Va de Retro DRAM tester [v2.00]

[cacharreo]

Actualización del firmware fw0.05a con interesantes novedades para el beta testing.

[cacharreo]

Lo primero es acordarme y ver la doc que hice y os compartí, y ver que hay al menos 6 pines coincidentes que son de direccionamiento, ¿y?
Pues que para una versión tester de memorias (y solo de memorias) no necesitamos poner fusibles rearmables para todos los pines, puesto que al ser de salida (activación alto o bajo) de direccionamiento, no van a recibir datos desde el ZIF, con lo cual con diodos sería suficiente abaratando costes.

En los objetivos iniciales hablamos de cubrirnos las espaldas ante la posibilidad de que una memoria tuviera cortos internos, por ejemplo, entre los +12V y otro pin o un pin de salida contra un pin de salida. Hasta ahora hemos seguido ese criterio pero además y especialmente los pines que se usan para el bus de direcciones van a utilizarse para salida, razón de más para protegerlos dado que están en la posición más débil y el Nano no lo hace.

Además de 1 pin que es coincidente en alimentación, un GND, con lo cual otro pin libre del nano que tampoco va a necesitar fusible rearmable y con un diodo sería suficiente, para proteger de un corto. ¿no?

Un pin solo +5V (10) y otro solo GND (20), estos son los dos simplificables de acuerdo a la tabla que utilizamos y siempre aceptando tácitamente que la simplificación sobre el pin 10 del zócalo ZIF no permitiría trabajar con otros chips que tuvieran un pin de E/S en esa posición concreta,

en total en la placa v1.05 van unos 19 fusibles rearmables y respecto a los diodos zener protegerán de una posible sobretensión pero no de un corto.

Por último, lo de los pines TX/RX, pienso que en vista de lo que publiqué podrían usarse. No hace falta (Que yo vea) usarlos para el ZIF.

Del total de 22 pines, tenemos 20 pines digitales más dos 2 puramente analógicos solo de entrada, 1 de los analógicos de entrada (A6) que sobraba y se usa para comprobaciones sobre ZIF/10 (nos quedan 21), otro (A7) el teclado (nos quedan 20), 2 digitales (que no pueden ser otros, D18/A4 y D19/A5) la pantalla OLED (nos quedan 18) y los 18 restantes sirven de E/S para los pines 1-9 y 11-19 del zócalo ZIF. No veo cómo podría prescindirse de los 2 pines del puerto serie, D0 (RXD) y D1 (TXD).

[cacharreo]

Actualización de la placa v1.05.

[Popopo]

en total en la placa v1.05 van unos 19 fusibles rearmables y respecto a los diodos zener protegerán de una posible sobretensión pero no de un corto.

La idea que propongo, no indica usar un Zener, sino un diodo, el que pudiera cumplir con la tarea. Protegería hasta donde me parece entender de ambas cosas, tal y como lo hace un puente de diodos usados como rectificadores. Pero solo en aquellos pines comunes que se usen para señales o para direccionamiento. Donde solo salen señales del Nano y no se esperan de entrada. Con lo cual en caso de corto en el integrado de pruebas, el Nano estaría protegido porque no le llegaría nada.

Igualmente pensandolo ahora, tampoco es mucho problema que pueda hacer las pruebas en la placa de pruebas cuyando tenga algún día el hueco y sustituir los fuses rearmables por diodos acordes y probar. Porque ... no cambia el resto del diseño, y tal y como están las huellas está también bien, puedo puntear de extremo del fuse al extremo de la huella del diodo. Todo bien

[cacharreo]

No veo cómo podría prescindirse de los 2 pines del puerto serie, D0 (RXD) y D1 (TXD).

Otras reflexiones sobre el número de pines digitales del Nano necesarios para el tester para intentar zanjar definitivamente este capítulo.

Partimos de que necesitamos un pin digital del Nano por cada pin del zócalo ZIF en el que vaya a ir un pin de una memoria que no esté desconectado y que no sea de alimentación, es decir, nos centramos solo en pines de señal (los de E/S o control).

Método #1
En la tabla que se ve en este mensaje cada fila coloreada representa un pin del zócalo ZIF (numerados de 1 a 20) y en la columna más a la derecha, con fondo blanco, se muestra el total de integrados de DRAM que utilizan el pin del ZIF correspondiente a cada fila. Una vez realizado el recuento para las 20 filas, o lo que es lo mismo, los 20 pines del zócalo ZIF, determinar el número de pines digitales necesarios del Nano se reduce a contar el número de filas distintas de cero que, como se ve, son 18.

