Va de Retro DRAM tester [v2.00]

Proyectos de hardware con sus esquemáticos y si llevan software en fuente

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Aquí solo tienen cabida proyectos de hardware que incluyan siempre al menos sus esquemáticos para poder reproducirlos si llevan componentes electrónicos, y si es posible los ficheros del programa en que se hacen, los diseños de las placas, los gerber, etc. Si llevan algún tipo de software asociado debe estar diponible el código fuente

Para los que no cumplen estas condiciones se debe postear en el foro de proyectos generales.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por cacharreo »

Conoceréis los procesadores de Logic Green LGT8F328P que son clones muy mejorados y más rápidos (a la misma frecuencia de reloj) de los ATmega328P con un juego de instrucciones compatible. Unas comparativas:

https://github.com/SuperUserNameMan/arduino_fbench
https://github.com/SuperUserNameMan/Ard ... _benchmark
https://github.com/SuperUserNameMan/ard ... _benchmark

pueden funcionar hasta 32MHz, menor consumo, puerto USB-C, tiene 7 pines digitales más, los pines pueden manejar más corriente (80mA), el DAC es real y no emulado mediante PWM, el ADC es de 12bits en lugar de 10bits, tiene una única memoria flash con parte de la que simula la EEPROM del ATmega328P,... Las placas de desarrollo tipo Nano se pueden programar directamente desde el Arduino IDE -después de instalar un paquete en 'Boards manager'- y lo mejor, el precio ahora mismo está entre los 1€ y 2€/unidad.

A primera vista las pequeñas pegas que noto son que el chip se programa por un conector JTAG/SWD (SWC, SWD, RESET, GND y VCC) y no por el clásico ICSP (haciendo inútiles nuestros programadores AVR); y que, como era de esperar, el programa del DRAM tester no funciona bien por los cambios en la velocidad de ejecución.

Estos son los resultados con el comprobador de firmas de dos modelos diferentes:

LQFP32 MiniEVB

Código: Seleccionar todo

Boot signature:	0C 94 00 3A 0C 94 65 00 0C 94 65 00 0C 94 65 00
		0C 94 65 00 0C 94 65 00 0C 94 3D 00 0C 94 65 00
Signature:	0C 00 0C
Low fuse:	0C 1100b
Lock fuse:	94 10010100b
Extended fuse:	00 0b
High fuse:	3A 111010b
Index:		0.00
LQFP48 MiniEVB

Código: Seleccionar todo

Boot signature:	0C 94 00 3A 0C 94 65 00 0C 94 65 00 0C 94 65 00
		0C 94 65 00 0C 94 65 00 0C 94 3D 00 0C 94 65 00
Signature:	0C 00 0C
Low fuse:	0C 1100b
Lock fuse:	94 10010100b
Extended fuse:	00 0b
High fuse:	3A 111010b
Index:		0.00
que son obviamente idénticos (y corresponden a datos sin sentido aparente).
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por Gomas48K »

david ortega escribió: 18 Ene 2023, 13:54 Ok. Lo pregunto por que casualmente he estado probando unas 4164 con un tester que he montado en una protoboard, y rams que se supone están bien dan errores aleatorios, no siempre en las mismas direcciones.
Bienvenido David.

Ampliando la respuesta de @cacharreo, también hemos detectado que en nuestra primera versión 1.02f, al tener muchos puentes, debido a las modificaciones que se han ido incorporando al diseño, hace que sea mas sensible a estática, de las manos por ejemplo, generando posibles fallos puntuales en los test.
Este tema ha sido corregido con las versiones posteriores, al no tener puentes.

Dicho esto, puede que al estar montado tu diseño en una protoboard, existe la posibilidad que esté influyendo también este tema, por un apantallamiento insuficiente.

