Va de Retro DRAM tester [v2.00]

Proyectos de hardware con sus esquemáticos y si llevan software en fuente

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Aquí solo tienen cabida proyectos de hardware que incluyan siempre al menos sus esquemáticos para poder reproducirlos si llevan componentes electrónicos, y si es posible los ficheros del programa en que se hacen, los diseños de las placas, los gerber, etc. Si llevan algún tipo de software asociado debe estar diponible el código fuente

Para los que no cumplen estas condiciones se debe postear en el foro de proyectos generales.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por cacharreo »

Gomas48K escribió: 24 Dic 2022, 01:34Esa memoria posiblemente esté mal y por eso te da los fallos.
Un test hace unas cosas y otro test hace otras diferentes. Aunque a ambos los llamemos "test" pueden ser muy diferentes en su funcionamiento y es más que relevante saber qué se está probando. Actualmente solo probamos el relleno de toda la capacidad de la memoria con 1 y después el relleno con 0, otros tests pueden probar además bit alternos, aleatorios, etc. y ahí es donde encuentren el fallo. Si vamos a comparar deberíamos hacerlo con la secuencia concreta de tests realizados, por ejemplo,

 RAM tester  ZX diagnostics 
111 PASSED000 PASSED
000 PASSED111 PASSED
-010 PASSED
-101 PASSED
-RND FAILED
...
Gomas48K escribió: 24 Dic 2022, 01:34Delata la espuma redonda... A que si @cacharreo? :))
La presentación propia de cajita de joyería delata su origen. :))
Gomas48K escribió: 24 Dic 2022, 01:34Pillar palomitas para hacer el visionado. :)) :P
Me encanta el vídeo. Lástima no tener punteros por aquí para hacer las pruebas.
Gomas48K escribió: 24 Dic 2022, 01:34* Tengo pendiente aislar los zener con pintura acrílica, para comprobar si desaparece este gracioso efecto.
Cuando @Popopo compre los zeners para la tirada, después de seleccionarlos por su capacitancia los pinta uno por uno. ;)
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por Popopo »

cacharreo escribió: 24 Dic 2022, 01:24 Esto debería ir al manual, es importante comprender que estaba implícito que la cancelación solo se puede producir al acabar el test y no en mitad, el microcontrolador no da para eso y las interrupciones están deshabilitadas durante el test por lo que no es posible tampoco procesarlo de esa forma.
Lo tengo anotado en un bloc que he empezado a hacer ayer. Estos días empezaré ya a hacer un documento más formal (pero no formal del todo).

cacharreo escribió: 24 Dic 2022, 01:24 Es curioso que en las veces anteriores que te funcionó le diste de cachamba al botón BACK en el momento justo. :))
Igual lo he dicho mal... con la placa nueva que me mandaste + el último soft... no me ha funcionado en casi ninguna ocasión. Me funcionó una vez (como mucho dos) y de potra (o casualidad sin saber como).

cacharreo escribió: 24 Dic 2022, 01:24 Como estamos retomando temas de mucho tiempo atrás, si puedes por favor enlaza al mensaje porque no encuentro la conexión tal cual está dicho.
A saber mi querido @cacharreo, a saber... welcome to my world. Es lo que debo hacer cada vez que se me olvida algo... invertir mucho tiempo, por ello, esta semana comienzo desde el comienzo (Dios me guarde) a leer cada una de las .... ¿casi 200 páginas? recapitulando: El proceso, los handicaps y sus porqués, las modificaciones, los procesos de uso, de prueba, de comprobación de tipos de Nano, de problemas habituales y no tan habituales... que va para rato... para mucho. Una vez hecho, y ahora que lo comentas... pues iré poniendo la página donde está la info extraída (al menos mientras desarrollo el manual que más que manual va a ser el libro del proyecto). Tendréis que tener un poco de paciencia conmigo, soy muy muy lento y lo sabéis.

cacharreo escribió: 24 Dic 2022, 01:24 ¿El problema es que una memoria marcada como mala da un error antes de los 100 tests?
El problema puede que no sea ese, ese es el síntoma. Esa memoria, particularmente... (voy a comprobar, 485 OKs sin fallo por ahora) era una memoria que me daba problemas en un Spectrum, al que le hice pruebas con el tester que debí montar fatal porque daba cada n OKs, m Mal. Al probarla ahora con esta nueva y muy mejorada versión (y sin tanto cable chapucero puesto por mi parte), me ha dado un error habiendo pasado un buen número de bucles OK. La voy a dejar la noche trabajando a ver que pasa. Pero esa memoria, el ZX ma la da por mala, en cualquier posición de la memoria alta que la ponga. Algo me hará, aunque esté bien... algo hará.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por Popopo »

