy casi seguro que todo es producido por Q01 (BS250).
Como apunta @cacharreo, si hubiera un problema, seguramente chillaría como un loco.
Ese pequeño zumbido al que te refieres, puede ser el tirón de consumo, hasta que se estabiliza el HW-668 en el arranque.
Analizando este tema, efectivamente cuando mides, el pin 7 del ZIF tiene +4.40V, pero si te fijas, SOLO cuando inyectas -5V en el pin 1 de J4.
El detalle mas interesante, que tienes +4.40V, cuando en los +5V de J3 tienes +3.77V... por consiguiente, no pueden estar relacionados con la parte del circuito del prototipo de las alimentaciones.
Ese voltaje lo está enviando el Nano directamente, posiblemente por el problema de Q01 y la derivación que tiene, que interfiere en el Nano.
Seguramente si haces el test de pines con J4 sin conectar nada, te dará todas las lecturas correctas, pero si inyectas -5V en el pin 1 de J4, te cambiará el canal 06 (en la pantalla) a estado alto (1).
* Esto es teórico, porque como no se exactamente que le pasa a Q01, no puedo reproducirlo en mi prototipo.
Solución: Revisa Q01 (BS250)
Como dice @cacharreo, no tiene porqué.
Los test con 4164, funcionan correctamente y la diferencia con los test con 4116, son los voltajes extra que necesita (-5V y +12V).
El resto entre las dos memorias es igual (a nivel de conexión).
Seguramente si pusieras la memoria 4116 en el ZIF, levantaras al aire los pines 1 y 8 (que no tocaran con el ZIF) y alimentaras externamente la memoria con -5V y +12V, funcionarian los test correctamente.... Y es mas! Estoy seguro que en este caso, si solo levantaras el pin 1 (-5V) y solo alimentaras externamente ese voltaje.... Funcionaría!!! Porque estoy casi seguro que todo es producido por Q01 (BS250).
No tienes que darlas, para eso estamos.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]
¡Menuda fiestorra!
No percibo ese zumbido, aquí el silencio es sepulcral y lo escucharía.
Y como decía no es normal y dudo que pueda tener que ver con previsible avería en Q01 o su zona de influencia. Con la placa 1.06 y el polímetro entre J2#3 (GND) y J4#7 sin nada más en J4 la tensión es ~0V, con los -5V conectados desde J3#1 en J4#1 sigue siendo ~0V mientras que si se mide en ZIF#1 -4.704V.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]
Por eso las gafas de sol....
Posiblemente le pase con las alimentaciones en J4 puestas.
Al tener +3.77V en los +5V, puede que le cuesta mas arrancar el HW-668.
Pero claro... Todo esto son teorías.
Eso lo estas haciendo en condiciones normales de funcionamiento, pero en el caso de @Popopo si tiene un problema en Q01 y está pasando parte de los -5V al Nano...cacharreo escribió: ↑01 Ene 2023, 22:13Y como decía no es normal y dudo que pueda tener que ver con previsible avería en Q01 o su zona de influencia. Con la placa 1.06 y el polímetro entre J2#3 (GND) y J4#7 sin nada más en J4 la tensión es ~0V, con los -5V conectados desde J3#1 en J4#1 sigue siendo ~0V
Mi pregunta es... Puede interferir en el Nano???
Al tener el pin 7 del ZIF ( J4#7) +4.40V, tienen que ser generados por el Nano? No puede ser nada externo al Nano! Porqué en los +5V de J3 hay +3.77V....
Ademas cuando quita los -5V y +12V de J4, ya no tiene los +4.40V en ZIF#7 (J4#7).
Y a saber que mas está haciendo en el resto de los puertos.... Lo mismo están bailando la Macarena!
A ver si cambia (o revisa si es soldaduras) @Popopo Q01 y salimos de dudas.
EDITO:
Estoy dando vueltas al tema de ZIF#7 (J4#7) .
Descarto que tenga algo que ver los +12V en el problema, se ven bastante estables... Por eso me centro en los -5V.
No veo nada que pueda generar ese voltaje, inyectando -5V en J4.....
Q0 (IRFU5410) hace de cortafuegos en los +5V entre el Nano y el prototipo, como puede tener ZIF#7 (J4#7) 4.40V? De donde los saca?
En J3 tenemos +3.77V, no puede ser esa linea de alimentación.... Solo se me ocurre que los esté enviado en Nano.
Y porque los envía el Nano (los +4.40V a ZIF#7) cuando se inyecta -5V en J4 ?
Solo se me ocurre que algo esté interfiriendo en el funcionamiento del Nano.
Puede ser al recibir los -5V (-2.19V) en el Nano???
Al tener en la salida del MOSFET Q0 (IRFU5410) +3.77V, por posiblemente la derivación que puede estar generando Q01???
