Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Publicado: 03 Abr 2022, 17:22
Actualización del firmware fw0.05a con interesantes novedades para el beta testing.
Retroinformática y consolas entre amigos sin complejos
https://www.va-de-retro.com/foros/
En los objetivos iniciales hablamos de cubrirnos las espaldas ante la posibilidad de que una memoria tuviera cortos internos, por ejemplo, entre los +12V y otro pin o un pin de salida contra un pin de salida. Hasta ahora hemos seguido ese criterio pero además y especialmente los pines que se usan para el bus de direcciones van a utilizarse para salida, razón de más para protegerlos dado que están en la posición más débil y el Nano no lo hace.Popopo escribió: ↑03 Abr 2022, 16:10Lo primero es acordarme y ver la doc que hice y os compartí, y ver que hay al menos 6 pines coincidentes que son de direccionamiento, ¿y?
Pues que para una versión tester de memorias (y solo de memorias) no necesitamos poner fusibles rearmables para todos los pines, puesto que al ser de salida (activación alto o bajo) de direccionamiento, no van a recibir datos desde el ZIF, con lo cual con diodos sería suficiente abaratando costes.
Un pin solo +5V (10) y otro solo GND (20), estos son los dos simplificables de acuerdo a la tabla que utilizamos y siempre aceptando tácitamente que la simplificación sobre el pin 10 del zócalo ZIF no permitiría trabajar con otros chips que tuvieran un pin de E/S en esa posición concreta,
Del total de 22 pines, tenemos 20 pines digitales más dos 2 puramente analógicos solo de entrada, 1 de los analógicos de entrada (A6) que sobraba y se usa para comprobaciones sobre ZIF/10 (nos quedan 21), otro (A7) el teclado (nos quedan 20), 2 digitales (que no pueden ser otros, D18/A4 y D19/A5) la pantalla OLED (nos quedan 18) y los 18 restantes sirven de E/S para los pines 1-9 y 11-19 del zócalo ZIF. No veo cómo podría prescindirse de los 2 pines del puerto serie, D0 (RXD) y D1 (TXD).
La idea que propongo, no indica usar un Zener, sino un diodo, el que pudiera cumplir con la tarea. Protegería hasta donde me parece entender de ambas cosas, tal y como lo hace un puente de diodos usados como rectificadores. Pero solo en aquellos pines comunes que se usen para señales o para direccionamiento. Donde solo salen señales del Nano y no se esperan de entrada. Con lo cual en caso de corto en el integrado de pruebas, el Nano estaría protegido porque no le llegaría nada.
Otras reflexiones sobre el número de pines digitales del Nano necesarios para el tester para intentar zanjar definitivamente este capítulo.
Código: Seleccionar todo
4116[12]: 2, 3, 4, 5, 6, 7, 14, 15, 16, 17, 18, 19
41256[14]: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19
41464[16]: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19
4164[13]: 2, 3, 4, 5, 6, 7, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19
4416[16]: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19
44256[17]: 1, 2, 3, 4, 6, 7, 8, 9, 11, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19
4464[16]: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19
4864[13]: 2, 3, 4, 5, 6, 7, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19
Código: Seleccionar todo
Unión[18]: 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 11, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19
Muy bien pero aclaremos en principio que la tarea consiste en proteger contra sobretensión y contra sobrecorriente y que pensaba que con "diodo" te referías a los existentes, por eso mencioné los zeners pero ahora comprendo que tu propuesta es utilizar selectivamente diodos, por ejemplo, de conmutación (1N4148) o de tipo Schottky para RF ignorando el tiempo de recuperación inversa por la baja tensión de las señales pero sin olvidarnos de la previsible caída de tensión en la señal (con los de conmutación unos 600-700mV).
Sin problema, los zeners están en shunt y la huella de los fusibles deja unos cómodos 5mm. para probar con casi cualquier diodo. Si sigues adelante en cuanto estén hechas esas pruebas las estudiamos.Popopo escribió: ↑04 Abr 2022, 00:48Protegería hasta donde me parece entender de ambas cosas, tal y como lo hace un puente de diodos usados como rectificadores.
...
Igualmente pensandolo ahora, tampoco es mucho problema que pueda hacer las pruebas en la placa de pruebas cuyando tenga algún día el hueco y sustituir los fuses rearmables por diodos acordes y probar. Porque ... no cambia el resto del diseño, y tal y como están las huellas está también bien, puedo puntear de extremo del fuse al extremo de la huella del diodo.
No puedo estar más de acuerdo pero al hilo de este comentario y volviendo a la sustitución de las protecciones por diodos propuesta por @Popopo, cada vez se me hace más evidente que a la vez que debatimos están fluctuando en gran medida los criterios y quieras que no resulta desconcertante.
Lleváis ambos razón, por futura ampliación y por reducido incremente del coste.cacharreo escribió: ↑04 Abr 2022, 07:41 Si por el motivo que sea convertimos en unidireccionales, es decir, pines que serían salidas para el Nano y entradas para el zócalo ZIF, un total de 12 pines de los 18 de señales, es indudable que se cercena la versatilidad del tester y se cierra una gran puerta a futuras posibilidades. Si el día de mañana se quisiera añadir al software una nueva memoria, sólo podría programarse el nuevo test si los pines bidireccionales del integrado coincidieran con los 6 pines bidireccionales del zócalo ZIF.
No es dar bandazos , aportas ideas, soluciones y features , que son bien venidas por supuesto , pero una vez este funcional ya se le harán los mods oportunos.Popopo escribió: ↑04 Abr 2022, 11:08Lleváis ambos razón, por futura ampliación y por reducido incremente del coste.cacharreo escribió: ↑04 Abr 2022, 07:41 Si por el motivo que sea convertimos en unidireccionales, es decir, pines que serían salidas para el Nano y entradas para el zócalo ZIF, un total de 12 pines de los 18 de señales, es indudable que se cercena la versatilidad del tester y se cierra una gran puerta a futuras posibilidades. Si el día de mañana se quisiera añadir al software una nueva memoria, sólo podría programarse el nuevo test si los pines bidireccionales del integrado coincidieran con los 6 pines bidireccionales del zócalo ZIF.
Siento dar bandazos en el camino, cuando veo una nueva opción que permita bajar costes pues retomo cosas anteriormente dadas por concluidas.
Sigamos hasta el final de este proyecto con las líneas ya establecidas. Ya luego otras versiones pueden ser sacadas, ahora mejor finiquitar lo que se está haciendo y finiquitarlo bien. Lleváis razón.![]()