Va de Retro DRAM tester [v2.00]

Proyectos de hardware con sus esquemáticos y si llevan software en fuente

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Aquí solo tienen cabida proyectos de hardware que incluyan siempre al menos sus esquemáticos para poder reproducirlos si llevan componentes electrónicos, y si es posible los ficheros del programa en que se hacen, los diseños de las placas, los gerber, etc. Si llevan algún tipo de software asociado debe estar diponible el código fuente

Para los que no cumplen estas condiciones se debe postear en el foro de proyectos generales.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por cacharreo »

geloalex escribió: 21 Abr 2022, 12:25Estoy desacuerdo ,sin la caja cuela bien ,pero con la caja la pantalla desluce un poco el conjunto ...
No va a ser problema, una vez hecho el diseño 3D de la caja no es nada complejo tapar el hueco de donde esté la pantalla y abrir otro en cualquier lugar que quepa. Por dar un ejemplo, podría ubicarse inclinada sobre la botonera:

Imagen

aunque requiere que por dentro se lleven señales y alimentación con cables desde J1 a la parte posterior de la pantalla, nada del otro mundo.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por geloalex »

perfecto ...por eso ya sabemos que no hay problema
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por Popopo »

Hola,
Para aquellos que no lo conozcais Noel publicó unos cuantos análisis de algunos tester del mercado. Voy a recopilar aquí tanto los análisis suyos como los de otros que vaya viendo por internet a fin de tener en cuenta y aprender de las experiencias y comentarios de otros.

Publicaré en el primer post este mensaje con los vídeos para tenerlos más a mano por tener cierta información a tener en cuenta en las pruebas o sugerencias de mejoras, modificación o añadido.

Arduino DRAM tester: www.youtube.com/watch?v=0x9EOhDEzPw
Retro Chip Tester Pro: www.youtube.com/watch?v=_99HNsxgLRw
Backbit Chip Tester Pro: www.youtube.com/watch?v=D8gNRMAa2g8&t=124s

Ejemplo de un IC de memoria muy puñetero:
www.youtube.com/watch?v=riNLmstDAVA

Comentarios sobre la durezca del Arduino nano contra ICs con cortos (que no usan 12v):
www.youtube.com/watch?v=YsryWKLiRw4

Vídeo explicativo sobre el DRAM tester M.G. Rev.4, hecho con Arduino: www.youtube.com/watch?v=6ZYXpy-wbBo
Última edición por Popopo el 19 May 2022, 00:34, editado 3 veces en total.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por cacharreo »

Popopo escribió: 22 Abr 2022, 12:58Retro Chip tester
Backbit Chip Tester Pro es el nombre completo y tengo algunas matizaciones pendientes para evitar confusiones. En primer lugar aclarar que sí comprueba las 4116 pero con el correspondiente adaptador ($16), también que el conjunto de adaptadores completo suma unos $64 adicionales y que las pinzas para integrados -estandarizadas y que pueden servir para otras muchas tareas- para los tests in-board suman otros $168.

De los comentarios de Noel también me han llamado la atención los relativos al codificador rotatorio (como se llame en español el "rotary encoder") y, en especial, el que hacía sobre la importancia de que las tiras de pines con los voltajes estén desconectadas antes del test en sí. ¿Cómo veis esto último? ¿es realmente necesario o tan importante? Para nuestro tester no sería nada complicado si tuviéramos las señales de control libres, se solucionaría añadiendo un conmutador (p.e. relé/interruptor analógico/MOSFET/IGBT) en cada línea que se necesite (-5V, +5V, +12V,...), por cada tensión supone un transistor y un par de resistencias adicionales a lo sumo.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por Popopo »

cacharreo escribió: 22 Abr 2022, 17:06los voltajes estén desconectadas antes del test en sí. ¿Cómo veis esto último? ¿es realmente necesario o tan importante? Para nuestro tester no sería nada complicado si tuviéramos las señales de control libres, se solucionaría añadiendo un conmutador (p.e. relé/interruptor analógico/MOSFET/IGBT) en cada línea que se necesite (-5V, +5V, +12V,...), por cada tensión supone un transistor y un par de resistencias adicionales a lo sumo.
Es algo que indiqué desde prácticamente cuando empezamos a cosas a tener en cuenta en el diseño (no pocas veces). Es más, lo daba por hecho. Veo que me equivoqué, así que mi respuesta es... si, pienso que es importante sino sube el precio más allá de unos céntimos. ¿no lo ves necesario? como siempre, son cosas que pueden ser opcionales.