Popopo escribió: 20 Ene 2023, 14:07 Os expongo lo que tengo hasta ahora de la APP que me ando haciendo:
De lujo!!!!
Con APP y todo!!!
Que será lo proximo? Una conexión a internet, para comparar en una base de datos las memorias? :P

cacharreo escribió: 20 Ene 2023, 15:30 Conoceréis los procesadores de Logic Green LGT8F328P que son clones muy mejorados y más rápidos (a la misma frecuencia de reloj) de los ATmega328P con un juego de instrucciones compatible.
No he llgado a indagar mucho sobre ellos... Pero por lo que comentas, son una posibilidad atractiva.

cacharreo escribió: 20 Ene 2023, 15:30 A primera vista las pequeñas pegas que noto son que el chip se programa por un conector JTAG/SWD (SWC, SWD, RESET, GND y VCC) y no por el clásico ICSP (haciendo inútiles nuestros programadores AVR)
Eso si es un inconveniente, con lo bien que se trabaja por ICSP.

cacharreo escribió: 20 Ene 2023, 15:30 como era de esperar, el programa del DRAM tester no funciona bien por los cambios en la velocidad de ejecución.
El programa lo tienes optimizado al limite!!! Normal que haya que reajustarlo a el nuevo hardware.


cacharreo escribió: 20 Ene 2023, 15:30 Estos son los resultados con el comprobador de firmas de dos modelos diferentes:

LQFP32 MiniEVB

Código: Seleccionar todo

Boot signature:	0C 94 00 3A 0C 94 65 00 0C 94 65 00 0C 94 65 00
		0C 94 65 00 0C 94 65 00 0C 94 3D 00 0C 94 65 00
LQFP48 MiniEVB

Código: Seleccionar todo

Boot signature:	0C 94 00 3A 0C 94 65 00 0C 94 65 00 0C 94 65 00
		0C 94 65 00 0C 94 65 00 0C 94 3D 00 0C 94 65 00
que son obviamente idénticos.
Sospechoso que tengan exactamente los mismos datos en la firma interna, no?
Parece que están grabados "Fijos" para todos igual.... No creo que sea coincidencia.... :o
Se supone que de un dispositivo a otro tendrían que haber cambios en algunas posiciones...... o me he perdido algo?
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por cacharreo »

Gomas48K escribió: 20 Ene 2023, 21:39Dicho esto, puede que al estar montado tu diseño en una protoboard, existe la posibilidad que esté influyendo también este tema, por un apantallamiento insuficiente.
Y por problemas inherentes a los cables DuPont.
Gomas48K escribió: 20 Ene 2023, 21:39Eso si es un inconveniente, con lo bien que se trabaja por ICSP.
Es un chasco pero tengo un Nano configurado como ISP con el que grabar el bootloader, etc.

Otro chasco es que las placas en las que vienen montados, compatibles pin a pin con los Nano, no añaden los nuevos puertos digitales que si dado el caso estudiarámos sustituir los Nanos nos vendrían de perlas. He visto otras, por ejemplo las Teensy, que tienen pines digitales en mitad de la placa.
Gomas48K escribió: 20 Ene 2023, 21:39El programa lo tienes optimizado al limite!!! Normal que haya que reajustarlo a el nuevo hardware.
Cualquier cambio de la velocidad de ejecución cambia los tiempos de acceso a las memorias. Creo que @Rebobinando tenía uno muy parecido al MiniEVB en su antiguo tester.
Gomas48K escribió: 20 Ene 2023, 21:39Sospechoso que tengan exactamente los mismos datos en la firma interna, no?
Parece que están grabados "Fijos" para todos igual.... No creo que sea coincidencia.... :o
Se supone que de un dispositivo a otro tendrían que haber cambios en algunas posiciones...... o me he perdido algo?
Es que no son una firma. Siendo microcontroladores tan diferentes es perfectamente posible que el programa para la firma no sea adecuado y, una vez confirmado que tiene una firma y dónde, habría que proceder a detectar el procesador y obtenerla de una u otra dirección.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por Gomas48K »

cacharreo escribió: 20 Ene 2023, 21:54 Otro chasco es que las placas en las que vienen montados, compatibles pin a pin con los Nano, no añaden los nuevos puertos digitales que si dado el caso estudiarámos sustituir los Nanos nos vendrían de perlas. He visto otras, por ejemplo las Teensy, que tienen pines digitales en mitad de la placa.
Ya te imagino rondando una nueva versión de Nano... :))

cacharreo escribió: 20 Ene 2023, 21:54 Es que no son una firma. Siendo microcontroladores tan diferentes es perfectamente posible que el programa para la firma no sea adecuado y, una vez confirmado que tiene una firma y dónde, habría que proceder a detectar el procesador y obtenerla de una u otra dirección.
Ah!!!! Ok!!
Puede estar leyendo cualquier cosa.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por cacharreo »

Gomas48K escribió: 20 Ene 2023, 22:05Ya te imagino rondando una nueva versión de Nano... :))
No es viable para este proyecto porque los chips sueltos no están disponibles a buen precio y se escapa de su ámbito el desmontar uno comprado para montarlo en una nueva placa.

