Binarios
- Firmware fw0.25d (77.6KiB)
- Logo
- Selección de chip (asegurarse de que el zócalo ZIF está vacío y no hay cables en J4)
- Información sobre el cableado de tensiones ("wiring") entre J3 y J4 (se debe fijar como se indica y, una vez hecho y verificado, colocar el chip en el zócalo ZIF)
- Hay dos modos dependiendo de si se pulsa el botón OK(✓) con:
- pulsación corta, test simple que al concluir muestra el resultado (una vez acaban las pruebas sobre la memoria se puede abandonar con el botón BACK(↲) o repetir el test pulsando el botón AGAIN (↺)),
- pulsación larga, test automático que repite una y otra vez las pruebas sobre la memoria y a través del puerto serie facilita la información sobre el número de tests pasados, fallidos, totales además de información detallada en caso de fallo del test (cada vez que acaban las pruebas se puede abandonar dejando pulsado el botón BACK(↲)).
- Test de pines (Pin test en el que el usuario puede utilizar J3 y un cable conectado a J2/GND (o al pin 20 del zócalo ZIF) para hacer conexiones a los pines 1-19 de J4 y comprobar su lectura en la pantalla, se acaba al pulsar simultáneamente UP(◀) y OK(✓))
- Autodiagnóstico (Self-test), diagnóstico de las conexiones (excepto en J4#9, 10 y 11) en el que solo es necesario seguir las indicaciones que el tester muestra en la esquina inferior izquierda y pulsar el botón OK(✓) para confirmar.
Notas
- Esta versión no muestra la demo y no tiene test de botonera,...
- Para actualizar el firmware o ejecutar cualquiera de los tests siempre hay que tener la precaución de no tener cables en J4 y el zócalo ZIF sin chip (vacío) pues en caso contrario puede producirse un error de comunicación con el Nano.
- No existe aún una verificación de las tensiones en J4 por lo que es importante asegurarse de que el cableado de J3 a J4 es correcto antes de colocar el chip en el zócalo ZIF pues, de otro modo, podría dañarse la memoria.