¿se puede fastidiar una memoria que se inserte y tenga esa tensión ya al conectarse? si se conecta mal... lo veo factible. No sé, es algo que desde luego tenía en cuenta. Sino lo has metido que tienes más experiencia es que igual no es importante.

El circuito tal y como está, alimenta el integrado a probar ZIF con la tensión que le llega desde el Nano, por tanto ¿es posible que sea el nano quien configure la tensión de salida de uno de sus pines a +5 al darle a testear?
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por cacharreo »

Popopo escribió: 22 Abr 2022, 17:49Es más, lo daba por hecho. Veo que me equivoqué, así que mi respuesta es... si, pienso que es importante sino sube el precio más allá de unos céntimos. ¿no lo ves necesario? como siempre, son cosas que pueden ser opcionales.
...
¿se puede fastidiar una memoria que se inserte y tenga esa tensión ya al conectarse? si se conecta mal... lo veo factible. No sé, es algo que desde luego tenía en cuenta. Sino lo has metido que tienes más experiencia es que igual no es importante.
Veo diferente no tener alimentación en el zócalo ZIF, que no la hay hasta que se hacen los puentes desde J3 a J4, que no tener tensiones en J3 que es donde veo que Noel medía con el multímetro. Teniendo claro que antes de hacer un tests o colocar una memoria, no debe haber conexiones entre J3 y J4 puede ser suficientemente seguro y además, como decía, no tenemos señales para controlar los interruptores digitales.

Por otra parte, consideremos el peor de los casos tal como lo plantea Noel, ¿qué ocurriría si intencional o involuntariamente se desplazara una memoria en el zócalo ZIF? Teniendo en cuenta que físicamente sólo es posible desplazarlas hacia abajo, tenemos dos casos diferentes, las 4116 y el resto. Para el resto, no pasaría nada porque un desplazamiento de N (1<=N<=4) pines sólo supone conectar Vcc a otra entrada de chip, cualquiera de estas entradas acepta sin problemas Vcc igual que si la conectaramos a una salida con un estado lógico alto. las 4116 son más peculiares porque tienen -5V y +12V. Como solo es posible desplazar el chip hacia abajo, los -5V quedaría o conectados al pin 1 o desconectados; ahí no habría problema, por lo que sólo tenemos que ver qué pasaría con los +12V. Un desplazamiento de N pines supone conectar los +12V tantos pines más arriba, según las hojas de datos por encima de +7V estas entradas no funcionarían y el máximo absoluto es de +20V por lo que, al menos sobre el papel, sobrevivirían al error.
Popopo escribió: 22 Abr 2022, 17:49El circuito tal y como está, alimenta el integrado a probar ZIF con la tensión que le llega desde el Nano, por tanto ¿es posible que sea el nano quien configure la tensión de salida de uno de sus pines a +5 al darle a testear?
En esta parte me he perdido, no entiendo bien lo que quieres decir (pero el Nano no alimenta nada).
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por Popopo »

cacharreo escribió: 22 Abr 2022, 17:55 En esta parte me he perdido, no entiendo bien lo que quieres decir (pero el Nano no alimenta nada).
La tensión del tester por donde entra es por el Nano, ¿no? el Nano tiene unos pines dedicados a sacar +5v. ¿son configurables? es decir, ¿puedo hacer que alguno de esos pines de los +5v en función de la configuración?
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por Gomas48K »

geloalex escribió: 20 Abr 2022, 19:56 Tapa los botones y deja agujeros de 6mm para ponerle capuchones , o sino , deja agujeros para los botones extralargos para que solo asome el vastago del pulsador.... yo tanto como si hago caja como si no le pondre capuchones como a todo lo que monto. como estos https://es.aliexpress.com/item/1005002889668933.html
La verdad, que no conocía esos botones... y me has animado a ponelos en todos los "cacharros" que tengo con los pulsadores al aire!!! gracias!!!
cacharreo escribió: 20 Abr 2022, 20:06 Los agujeros están pensados para capuchones o tapas alargadas con las esquinas redondeadas parecidas a estas que son más cómodas que las cilíndricas y no se mueven más que para arriba y abajo:

Imagen
Si fuera complicado hacer el hueco redondeado en la impresión 3D, se puede usar los botones que ha mencionado @geloalex, que son muy chulos!!!
geloalex escribió: 21 Abr 2022, 12:00 Se ve muy bien ... opino que el tema de poner la pantalla cuadrada le va a dar algo mas de presencia y va a ocupar esos espacios vacíos en la carcasa.... y no que se vea la pantalla allí arriba en la esquina.
Estéticamente me refiero... por lo demás se ve muy bien.
Soy de la misma opinión.
En este diseño de carcasa (con la pantalla en la parte superior izquierda), se ve mucho mas bonito estéticamente una pantalla de 0.96" e incluso una de 1.3"
El coste extra que puede suponer, estoy seguro, que no le importará a nadie que decida la opción de la caja.

Imagen

Eso si... en la opción con la pantalla encima de los pulsadores, la verdad que queda muy bien la pantalla estrecha.

Imagen
Popopo escribió: 22 Abr 2022, 12:58 Hola,
Para aquellos que no lo conozcais Noel publicó unos cuantos análisis de algunos tester del mercado. Voy a recopilar aquí tanto los análisis suyos como los de otros que vaya viendo por internet a fin de tener en cuenta y aprender de las experiencias y comentarios de otros.
Si he visto algun video de Noel.
Buena recopilación, gracias!
cacharreo escribió: 22 Abr 2022, 17:06 ... la importancia de que las tiras de pines con los voltajes estén desconectadas antes del test en sí. ¿Cómo veis esto último? ¿es realmente necesario o tan importante? Para nuestro tester no es nada complicado añadiendo un conmutador (p.e. MOSFET/IGBT) en cada línea que se necesite (-5V, +5V, +12V,...), por cada tensión supone un transistor y un par de resistencias adicionales a lo sumo.
Yo creo que no es necesario... Además, cuando pones en el Zif algún componente de esos "churrascaos" que están en corto... ya aprecias que tira de consumo cuando se queja el convertidor DC-DC. :))
Popopo escribió: 22 Abr 2022, 17:49 ¿se puede fastidiar una memoria que se inserte y tenga esa tensión ya al conectarse?
Hombre... ya si se mete mal en el ZIF, ya es otro tema... que recuerde, nunca he llegado a meter al revés una memoria para comprobarlo... pero hay posibilidades que se "churrasque"... y total, si la metes al reves, te vas a dar cuenta cuando de error, que ya has saltado todas las posibles protecciones posibles puestas... no se...
Popopo escribió: 22 Abr 2022, 17:49 El circuito tal y como está, alimenta el integrado a probar ZIF con la tensión que le llega desde el Nano, por tanto ¿es posible que sea el nano quien configure la tensión de salida de uno de sus pines a +5 al darle a testear?
EN PROCESO...........
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por Gomas48K »

cacharreo escribió: 22 Abr 2022, 17:55 ... Teniendo claro que antes de hacer un tests o colocar una memoria, no debe haber conexiones entre J3 y J4 puede ser suficientemente seguro.
Tambien hay que tener en cuenta, que si estas verificando varias Dram del mismo tipo, no quitas los puentes de J4... ya metes la memoria en el ZIF directamente.

Te saltas ese paso, aunque fuera lo técnicamente correcto, pasas al lado practico.
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Re: Test de Memorias 4116, 4164 y 41464 - NEWS

Mensaje por cacharreo »

Popopo escribió: 22 Abr 2022, 18:44La tensión del tester por donde entra es por el Nano, ¿no? el Nano tiene unos pines dedicados a sacar +5v. ¿son configurables? es decir, ¿puedo hacer que alguno de esos pines de los +5v en función de la configuración?
Ahora te comprendo, yo hablaba solo de los pines de E/S que son los que se pueden manipular por software. El tester (al igual que el Nano) se alimenta de los +5V que vienen directamente del regulador AMS1117 5.0 que a su vez los toma del puerto USB, esa conexión es una pista física en la placa del Nano.
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