Esto no quita que podría estudiarse una próxima versión del tester que, como siempre sería la misma para todo el mundo, pero que incorporara MOSFET opcionales para controlar las tensiones (JP5 que se dejaría sin puente) a través de estos pines digitales nuevos que estarían en una nueva placa para este microcontrolador para quien pueda interesarle.
Gomas48K escribió: 20 Ene 2023, 22:05Ah!!!! Ok!!
Puede estar leyendo cualquier cosa.
Exacto, son datos sin sentido.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por cacharreo »

Popopo escribió: 20 Ene 2023, 14:07La App es muy tonta realmente, se podría hacer con un WindowsBuilder en un pispas, pero ... como es un ejercicio también (para mi) pues lo hago a pelo y a mi ritmo, en el lenguaje de mi elección.
Tampoco creo que fuera tan difícil tomar como base el código de un tutorial de Java e ir añadiendo y modificando textos. Así inicialmente no plantea una especial dificultad pero más adelante cuando haya que manejar bases de datos, contar con un entorno de ventanas multiplataforma potente, "parsear" XML y, sobre todo, interactuar con el tester y el hardware del PC entonces habrá que tomar decisiones respecto a las librerías a utilizar y ese sería el pistoletazo de salida para un sinfín de incompatibilidades entre las diferentes plataformas, diferentes versiones del JRE, librerías que funcionan en uno pero no en otros,...

En mi opinión, sería conveniente tener resuelta al más mínimo detalle la comunicación con el tester, en ambos sentidos, antes de teclear una sola línea de código puesto que, se vea o no ahora, va a condicionar en una terrible medida el desarrollo.

En cuanto a la persiana desplegable para seleccionar la velocidad de la RAM quedó obsoleta desde antes de su concepción porque la velocidad de ejecución del test de un solo bit en el microcontrolador siempre va a ser mucho más lenta. Recuerdo que un ciclo de reloj a 16MHz se lleva 62.5ns, que no hay ninguna instrucción del ATmega328P que se ejecute en menos de 4 ciclos de reloj (mínimo 250ns) y que la comprobación de un solo bit requiere bastantes más de una sola instrucción. Insisto, si el test sobre un único bit requiere, a ojo de buen cubero y solo por decir algo, 20 instrucciones del microcontrolador no se va a resolver el proceso en menos de 5µs (5,000 ns) por lo que no tiene sentido que la aplicación ofrezca una selección de la velocidad de la memoria.

Sobre la disquisición acerca de modificaciones o incorporar nuevos tests destaco de nuevo el problema de escaso tamaño de la memoria de programa, problema que aún no ha hecho acto de presencia pero que con seguridad aparecerá más adelante e incluso eliminando test de pines, autodiagnóstico, etc. complicará añadir nuevas prestaciones.

Por último y en definitiva, resumiría diciendo que considero un camino más óptimo pensar desde la realidad más básica (de más bajo nivel) del tester actual hacia la aplicación que pensarlo desde la aplicación hacia el tester puesto que de este modo hay un gran riesgo de que en un estado muy avanzado del desarrollo se "descubran" demasiado tarde escollos insalvables.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por Popopo »

Me parece bien,
Olvidad mi APP. Como he dicho, la desarrollaba para lo que posteriormente necesito.

Todos pegas, y hace algo de tiempo que no las veo muy constructivas. Manual, pegas, APP, pegas, notas del diseño, pegas. Haga lo que haga nada te parece bien. Como no tengo ni idea de como hacer lo que deseas hacer, a la manera que quieres, no lo haré.

