Va de Retro DRAM tester [v2.00]

Proyectos de hardware con sus esquemáticos y si llevan software en fuente

Moderadores: cacharreo, Fundadores

Reglas del Foro
Aquí solo tienen cabida proyectos de hardware que incluyan siempre al menos sus esquemáticos para poder reproducirlos si llevan componentes electrónicos, y si es posible los ficheros del programa en que se hacen, los diseños de las placas, los gerber, etc. Si llevan algún tipo de software asociado debe estar diponible el código fuente

Para los que no cumplen estas condiciones se debe postear en el foro de proyectos generales.
Avatar de Usuario
geloalex !Msx 3
Demonio segundo orden
Demonio segundo orden
Mensajes: 1419
Registrado: 19 Abr 2018, 19:21
Ubicación: Instagram: geloalex
Has thanked: 955 times
Been thanked: 498 times

Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por geloalex »

cacharreo escribió: 04 Abr 2022, 15:12 .......... En el momento en el que el usuario confirma el cableado (wiring) pulsando el botón ✓el tester utiliza el pin analógico de solo entrada A6, conectado al pin #10 del zócalo ZIF, junto a los otros 18 pines digitales para verificar dentro de lo razonable que el cableado está como debe. Si detecta algún problema, se muestra un error y vuelve a la pantalla del cableado impidiendo pasar al test en sí.......
Toda comprobación es buena , y es muy buena implementación para los descuidados o cuando se prueban varios tipos en una sesión ... ;)
SpectrumZX81,ZX48,ZX48+,ZX128+2+3CommodoreA1200,A500,C64,C64C,C16AmstradCPC464,CPC6128MSXHB20P,HB75P,HBF1,HBF1XD,SVI728,8020Atari2600Sixer,2600Jr,7800PhillipsVideopacG7000NintendoGB,GBC,GBA,NES,FAMICOM,SNES,N64PCEnginePCEngine,PCEngineDUOSegaGG,SMS,SMS2,MD1,MD2,MEGACD2,SATURN,DC,NAOMIMicrosoftXBOX360Sony PS1,PS2,PS3,PS4,PSP,PSVitaMINISNES,SNES,MD,PSX INSTAGRAM: geloalex
Avatar de Usuario
cacharreo !Sinclair 1
Moderador
Moderador
Mensajes: 6113
Registrado: 09 Ago 2019, 10:17
Ubicación: /home/cacharreo/
Has thanked: 1249 times
Been thanked: 3003 times
Contactar:

Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por cacharreo »

Incluso para memorias de un mismo tipo se ven 3 o 4 versiones diferentes, unas con el notch cuadrado, rectangular, en media luna y sin notch ninguno. En un momento dado después de prueba tras prueba o con una iluminación engañosa se coloca un cable o una memoria de cualquier manera involuntariamente y se lía.

En las primeras actualizaciones de firmware intentaré que sea fácil quemar unos pocos cientos para que me las mandéis e ir haciendo acopio que necesito ampliar mi stock de chips tostados. :))
© cacharreo
Avatar de Usuario
Popopo
Hermano de Lucifer
Hermano de Lucifer
Mensajes: 3466
Registrado: 05 Nov 2019, 15:25
Has thanked: 1120 times
Been thanked: 571 times

Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por Popopo »

cacharreo escribió: 04 Abr 2022, 15:12 Todas las sugerencias son siempre bienvenidas, se hablan y llegamos a un acuerdo. No hay problema.

Me gustaría comentar algo que quizás pasa desapercibido debido al resto del debate y que no se infiere fácilmente viendo la demo o el esquema. En el momento en el que el usuario confirma el cableado (wiring) pulsando el botón ✓el tester utiliza el pin analógico de solo entrada A6, conectado al pin #10 del zócalo ZIF, junto a los otros 18 pines digitales para verificar dentro de lo razonable que el cableado está como debe. Si detecta algún problema, se muestra un error y vuelve a la pantalla del cableado impidiendo pasar al test en sí. Análogamente esos mismos 19 pines, A6 y los 18, se usan en las ocasiones que es necesario confirmar lo contrario, es decir, que no hay tensiones, etc.
Muy interesante,
¿cómo logra esto?
Avatar de Usuario
Popopo
Hermano de Lucifer
Hermano de Lucifer
Mensajes: 3466
Registrado: 05 Nov 2019, 15:25
Has thanked: 1120 times
Been thanked: 571 times

Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por Popopo »

cacharreo escribió: 04 Abr 2022, 16:01 Incluso para memorias de un mismo tipo se ven 3 o 4 versiones diferentes, unas con el notch cuadrado, rectangular, en media luna y sin notch ninguno. En un momento dado después de prueba tras prueba o con una iluminación engañosa se coloca un cable o una memoria de cualquier manera involuntariamente y se lía.
Me he perdido, ¿qué quieres decir?
¿Los Notch no son filtros RC?
He buscado algo de info, pero lo que me aparecen son filtros de frecuencia en general.
Avatar de Usuario
cacharreo !Sinclair 1
Moderador
Moderador
Mensajes: 6113
Registrado: 09 Ago 2019, 10:17
Ubicación: /home/cacharreo/
Has thanked: 1249 times
Been thanked: 3003 times
Contactar:

Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por cacharreo »

Popopo escribió: 04 Abr 2022, 18:50Muy interesante, ¿cómo logra esto?
Por ejemplo, la lectura del pin analógico A6 va a estar alrededor de 1023 cuando el usuario haya conectado los +5V a J4 como se le pide en la pantalla de cableado.
© cacharreo
Avatar de Usuario
cacharreo !Sinclair 1
Moderador
Moderador
Mensajes: 6113
Registrado: 09 Ago 2019, 10:17
Ubicación: /home/cacharreo/
Has thanked: 1249 times
Been thanked: 3003 times
Contactar:

Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por cacharreo »

Popopo escribió: 04 Abr 2022, 18:55Me he perdido, ¿qué quieres decir?
¿Los Notch no son filtros RC?
Discúlpame por usar el palabro. Son las muescas que tienen los integrados para determinar la orientación correcta y/o dónde está el pin #1.

Imagen
© cacharreo
Avatar de Usuario
cacharreo !Sinclair 1
Moderador
Moderador
Mensajes: 6113
Registrado: 09 Ago 2019, 10:17
Ubicación: /home/cacharreo/
Has thanked: 1249 times
Been thanked: 3003 times
Contactar:

Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por cacharreo »

Un interesante experimento con nuestros fusibles rearmables, "condensadores" para los amigos, luchando a muerte contra una carga electrónica programable.

El esquema de conexión es simple, una fuente de alimentación programada a una tensión fija +5V y hasta 1.5A de intensidad directamente conectada a uno de los terminales del fusible que está en serie la carga eléctronica.

El programa empieza aplicando una corriente de 10mA, deja confiarse al fusible, al poco comienza a subir la corriente hasta 90mA (a 1mA/µs), aguanta algo más de 1s, baja bruscamente la corriente de nuevo a 10mA y vuelta a empezar.

En el eje horizontal (o de abscisas) de la gráfica se representa el tiempo (t) en segundos; y en el eje vertical (o de ordenadas) en amarillo la tensión en V y en rojo la intensidad en mA.

Imagen
Última edición por cacharreo el 07 Abr 2022, 08:53, editado 3 veces en total.
© cacharreo
Avatar de Usuario
Popopo
Hermano de Lucifer
Hermano de Lucifer
Mensajes: 3466
Registrado: 05 Nov 2019, 15:25
Has thanked: 1120 times
Been thanked: 571 times

Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por Popopo »

cacharreo escribió: 04 Abr 2022, 20:18 Un interesante experimento con nuestros fusibles rearmables, "condensadores"...
En el eje horizontal (o de abscisas) de la gráfica se representa el tiempo (t) en seg...
Si entiendo bien, a efectos prácticos, estos fusibles rearmables no son "fast", y cortarían el flujo en torno al segundo de aumentar la corriente/tensión por encima de su umbral.
Un segundo no parece demasiado tiempo, pero ¿es suficiente para proteger los diferentes módulos? ¿Cuál es tu experiencia/opinión?
Última edición por Popopo el 07 Abr 2022, 16:17, editado 1 vez en total.
Avatar de Usuario
cacharreo !Sinclair 1
Moderador
Moderador
Mensajes: 6113
Registrado: 09 Ago 2019, 10:17
Ubicación: /home/cacharreo/
Has thanked: 1249 times
Been thanked: 3003 times
Contactar:

Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por cacharreo »

Rápidos no son para nada (¿lo habíamos hablado antes, verdad?), según las hojas de especificaciones se pueden tomar entre 1 y 5s. pero en las pruebas han sido suficientemente rápidos para evitar que la corriente medida en la fuente de alimentación de laboratorio se disparara.

Reconozco que la resistencia de la propia carga electrónica dificulta la interpretación y el hecho de que el modelo que uso no pueda capturar varios parámetros simultáneamente nos deja la gráfica que tenemos (lo suyo hubiera sido ver la intensidad, tensión, resistencia, etc. y por cierto, la primera que hago con el Calc que su rato ha costado) pero en pruebas con osciloscopio la reacción del PPTC está en torno al 300ms. nada mal teniendo en cuenta que en ese tiempo está añadido el retraso de mi interacción para disminuir o aumentar la corriente de forma manual. Tampoco es la reacción a un incremento progresivo de la corriente es la misma que a un cambio brusco como en mis pruebas anteriores.

A propósito de los PPTC y si hacéis pruebas en este sentido, atención porque la temperatura que alcanzan es alta y pueden quemar.
Última edición por cacharreo el 05 Abr 2022, 08:15, editado 3 veces en total.
© cacharreo
Avatar de Usuario
Popopo
Hermano de Lucifer
Hermano de Lucifer
Mensajes: 3466
Registrado: 05 Nov 2019, 15:25
Has thanked: 1120 times
Been thanked: 571 times

Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por Popopo »

cacharreo escribió: 04 Abr 2022, 21:25 A propósito de los PPTC y si hacéis pruebas en este sentido, atención porque la temperatura que alcanzan es alta y pueden quemar.
¿Quemar? ¿no debería quedar en abierto al superar los margenes de trabajo? Si queman ellos, ¿cómo saber que protegen lo que hay detrás?
Responder

Volver a “Proyectos de hardware abiertos”