Gomas48K escribió: 24 Dic 2022, 01:34 Si el prototipo te pasa series de mas de 3000 test con otra memoria sin dar fallo, es evidente que el prototipo está bien y la memoria que mencionas que da algún fallo, no está en su mejor momento y como te he comentado, al estar sometida a estrés, da fallos.
Eso mismo opino. Antes ya pensaba algo así, basándome en los ratios de fallos, pero ahora viendo lo bien que funciona con las otras... es que indica algo raro. Pero.... [luego te cuento...]

Gomas48K escribió: 24 Dic 2022, 01:34 Correcto! Ese material es parte del material que te envié.
Delata la espuma redonda... A que si @cacharreo? :))
Los 74HC595 eran para que hicieras pruebas de registro de desplazamiento.
Lo recuerdo. entonces no me habías mandado memorias de prueba, ¿o sí? me pareció que no, pero en un mensaje anterior me ha parecido entenderte que me las habías mandado para que hiciera pruebas una OK y una mala.

Gomas48K escribió: 24 Dic 2022, 01:34 Lo malo, que tenemos todos los puertos asignados (incluidos RX y TX) por eso el problema que vamos a tener con las memorias de mas pines... Que ya veremos a ver como se soluciona.
Correcto, no habrá problema con las otras memorias de más pines. Se que no habrá problemas. Están justitos, si sobran, ni faltan. Pero ya lo veremos.

Gomas48K escribió: 24 Dic 2022, 01:34 Ahora la película de miedo de esta noche.........
...
Aun no lo he comprobado, pero creo que dependiendo de la capacitancia de los zener, afecta en mayor o menor medida, la interacción con el láser.

Como se puede ver en el video, el color que mas afecta es el morado, que llega a alterar las señales hasta en el test "111".
El laser verde y rojo afectan mas en el test "000".

Otra mas para sumar a los dichosos zener satánicos! :twisted:

* Tengo pendiente aislar los zener con pintura acrílica, para comprobar si desaparece este gracioso efecto.
[luego te cuento continuación]... pues que ahora que lo dices... No ando seguro, pero has nombrado lo del estrés para la memoria y viendo tu vídeo de espadas láser... que las pruebas las estoy haciendo en la habitación a oscuras y cuando dio fallo, tenía la lámpara encendida. XD Pues a ver... nada... hay que hacerlo tal cual. Si esta noche no peta otra vez con algún fallo, mañana repito la prueba con la lámparita encendida.
Lo de los colores, esta claro que por el material usado en los zener, la luz excita de alguna manera el material de que está compuesto y produce "interferencias" eléctricas. La onda (color) va asociada a la frecuencia, pero puede que también a la energía aplicada (no sé si usas diferentes punteros con diferente potencia de emisión).

Sea como sea... habrá que aconsejar usar carcasas o pintar los zeners XD, justo como has dicho.
Veré de nuevo el video que has puesto de StarTrek para ver si entiendo mejor como falla. Unicamente me he fijado en como iluminas y saltan los errores, no en como afecta al patrón de test o la relación entre el tipo de patrón del test y la luz usada.

Como mola :)
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por Popopo »

cacharreo escribió: 24 Dic 2022, 01:45 Cuando @Popopo compre los zeners para la tirada, después de seleccionarlos por su capacitancia los pinta uno por uno. ;)
Ni los sueñes!!! Los meto todos en un bote de pintura! A la vez, a dolor

Y hablando de los patrones de tests... pensaba que el soft (firm) ya hacía una pasada con patrón alterno y alterno invertido. No debería ocupar memoria, ni dificultad de implementación.
Y ahora que recuerdo, algo habías comentado al respecto (pero a ver quien lo encuentra... ah! si, yo cuando repase todo el hilo para el manual). Vale, lo dejo pendiente en cosas para entender después (cuando haya repasado todo el hilo).