Pues exactamente no se que es, pero creo que tiene que ver alguna de estas cosas, para que el Nano no esté funcionando bien.
A no ser que ese Nano haga cosas imposibles por si solo, no logro entender que pueda hacer eso.
* Todo esto es mi opinión, puedo estar confundido... Por su puesto.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]
Con J4 conectado y con alguna de las tensiones que esté teniendo problemas.
Por eso quería dejar claro cómo debe funcionar.
Pero ese pin es exclusivamente de entrada y el firmware nada más arrancar antes de hacer ninguna otra cosa pone todos los pines en el modo de entrada. En la tabla de asignación de pines de un vistazo se ve claramente. Por otra parte ningún pin cambiará a modo de salida hasta que se ejecute el test.Gomas48K escribió: ↑01 Ene 2023, 23:42si tiene un problema en Q01 y está pasando parte de los -5V al Nano...
Mi pregunta es... Puede interferir en el Nano???
Al tener el pin 7 del ZIF ( J4#7) +4.40V, tienen que ser generados por el Nano? No puede ser nada externo al Nano! Porqué en los +5V de J3 hay +3.77V....
Puede ser el Nano pero lo más plausible es que alguna de las pistas que llega a J4#7/ZIF#7 esté conectada a alguna cercana que lleve los +5V.
Ademas cuando quita los -5V y +12V de J4, ya no tiene los +4.40V en ZIF#7 (J4#7).
¡Qué suspense!
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]
Si raro es... Pero solo pasa cuando se inyecta -5V en J4 (o +12V en J4, pero no creo que sean los +12V), yo pienso que solo puede ser el Nano el que mande esa tensión...... He revisado todo y no veo nada mas que pueda hacerlo.cacharreo escribió: ↑02 Ene 2023, 09:01Pero ese pin es exclusivamente de entrada y el firmware nada más arrancar antes de hacer ninguna otra cosa pone todos los pines en el modo de entrada. En la tabla de asignación de pines de un vistazo se ve claramente. Por otra parte ningún pin cambiará a modo de salida hasta que se ejecute el test.Gomas48K escribió: ↑01 Ene 2023, 23:42si tiene un problema en Q01 y está pasando parte de los -5V al Nano...
Mi pregunta es... Puede interferir en el Nano???
Al tener el pin 7 del ZIF ( J4#7) +4.40V, tienen que ser generados por el Nano? No puede ser nada externo al Nano! Porqué en los +5V de J3 hay +3.77V....
Si hubiera algún corto entre pistas, tenía que mantener ese voltaje constante y solo sucede cuando se inyectan los -5V y los +12v en J4... No se, lo veo menos probable.
Estamos en ascuas!!!
La verdad, que solucionar un problema en el arranque inicial de un aparato y a distancia, es bastante difícil, porque puede ser cualquier manipulación.
Cuando el aparato está funcionando correctamente y se avería, es mas fácil, porque es una avería lógica y es mas fácil de deducir.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]
Si que es mas fácil porque partes de la premisa de que ANTES funcionaba y le puedes buscar una lógica , pero cuando tienes que contar con distancia , tiempo , habilidad y conocimientos del remoto pues son muchos factores a tener en cuenta y se complica aun mas cuando aparece el factor de explicar o trasladar la información tanto la emitida como la recibida.
A ver si se pone y averigua que es lo que pasa en esa placa.
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SpectrumZX81,ZX48,ZX48+,ZX128+2+3CommodoreA1200,A500,C64,C64C,C16AmstradCPC464,CPC6128MSXHB20P,HB75P,HBF1,HBF1XD,SVI728,8020Atari2600Sixer,2600Jr,7800PhillipsVideopacG7000NintendoGB,GBC,GBA,NES,FAMICOM,SNES,N64PCEnginePCEngine,PCEngineDUOSegaGG,SMS,SMS2,MD1,MD2,MEGACD2,SATURN,DC,NAOMIMicrosoftXBOX360Sony PS1,PS2,PS3,PS4,PSP,PSVitaMINISNES,SNES,MD,PSX INSTAGRAM: geloalex
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]
Como bien dices, el peor factor es hacerlo remotamente... Limita y ralentiza mucho.geloalex escribió: ↑02 Ene 2023, 15:22 Si que es mas fácil porque partes de la premisa de que ANTES funcionaba y le puedes buscar una lógica , pero cuando tienes que contar con distancia , tiempo , habilidad y conocimientos del remoto pues son muchos factores a tener en cuenta y se complica aun mas cuando aparece el factor de explicar o trasladar la información tanto la emitida como la recibida.
Pero tenemos todo el tiempo del mundo!
Seguro que ya hay alguna porra clandestina, en espera de los resultados de @Popopo.
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