Incluso hemos comprobado que el prototipo aguanta una inversión de polaridad en los +5V!!!!
Ha sido muy productivo!!!
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Moderadores: cacharreo, Fundadores
Incluso hemos comprobado que el prototipo aguanta una inversión de polaridad en los +5V!!!!
No, para mi no cuenta, porque no partías de una base fiable. No es como hacer trampas, pero... no lo veo justo. De la próxima no te libras.
OK. haré eso ahora, ya casi no me queda más horas para dedicar al tester hasta la semana que viene quizás... así que voy a probar primero esto.
OK, anotado en las notas sueltas para el manual.
Bueno... Que sepas, que la tienes en el Horno, por si un día te arrepientes.
Va a ser una gran aportación al proyecto... Con APP y todo!!!
Eso ya puede ser la memoria, despues de las torturas a las que ha sido sometida, no me extrañaría que este "inestable".Popopo escribió: ↑13 Ene 2023, 20:24 Pues no sé que decir...
Llevo dos memorias en pasadas rápidas y el comportamiento es más o menos igual....
unos pocos OK, unos pocos fallos...
Estoy probando con varias que estaban bien (hasta que las probé en el tester) no me atrevo a meter otras nuevas porque es que estás ya eran de un equipo que estaba bien.
Código: Seleccionar todo
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19:47:12.425 -> Test:1 0002/0017/0019
19:47:14.085 -> Test:0 0002/0018/0020 [000] Address:00EA w00->r01
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Pudieran ser las memorias, falso contacto de los puentes J3/J4, también puede ser Z19....Popopo escribió: ↑13 Ene 2023, 20:47 Pasando a algunas memorias el test:
.... ....
Claramente, esto no debería pasar. Los errores de test para cada memoria particular marca diferentes direcciones, no cuadra que en un pase una dirección este mal y en la siguiente pasada este OK y de fallo en una dirección posterior. En otro pase la de por buena... demasiado aleatoriedad. Hoy chapo.
Antes de extirpar todos los zener.... Para saber si es un falso contacto de los puentes de J3/J4, puedes hacer la prueba de ponerlos en modo 4116 (-5V +5V +12V) en J4 y medir en el ZIF con el polímetro, moviendo los cables suavemente, que suelen ser muy frágiles... a ver si ves que haya falsos contactos.
Pueden ser multiples cosas si.
Esa prueba la hice. Pero en principio el tester no me va a avisar de microcortes. Intuyo que al estar pasando los tests sin tocar cables, en ocasiones lo pasa y otras no... con el osciloscopio todavía, con el polimetro no lo veo. Igualmente no tengo el osciloscopio montado y me llevaría un lío montarlo, recordar como se usa... esa prueba tendría que esperar al menos una semana.Gomas48K escribió: ↑13 Ene 2023, 21:05 Antes de extirpar todos los zener.... Para saber si es un falso contacto de los puentes de J3/J4, puedes hacer la prueba de ponerlos en modo 4116 (-5V +5V +12V) en J4 y medir en el ZIF con el polímetro, moviendo los cables suavemente, que suelen ser muy frágiles... a ver si ves que haya falsos contactos.
No, no lo he probado.
Exacto, uno es MOSFET canal-P para manejar la tensión negativa y otro MOSFET canal-N para manejar la tensión positiva.
Veremos si los efectos no están a la vuelta de la esquina (o sea, la siguiente prueba).
Así es. El tester sin zeners va a quedar algo inestable y en esas condiciones exige ser demasiado escrupuloso con las pruebas por lo que no sé si es buena idea meterse en eso hasta que lo demás esté asentado.Gomas48K escribió: ↑13 Ene 2023, 21:05Antes de extirpar todos los zener.... Para saber si es un falso contacto de los puentes de J3/J4, puedes hacer la prueba de ponerlos en modo 4116 (-5V +5V +12V) en J4 y medir en el ZIF con el polímetro, moviendo los cables suavemente, que suelen ser muy frágiles... a ver si ves que haya falsos contactos.
Un LCR-T4, TC1, T7,... de esos baratungos.
No es el ideal. A las malas en el modo para condensadores, si lo tiene, puedes obtener una orientación pero sería fácil que diera valores disparatados (3 órdenes de magnitud superiores).
Porque es la señal CAS de la memoria, en un caso de fallos en diferentes direcciones de memoria, es la señal mas propicia a dar esos problemas.
Si no notas cortes al mover los cables, midiendo con el polímetro, es difícil que sea eso.Popopo escribió: ↑13 Ene 2023, 21:34Esa prueba la hice. Pero en principio el tester no me va a avisar de microcortes. Intuyo que al estar pasando los tests sin tocar cables, en ocasiones lo pasa y otras no... con el osciloscopio todavía, con el polimetro no lo veo. Igualmente no tengo el osciloscopio montado y me llevaría un lío montarlo, recordar como se usa... esa prueba tendría que esperar al menos una semana.Gomas48K escribió: ↑13 Ene 2023, 21:05 Antes de extirpar todos los zener.... Para saber si es un falso contacto de los puentes de J3/J4, puedes hacer la prueba de ponerlos en modo 4116 (-5V +5V +12V) en J4 y medir en el ZIF con el polímetro, moviendo los cables suavemente, que suelen ser muy frágiles... a ver si ves que haya falsos contactos.
Como he dicho, me imagino que ya no lo hará, pero solo era por verificar que ya está todo el tema corregido.
Si quieres te digo algunas para intentar averiguar de donde son los fallos:
Curioso chisme..... Pero creo que sería mejor usar un chisme tipo LCR-T4.
Más sensato probar con otros cables, ese tipo de multímetros digitales tienen una inercia terrible.
Una barbaridad, queda probar el resto.
Más que aleatorios son deterministas solo que aún no conocemos las causas.
Probé el de Uni-T de ese tipo y no lo vi muy práctico.
No hay problema, todo se complementa bastante bien.