Método #2
Básicamente el mismo que el método anterior pero contando el número de pines del zócalo ZIF que son de alimentación o están desconectados. Como se puede observar solo hay 2, el pin #10 y el pin #19. Determinar el número de pines digitales necesarios del Nano se reduce a substraer este número de filas (2) de 20, el resultado es 18.

Método #3
Para cada memoria haremos una lista (un conjunto) con la secuencia de los números de pines del zócalo ZIF que van a ocupar los pines de señal de dicho integrado. Nos quedan estas 8 listas:

Código: Seleccionar todo

4116[12]: 2, 3, 4, 5, 6, 7, 14, 15, 16, 17, 18, 19
41256[14]: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19
41464[16]: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19
4164[13]: 2, 3, 4, 5, 6, 7, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19
4416[16]: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19
44256[17]: 1, 2, 3, 4, 6, 7, 8, 9, 11, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19
4464[16]: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19
4864[13]: 2, 3, 4, 5, 6, 7, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19

cada lista está precedida de la referencia de la DRAM y entre corchetes el número de elementos que tiene dicha lista.

Si ahora realizamos la operación de unión de todas las listas (conjuntos) en una sola lista (o conjunto, y recuerdo que en los conjuntos no puede haber duplicados) nos da como resultado:

Código: Seleccionar todo

Unión[18]: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 11, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19

y determinar el número de pines digitales necesarios del Nano se reduce a contar el número de elementos de esta lista que, como se puede comprobar, son 18.

Método #4

Éste es más visual y fácil. Hay que imprimir esta plantilla que emula el zócalo ZIF,



y entonces memoria por memoria (4116, 41256, 41464, 4164, 4416, 44256, 4464 a 4864) se sigue este algoritmo: por cada pin de señal de la memoria (o sea, E/S, control, que no son de alimentación y no están desconectados) se tacha el rectángulo correspondiente al pin que ocupa en el zócalo ZIF. Después de hacerlo con las 8 memorias y todos sus pines, quedarán tachados en el papel los pines 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 11, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19, en total, 18.

[geloalex]

Aun sin tener el material sobre la mesa , creo que , las protecciones son necesarias y no suponen un incremento tal que no fuera asumible por el usuario final y creo que aun así entra dentro de los parámetros y márgenes fijados en cuanto a presupuesto.
Toda mejora es bien venida pero , lo de la interface de usuario no lo veo a priori una necesidad ya que la función principal del tester es verificar unos cuantos chips y que esta verificación sea fiable , ese es el propósito principal y el uso generalizado al que esta destinado , en definitiva , un diagnostico rápido.
Creo que se debería depurar y sacar adelante esta versión llamémosle "basica" y luego con lo aprendido , si cabe , estudiar como decía cacharreo ,una versión "deluxe" o mas Pro con nuevas funcionalidades ,comunicación serie para la interface de usuario o lo que surja.
A ver si nos van llegando los meteriales....que tengais buena semana

[cacharreo]

La idea que propongo, no indica usar un Zener, sino un diodo, el que pudiera cumplir con la tarea.

Muy bien pero aclaremos en principio que la tarea consiste en proteger contra sobretensión y contra sobrecorriente y que pensaba que con "diodo" te referías a los existentes, por eso mencioné los zeners pero ahora comprendo que tu propuesta es utilizar selectivamente diodos, por ejemplo, de conmutación (1N4148) o de tipo Schottky para RF ignorando el tiempo de recuperación inversa por la baja tensión de las señales pero sin olvidarnos de la previsible caída de tensión en la señal (con los de conmutación unos 600-700mV).

Protegería hasta donde me parece entender de ambas cosas, tal y como lo hace un puente de diodos usados como rectificadores.
...
Igualmente pensandolo ahora, tampoco es mucho problema que pueda hacer las pruebas en la placa de pruebas cuyando tenga algún día el hueco y sustituir los fuses rearmables por diodos acordes y probar. Porque ... no cambia el resto del diseño, y tal y como están las huellas está también bien, puedo puntear de extremo del fuse al extremo de la huella del diodo.