Por otro lado, no puedo darte información de con qué patrón ha fallado, porque no queda pausado dando la información al respecto. El test unitario, que encambio si lo da, no es muy útil para esta parte de la comprobación, pues no no puedo estar 100 veces dando al test test.... test... .... ¿y sí?... ... ... ¿...?.... ¿Es complejo o costoso implementar un test tipo bucle como el que ya está pero que cuando falle una sola vez, se detenga y de información detallada del fallo? (patrón, zona de la memoria o dirección, dato escrito/Dato leído). Estaría como una opción de test en vez de una selección de test en función de la pulsación, me explico:

1. selección de la memoria.
2. información del wiring a realizar.
3. selección del tipo de test: Bucle bruto, bucle con parada al primer error, un único test/pase.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por cacharreo »

Popopo escribió: 24 Dic 2022, 02:39Igual lo he dicho mal... con la placa nueva que me mandaste + el último soft... no me ha funcionado en casi ninguna ocasión. Me funcionó una vez (como mucho dos) y de potra (o casualidad sin saber como).
Entonces te iba como ahora. Nada más que añadir. :)
Popopo escribió: 24 Dic 2022, 02:39A saber mi querido @cacharreo, a saber... welcome to my world. Es lo que debo hacer cada vez que se me olvida algo... invertir mucho tiempo,
He intentado buscar lo que comentabas, he encontrado los mensajes de las fechas en las que se comentó, los he releído pero ni aún así he encontrado nada relacionado. Me temo que andamos mezclando asuntos no relacionados con el debate actual y además separados en el tiempo.
Popopo escribió: 24 Dic 2022, 02:39El problema puede que no sea ese, ese es el síntoma.
Entiendo, creo que es a lo que me refería. De todas formas ya me cuentas después de leer este mensaje sobre los diferentes tipos de tests. :)
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Firmware fw0.23

Mensaje por cacharreo »

Firmware fw0.23

Binarios Funcionamiento
- Logo
- Selección de chip (asegurarse de que el zócalo ZIF está vacío y no hay cables en J4)
- Información sobre el cableado de tensiones ("wiring") entre J3 y J4 (se debe fijar como se indica y, una vez hecho y verificado, colocar el chip en el zócalo ZIF)
- Hay dos modos dependiendo de si se pulsa el botón OK(✓) con:
  • pulsación corta, test simple que al concluir muestra el resultado (una vez acaban las pruebas sobre la memoria se puede abandonar con el botón BACK(↲) o repetir el test pulsando el botón AGAIN (↺)),
  • pulsación larga, test automático que repite una y otra vez las pruebas sobre la memoria y a través del puerto serie facilita la información sobre el número de tests pasados, fallidos, totales además de información detallada en caso de fallo del test (cada vez que acaban las pruebas se puede abandonar dejando pulsado el botón BACK(↲)).
- Tests para memorias 4116, 4164, 4532-L, 4532-H y 4864 rellenando con 1s y con 0s.
- Test de pines (Pin test en el que el usuario puede utilizar J3 y un cable conectado a J2/GND (o al pin 20 del zócalo ZIF) para hacer conexiones a los pines 1-19 de J4 y comprobar su lectura en la pantalla, se acaba al pulsar simultáneamente UP(◀) y OK(✓))
- Autodiagnóstico (Self-test), diagnóstico de las conexiones (excepto en J4#9, 10 y 11) en el que solo es necesario seguir las indicaciones que el tester muestra en la esquina inferior izquierda y pulsar el botón OK(✓) para confirmar.

Notas
  • Esta versión no muestra la demo y no tiene test de botonera,...
  • Para actualizar el firmware o ejecutar cualquiera de los tests siempre hay que tener la precaución de no tener cables en J4 y el zócalo ZIF sin chip (vacío) pues en caso contrario puede producirse un error de comunicación con el Nano.
  • No existe aún una verificación de las tensiones en J4 por lo que es importante asegurarse de que el cableado de J3 a J4 es correcto antes de colocar el chip en el zócalo ZIF pues, de otro modo, podría dañarse la memoria.
  • Para comprobar el tester y/o sus modificaciones se recomienda utilizar la versión del firmware fw0.19.
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Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por cacharreo »