Bueno, todo me parece bien. Probaré memorias o cosas del tester hasta que otro voluntario con más energía y tiempo, quiera que le mande los testers.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por cacharreo »

Pero si no pasa nada, no te preocupes, cada uno tenemos formas diferentes de avanzar en los proyectos y disculpa si algo te ha molestado. En mi caso tiendo a fijarme en qué puede dar problemas entendiendo que eliminado esto, lo que quede deberá ir bien; también a ir paso a paso desde lo que ya ha funcionado hacia el siguiente pero es solo una forma diferente de enfoque y en ningún caso los comentarios son críticas, ni hay nada personal, sólo matizaciones centradas exclusivamente en la resolución del problema que debatamos u, otras veces, avisos sobre posibles escollos cuando creo que podrían ser evitados para así ahorrar ese tiempo y esfuerzo. Esta es la única razón para que invierta tiempo en escribir todo eso y espero que se entienda mejor ahora pero gracias por compartir tu reflexión porque nos servirá para mejorar comunicaciones futuras.
Popopo escribió: 22 Ene 2023, 00:53Como no tengo ni idea de como hacer lo que deseas hacer, a la manera que quieres, no lo haré.
Es tu aplicación, la desarrollas para ganar comodidad en el manejo del tester, por lo que desde el primer momento se entiende que la haces a tu manera y, sobre todo, para ti pero si con un comentario te ahorro una molestia, pensaba que te merecería la pena leerlo pero de cualquier modo la decisión final es solamente tuya.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por cacharreo »

Probando nuevos zeners con la idea de ir a tiro hecho cuando se hagan las compras,
- LGE 1N4733 DO-41 de color negro con una banda gris plata señalando el cátodo. Con el mismo aspecto que los 1N58xx presentaba como ventaja ser opaco por lo que no influiría la luz pero quedan descartados por su altísima capacitancia (>610pF).
- Tak Cheong 1N4733A DO-41 de color verde metalizado y con una banda negra señalando el cátodo. De nuevo parecía ventajoso al ser opaco por lo que no influiría la luz pero quedan descartados por su alta capacitancia (>125pF).
- Nexperia BZ85-C5V1,133 DO-41, los típicos en vidrio con un cuerpo central en color naranja. Descartados (>380pF).
por lo que de momento los más prometedores de entre los que tenemos con el fabricante identificado siguen siendo los SEM tanto en su versión corta como larga que además son económicos y se pueden conseguir a miles por unos pocos euros.

Por su amplia disponibilidad tomamos como referencia las medidas del LCR-T7 pero con otros medidores LCR las variaciones de sus tests producirán necesariamente variaciones en los resultados. Los testers de mayor calidad, por ejemplo, el DER DE-5000 entregarán resultados necesariamente más altos (~2,400pF) debido a que sus tests se realizan a frecuencias mucho más altas (100kHz frente a los 100-120Hz del LCR-T7).
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 [beta testing]

Mensaje por Gomas48K »

Popopo escribió: 22 Ene 2023, 00:53 Olvidad mi APP. Como he dicho, la desarrollaba para lo que posteriormente necesito.
Perdona que me meta en este tema, pero por lo que creo entender, esta APP la diseñas TU para tu comodidad.
Al ser una opción paralela al proyecto, tu la diseñas a tu gusto y si luego la quieres compartir, mejor que mejor.
Mi percepción personal, es que @cacharreo solo ha intentado darte unos datos (bajo su criterio) como consejo, no como critica.
Tu puedes tenerlos en cuenta o no.
Pero espero que no te desanimes y continúes con la APP, por tu comodidad y porque cuantas mas opciones tenga el proyecto, mejor para el proyecto.

Por un mal entendido (que es lo que yo veo bajo mi criterio), no merece la pena la tensión generada y propongo normalizar el tema, por el bien de todos.

Disculpar mi intromisión.

cacharreo escribió: 25 Ene 2023, 15:47 Probando nuevos zeners con la idea de ir a tiro hecho cuando se hagan las compras
Gracias por la comparativa.
Al final, los mas baratos, son lo que mejor nos van para este proyecto... Curioso.
Y siempre se pueden pintar de colorines, para evitar interacciones externas, aunque no lo veo necesario, la verdad.
Con mi Gomas 48K, hasta el mismo infierno!!! :twisted:
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