Sin problema, los zeners están en shunt y la huella de los fusibles deja unos cómodos 5mm. para probar con casi cualquier diodo. Si sigues adelante en cuanto estén hechas esas pruebas las estudiamos.

Aun sin tener el material sobre la mesa, creo que, las protecciones son necesarias y no suponen un incremento tal que no fuera asumible por el usuario final

No puedo estar más de acuerdo pero al hilo de este comentario y volviendo a la sustitución de las protecciones por diodos propuesta por @Popopo, cada vez se me hace más evidente que a la vez que debatimos están fluctuando en gran medida los criterios y quieras que no resulta desconcertante.

Si por el motivo que sea convertimos en unidireccionales, es decir, pines que serían salidas para el Nano y entradas para el zócalo ZIF, un total de 12 pines de los 18 de señales, es indudable que se cercena la versatilidad del tester y se cierra una gran puerta a futuras posibilidades. Si el día de mañana se quisiera añadir al software una nueva memoria, sólo podría programarse el nuevo test si los pines bidireccionales del integrado coincidieran con los 6 pines bidireccionales del zócalo ZIF.

Sin embargo todo esto puede ser simplemente algo opcional porque la placa actual permite que al arbitrio de la persona que la monte se omitan los diodos zeners y se sustituyan los fusibles por diodos 1N4148 con el cátodo hacia el zócalo ZIF en todos los pines que se desee.

[Popopo]

Si por el motivo que sea convertimos en unidireccionales, es decir, pines que serían salidas para el Nano y entradas para el zócalo ZIF, un total de 12 pines de los 18 de señales, es indudable que se cercena la versatilidad del tester y se cierra una gran puerta a futuras posibilidades. Si el día de mañana se quisiera añadir al software una nueva memoria, sólo podría programarse el nuevo test si los pines bidireccionales del integrado coincidieran con los 6 pines bidireccionales del zócalo ZIF.

Lleváis ambos razón, por futura ampliación y por reducido incremente del coste.
Siento dar bandazos en el camino, cuando veo una nueva opción que permita bajar costes pues retomo cosas anteriormente dadas por concluidas.

Sigamos hasta el final de este proyecto con las líneas ya establecidas. Ya luego otras versiones pueden ser sacadas, ahora mejor finiquitar lo que se está haciendo y finiquitarlo bien. Lleváis razón.

[geloalex]

Si por el motivo que sea convertimos en unidireccionales, es decir, pines que serían salidas para el Nano y entradas para el zócalo ZIF, un total de 12 pines de los 18 de señales, es indudable que se cercena la versatilidad del tester y se cierra una gran puerta a futuras posibilidades. Si el día de mañana se quisiera añadir al software una nueva memoria, sólo podría programarse el nuevo test si los pines bidireccionales del integrado coincidieran con los 6 pines bidireccionales del zócalo ZIF.

Lleváis ambos razón, por futura ampliación y por reducido incremente del coste.
Siento dar bandazos en el camino, cuando veo una nueva opción que permita bajar costes pues retomo cosas anteriormente dadas por concluidas.

Sigamos hasta el final de este proyecto con las líneas ya establecidas. Ya luego otras versiones pueden ser sacadas, ahora mejor finiquitar lo que se está haciendo y finiquitarlo bien. Lleváis razón.

No es dar bandazos , aportas ideas, soluciones y features , que son bien venidas por supuesto , pero una vez este funcional ya se le harán los mods oportunos.
Siempre habrá fallos , o nuevas ideas aplicables o no , pero hay que sacar adelante la funcion básica que se pretende, barato , sencillo y que sea útil, y en todos los casos se va cumpliendo.

[cacharreo]

Todas las sugerencias son siempre bienvenidas, se hablan y llegamos a un acuerdo. No hay problema.

Me gustaría comentar algo que quizás pasa desapercibido debido al resto del debate y que no se infiere fácilmente viendo la demo o el esquema. En el momento en el que el usuario confirma el cableado (wiring) pulsando el botón ✓el tester utiliza el pin analógico de solo entrada A6, conectado al pin #10 del zócalo ZIF, junto a los otros 18 pines digitales para verificar dentro de lo razonable que el cableado está como debe. Si detecta algún problema, se muestra un error y vuelve a la pantalla del cableado impidiendo pasar al test en sí. Análogamente esos mismos 19 pines, A6 y los 18, se usan en las ocasiones que es necesario confirmar lo contrario, es decir, que no hay tensiones, etc.