Toda comprobación es buena , y es muy buena implementación para los descuidados o cuando se prueban varios tipos en una sesión ...cacharreo escribió: ↑04 Abr 2022, 15:12 .......... En el momento en el que el usuario confirma el cableado (wiring) pulsando el botón ✓el tester utiliza el pin analógico de solo entrada A6, conectado al pin #10 del zócalo ZIF, junto a los otros 18 pines digitales para verificar dentro de lo razonable que el cableado está como debe. Si detecta algún problema, se muestra un error y vuelve a la pantalla del cableado impidiendo pasar al test en sí.......
Va de Retro DRAM tester [v2.00]
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Aquí solo tienen cabida proyectos de hardware que incluyan siempre al menos sus esquemáticos para poder reproducirlos si llevan componentes electrónicos, y si es posible los ficheros del programa en que se hacen, los diseños de las placas, los gerber, etc. Si llevan algún tipo de software asociado debe estar diponible el código fuente
Para los que no cumplen estas condiciones se debe postear en el foro de proyectos generales.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Incluso para memorias de un mismo tipo se ven 3 o 4 versiones diferentes, unas con el notch cuadrado, rectangular, en media luna y sin notch ninguno. En un momento dado después de prueba tras prueba o con una iluminación engañosa se coloca un cable o una memoria de cualquier manera involuntariamente y se lía.
En las primeras actualizaciones de firmware intentaré que sea fácil quemar unos pocos cientos para que me las mandéis e ir haciendo acopio que necesito ampliar mi stock de chips tostados.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Muy interesante,cacharreo escribió: ↑04 Abr 2022, 15:12 Todas las sugerencias son siempre bienvenidas, se hablan y llegamos a un acuerdo. No hay problema.
Me gustaría comentar algo que quizás pasa desapercibido debido al resto del debate y que no se infiere fácilmente viendo la demo o el esquema. En el momento en el que el usuario confirma el cableado (wiring) pulsando el botón ✓el tester utiliza el pin analógico de solo entrada A6, conectado al pin #10 del zócalo ZIF, junto a los otros 18 pines digitales para verificar dentro de lo razonable que el cableado está como debe. Si detecta algún problema, se muestra un error y vuelve a la pantalla del cableado impidiendo pasar al test en sí. Análogamente esos mismos 19 pines, A6 y los 18, se usan en las ocasiones que es necesario confirmar lo contrario, es decir, que no hay tensiones, etc.
¿cómo logra esto?
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Me he perdido, ¿qué quieres decir?cacharreo escribió: ↑04 Abr 2022, 16:01 Incluso para memorias de un mismo tipo se ven 3 o 4 versiones diferentes, unas con el notch cuadrado, rectangular, en media luna y sin notch ninguno. En un momento dado después de prueba tras prueba o con una iluminación engañosa se coloca un cable o una memoria de cualquier manera involuntariamente y se lía.
¿Los Notch no son filtros RC?
He buscado algo de info, pero lo que me aparecen son filtros de frecuencia en general.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Por ejemplo, la lectura del pin analógico A6 va a estar alrededor de 1023 cuando el usuario haya conectado los +5V a J4 como se le pide en la pantalla de cableado.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Discúlpame por usar el palabro. Son las muescas que tienen los integrados para determinar la orientación correcta y/o dónde está el pin #1.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Un interesante experimento con nuestros fusibles rearmables, "condensadores" para los amigos, luchando a muerte contra una carga electrónica programable.
El esquema de conexión es simple, una fuente de alimentación programada a una tensión fija +5V y hasta 1.5A de intensidad directamente conectada a uno de los terminales del fusible que está en serie la carga eléctronica.
El programa empieza aplicando una corriente de 10mA, deja confiarse al fusible, al poco comienza a subir la corriente hasta 90mA (a 1mA/µs), aguanta algo más de 1s, baja bruscamente la corriente de nuevo a 10mA y vuelta a empezar.
En el eje horizontal (o de abscisas) de la gráfica se representa el tiempo (t) en segundos; y en el eje vertical (o de ordenadas) en amarillo la tensión en V y en rojo la intensidad en mA.
El esquema de conexión es simple, una fuente de alimentación programada a una tensión fija +5V y hasta 1.5A de intensidad directamente conectada a uno de los terminales del fusible que está en serie la carga eléctronica.
El programa empieza aplicando una corriente de 10mA, deja confiarse al fusible, al poco comienza a subir la corriente hasta 90mA (a 1mA/µs), aguanta algo más de 1s, baja bruscamente la corriente de nuevo a 10mA y vuelta a empezar.
En el eje horizontal (o de abscisas) de la gráfica se representa el tiempo (t) en segundos; y en el eje vertical (o de ordenadas) en amarillo la tensión en V y en rojo la intensidad en mA.
Última edición por cacharreo el 07 Abr 2022, 08:53, editado 3 veces en total.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Si entiendo bien, a efectos prácticos, estos fusibles rearmables no son "fast", y cortarían el flujo en torno al segundo de aumentar la corriente/tensión por encima de su umbral.
Un segundo no parece demasiado tiempo, pero ¿es suficiente para proteger los diferentes módulos? ¿Cuál es tu experiencia/opinión?
Última edición por Popopo el 07 Abr 2022, 16:17, editado 1 vez en total.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
Rápidos no son para nada (¿lo habíamos hablado antes, verdad?), según las hojas de especificaciones se pueden tomar entre 1 y 5s. pero en las pruebas han sido suficientemente rápidos para evitar que la corriente medida en la fuente de alimentación de laboratorio se disparara.
Reconozco que la resistencia de la propia carga electrónica dificulta la interpretación y el hecho de que el modelo que uso no pueda capturar varios parámetros simultáneamente nos deja la gráfica que tenemos (lo suyo hubiera sido ver la intensidad, tensión, resistencia, etc. y por cierto, la primera que hago con el Calc que su rato ha costado) pero en pruebas con osciloscopio la reacción del PPTC está en torno al 300ms. nada mal teniendo en cuenta que en ese tiempo está añadido el retraso de mi interacción para disminuir o aumentar la corriente de forma manual. Tampoco es la reacción a un incremento progresivo de la corriente es la misma que a un cambio brusco como en mis pruebas anteriores.
A propósito de los PPTC y si hacéis pruebas en este sentido, atención porque la temperatura que alcanzan es alta y pueden quemar.
Reconozco que la resistencia de la propia carga electrónica dificulta la interpretación y el hecho de que el modelo que uso no pueda capturar varios parámetros simultáneamente nos deja la gráfica que tenemos (lo suyo hubiera sido ver la intensidad, tensión, resistencia, etc. y por cierto, la primera que hago con el Calc que su rato ha costado) pero en pruebas con osciloscopio la reacción del PPTC está en torno al 300ms. nada mal teniendo en cuenta que en ese tiempo está añadido el retraso de mi interacción para disminuir o aumentar la corriente de forma manual. Tampoco es la reacción a un incremento progresivo de la corriente es la misma que a un cambio brusco como en mis pruebas anteriores.
A propósito de los PPTC y si hacéis pruebas en este sentido, atención porque la temperatura que alcanzan es alta y pueden quemar.
Última edición por cacharreo el 05 Abr 2022, 08:15, editado 3 veces en total.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS
¿Quemar? ¿no debería quedar en abierto al superar los margenes de trabajo? Si queman ellos, ¿cómo saber que protegen lo que hay detrás?