Popopo escribió: 24 Dic 2022, 02:56Ni los sueñes!!! Los meto todos en un bote de pintura! A la vez, a dolor
Recuerda acortarles antes la patilla del cátodo para marcarlo de alguna forma. :))
Popopo escribió: 24 Dic 2022, 02:56Y hablando de los patrones de tests... pensaba que el soft (firm) ya hacía una pasada con patrón alterno y alterno invertido.
Lo importante es comprender que hay que fijarse en lo que se muestra pantalla porque el firmware indica lo que está haciendo. Así que si no muestra más que las pasadas de relleno con [111] y después con [000] pues es que solo hace eso.
Popopo escribió: 24 Dic 2022, 02:56No debería ocupar memoria, ni dificultad de implementación.
El ciclo más interno de comprobación llama a una función predefinida cada tipo de test. No creas que por sencillo que parezca es algo trivial, andamos tan apurados por la escasa velocidad del Nano que cambios mínimos provocan que haya que sincronizar todo (y/o ajustar el tamaño del bloque de prueba).
Popopo escribió: 24 Dic 2022, 02:56Por otro lado, no puedo darte información de con qué patrón ha fallado, porque no queda pausado dando la información al respecto. El test unitario, que encambio si lo da, no es muy útil para esta parte de la comprobación, pues no no puedo estar 100 veces dando al test test.... test... .... ¿y sí?... ... ... ¿...?.... ¿Es complejo o costoso implementar un test tipo bucle como el que ya está pero que cuando falle una sola vez, se detenga y de información detallada del fallo? (patrón, zona de la memoria o dirección, dato escrito/Dato leído). Estaría como una opción de test en vez de una selección de test en función de la pulsación,
En modo continuo la información de cada test la proporciona tanto por el puerto serie como por el pin 12 (en mensajes anteriores se explica el protocolo). Con el fw0.23 quedaría así:

Código: Seleccionar todo

Test:1 0001/0000/0001
Test:1 0002/0000/0002
Test:1 0003/0000/0003
Test:1 0004/0000/0004
Test:1 0005/0000/0005
Test:1 0006/0000/0006
Test:0 0006/0001/0007 [000] Address:22B2 w00->r01
Test:0 0006/0002/0008 [111] Address:019C w01->r00
Test:1 0007/0002/0009
...
cuando un test falla en su línea se señala que falló (Test:0), en qué test falló ([000]), la dirección errónea (Address:22B2) y que aunque escribió un 0 (w00) acabó leyendo un 1 (r01).
Test:0 0006/0001/0007 000 Address:22B2 w00->r01
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por Popopo »

Pues... ha fallado otra vez, pero claro... con este ratio... muy bajo. Como ha sucedido en la noche ni idea del momento correcto... voy a por café. Un reset y a ponerlo otra vez. Antes de poner alguna memoria de las que me mandaron que están fritas si o si.
► Mostrar Spoiler
Edito: en lo que desayunaba ha fallado de nuevo. (osea van dos) en lo que va de conteo desde la foto, pues 2350/2/2352
No tiene los permisos requeridos para ver los archivos adjuntos a este mensaje.
Última edición por Popopo el 24 Dic 2022, 12:42, editado 1 vez en total.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por Popopo »

cacharreo escribió: 24 Dic 2022, 03:16 Entiendo, creo que es a lo que me refería. De todas formas ya me cuentas después de leer este mensaje sobre los diferentes tipos de tests. :)
Lo había leído, pero lo he vuelto a leer por si acaso :) El test del proyecto ahora testea con rellenos de todo 0, o todo 1. Bien, ¿por qué alternos en memoria? Bueno, no importa.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por cacharreo »

Popopo escribió: 24 Dic 2022, 12:09voy a por café
¡Que aproveche ese desayuno! :)
Popopo escribió: 24 Dic 2022, 12:09Pues... ha fallado otra vez, pero claro... con este ratio... muy bajo.
...
en lo que desayunaba ha fallado de nuevo. (osea van dos) en lo que va de conteo desde la foto, pues 2350/2/2352
La tasa de fallos no es ni del 1 por 1000, más que aceptable pero aún así es interesante averiguar cuál pueda ser la causa (¿tienes radioaficionados o una emisora cerca?).
Popopo escribió: 24 Dic 2022, 12:09Como ha sucedido en la noche ni idea del momento correcto...
Si monitorizas la salida del puerto serie con el ordenador obtienes esa información (antes, ya de camino actualiza al fw0.23).
Popopo escribió: 24 Dic 2022, 12:13Lo había leído, pero lo he vuelto a leer por si acaso :)
No te preocupes, comunicándonos en lenguaje natural con tantísimo margen para la ambigüedad no queda otra que andar preguntando, mucha retroalimentación y redundancia para poder estar mínimamente seguros de hablar de lo mismo.
Popopo escribió: 24 Dic 2022, 12:13El test del proyecto ahora testea con rellenos de todo 0, o todo 1. Bien, ¿por qué alternos en memoria? Bueno, no importa.
Los demás tests alternos están definidos pero no implementados, quedan en total 3 por añadir, el [010], el [101] y el [rnd] (aleatorio). De momento para las pruebas nos es más cómodo hacerlas con 2 que con 5 tests porque así cada batería de test es razonablemente rápida. Cuando esté resuelto, no habrá problema en añadir los demás.
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